[發明專利]軟包電芯噴膠質量檢測方法、裝置、電子設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202110796602.2
• 申請日: 2021-07-14
• 公開（公告）號: CN113706456A
• 公開（公告）日: 2021-11-26
• 發明（設計）人: 吳軒;冉昌林;熊五岳;劉超
• 申請（專利權）人: 武漢逸飛激光股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T5/00;G06N3/04;G06N3/08
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 張睿

1.一種軟包電芯噴膠質量檢測方法，其特征在于，包括：

獲取進行噴膠后的目標軟包電芯的原始圖像；

對所述原始圖像進行校正，獲得校正圖像，使得所述校正圖像中的所述目標軟包電芯處于預設的基準方向；

對所述校正圖像進行目標識別，確定所述校正圖像中的噴膠區域；

基于所述校正圖像中的噴膠區域，獲取所述目標軟包電芯的噴膠質量檢測結果。

2.根據權利要求1所述的軟包電芯噴膠質量檢測方法，其特征在于，所述基于所述校正圖像中的噴膠區域，獲取所述目標軟包電芯的噴膠質量檢測結果，具體包括：

基于所述校正圖像中的噴膠區域，確定噴膠的尺寸信息和/或位置信息；

基于所述噴膠的尺寸信息和/或位置信息，獲取所述目標軟包電芯的噴膠質量檢測結果。

3.根據權利要求1所述的軟包電芯噴膠質量檢測方法，其特征在于，所述基于所述校正圖像中的噴膠區域，獲取所述目標軟包電芯的噴膠質量檢測結果，具體包括：

基于所述校正圖像中的噴膠區域的各像素值，獲取所述目標軟包電芯的噴膠質量檢測結果。

4.根據權利要求1至3任一所述的軟包電芯噴膠質量檢測方法，其特征在于，所述基于所述校正圖像中的噴膠區域，獲取所述目標軟包電芯的噴膠質量檢測結果，具體包括：

將所述噴膠區域的數量與預設的目標數量進行比較，根據比較結果獲取所述目標軟包電芯的噴膠質量檢測結果。

5.根據權利要求2所述的軟包電芯噴膠質量檢測方法，其特征在于，基于所述噴膠的尺寸信息，獲取所述目標軟包電芯的噴膠質量檢測結果，具體包括：

將所述噴膠的尺寸信息中的長度和寬度分別與預設的目標長度和目標寬度進行比較，根據比較結果獲取所述目標軟包電芯的噴膠質量檢測結果。

6.根據權利要求2所述的軟包電芯噴膠質量檢測方法，其特征在于，基于所述噴膠的位置信息，獲取所述目標軟包電芯的噴膠質量檢測結果，具體包括：

將所述噴膠的位置信息與預設的噴膠位置進行比較，根據比較結果獲取所述目標軟包電芯的噴膠質量檢測結果。

7.根據權利要求3所述的軟包電芯噴膠質量檢測方法，其特征在于，所述基于所述校正圖像中的噴膠區域的各像素值，獲取所述目標軟包電芯的噴膠質量檢測結果，具體包括：

將所述校正圖像中的噴膠區域的各像素值與目標像素值區間進行比較，根據比較結果獲取所述目標軟包電芯的噴膠質量檢測結果。

8.一種軟包電芯噴膠質量檢測裝置，其特征在于，包括：

圖像獲取模塊，用于獲取進行噴膠后的目標軟包電芯的原始圖像；

圖像校正模塊，用于對所述原始圖像進行校正，獲得校正圖像，使得所述校正圖像中的所述目標軟包電芯處于預設的基準方向；

區域檢測模塊，用于對所述校正圖像進行目標識別，確定所述校正圖像中的噴膠區域；

質量檢測模塊，用于基于所述校正圖像中的噴膠區域，獲取所述目標軟包電芯的噴膠質量檢測結果。

9.一種電子設備，包括存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述程序時實現如權利要求1至7任一項所述的軟包電芯噴膠質量檢測方法的步驟。

10.一種非暫態計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至7任一項所述的軟包電芯噴膠質量檢測方法的步驟。