[發(fā)明專利]一種光模塊測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110791816.0
• 申請日: 2021-07-13
• 公開（公告）號: CN113259000B
• 公開（公告）日: 2022-03-04
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 金海亮;王四俊;熊福勝;伍林;張向輝;具佶勛
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市力子光電科技有限公司
• 主分類號: H04B10/079
• 分類號: H04B10/079
• 代理公司: 深圳智匯遠(yuǎn)見知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44481
• 代理人: 劉潔;牛悅涵

1.一種光模塊測試裝置，其特征在于，所述光模塊測試裝置作為QSFPDD測試板，包括：PRBS偽隨機(jī)碼產(chǎn)生電路模塊、PRBS偽隨機(jī)碼檢查校驗?zāi)K和光模塊接口電路模塊；

所述PRBS偽隨機(jī)碼產(chǎn)生電路模塊，用于產(chǎn)生PRBS偽隨機(jī)數(shù)據(jù)包；

所述光模塊接口電路模塊，用于與光模塊連接，并將所述PRBS偽隨機(jī)碼產(chǎn)生電路模塊產(chǎn)生的PRBS偽隨機(jī)數(shù)據(jù)包輸出給光模塊，以通過所述光模塊將所述PRBS偽隨機(jī)數(shù)據(jù)包轉(zhuǎn)換為光信號，以及將所述光模塊接收的光信號轉(zhuǎn)換為PRBS偽隨機(jī)碼校驗數(shù)據(jù)包，并傳輸給所述PRBS偽隨機(jī)碼檢查校驗?zāi)K；

所述PRBS偽隨機(jī)碼檢查校驗?zāi)K，用于分析所述PRBS偽隨機(jī)數(shù)據(jù)包與所述PRBS偽隨機(jī)碼校驗數(shù)據(jù)包之間的差異，計算誤碼率；

其中，所述光模塊接口電路模塊包括TX接口模塊和RX接口模塊；所述TX接口模塊的一端連接所述PRBS偽隨機(jī)碼產(chǎn)生電路模塊，所述TX接口模塊的另一端用于連接所述光模塊；所述RX接口模塊的一端連接所述PRBS偽隨機(jī)碼檢查校驗?zāi)K，所述RX接口模塊的另一端用于接收光模塊的信號；

所述PRBS偽隨機(jī)碼產(chǎn)生電路模塊包含8通道信號輸出口，且所述8通道信號輸出口分別與所述TX接口模塊中的8個TX接口一一對應(yīng)連接，所述8個TX接口用于傳輸所述PRBS偽隨機(jī)碼產(chǎn)生電路模塊輸出的8通道光信號；

所述PRBS偽隨機(jī)碼檢查校驗?zāi)K包含8通道信號輸入口，且所述8通道信號輸入口分別與所述RX接口模塊中的8個RX接口一一對應(yīng)連接；所述RX接口模塊具體用于將所述光模塊接收的光信號轉(zhuǎn)換為PRBS偽隨機(jī)碼校驗數(shù)據(jù)包，并通過所述8個RX接口，將所述PRBS偽隨機(jī)碼校驗數(shù)據(jù)中包含的8通道數(shù)據(jù)包校驗信號傳輸給所述PRBS偽隨機(jī)碼檢查校驗?zāi)K。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光模塊測試裝置，其特征在于，還包括：MCU控制電路模塊；

所述MCU控制電路模塊，用于控制所述PRBS偽隨機(jī)碼產(chǎn)生電路模塊輸出所述PRBS偽隨機(jī)數(shù)據(jù)包，以及控制所述PRBS偽隨機(jī)碼檢查校驗?zāi)K分析所述PRBS偽隨機(jī)數(shù)據(jù)包與所述PRBS偽隨機(jī)碼校驗數(shù)據(jù)包之間的差異。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光模塊測試裝置，其特征在于，還包括與所述MCU控制電路模塊連接的通信電路模塊；

所述通信電路模塊用于與上位機(jī)進(jìn)行通信連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光模塊測試裝置，其特征在于，所述通信電路模塊包括：通用串行總線接口和通信轉(zhuǎn)換芯片；

所述通信轉(zhuǎn)換芯片的一端與所述通用串行總線接口連接，所述通信轉(zhuǎn)換芯片的另一端與MCU控制電路模塊連接。