[發明專利]一種GOA面板靜電損壞的分析方法、改善結構及改善方法在審
| 申請號： | 202110786294.5 | 申請日： | 2021-07-12 |
| 公開（公告）號： | CN113568199A | 公開（公告）日： | 2021-10-29 |
| 發明（設計）人： | 王瑞生;劉福知 | 申請（專利權）人： | 信利（仁壽）高端顯示科技有限公司 |
| 主分類號： | G02F1/13 | 分類號： | G02F1/13;G02F1/133;G02F1/1345;G09G3/00;G09G3/36;H05F3/00 |
| 代理公司： | 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102 | 代理人： | 劉愛珍 |
| 地址： | 620500 四*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 goa 面板 靜電 損壞 分析 方法 改善 結構 | ||
1.一種GOA面板靜電損壞的分析方法，其特征在于，包括如下步驟：
步驟100：驅動點亮待檢GOA面板；
步驟200：根據待檢GOA面板上顯示不良的情況，確定是否為外圍區域上的柵驅動電路發生損壞，若是則進行步驟300；
步驟300：根據待檢GOA面板上顯示不良的位置，確定外圍區域上的柵驅動電路損壞的大致區域；
步驟400：放大觀察柵驅動電路損壞的大致區域，以確定柵驅動電路損壞的準確位置。
2.根據權利要求1所述的GOA面板靜電損壞的分析方法，其特征在于，在步驟200中，根據待檢GOA面板上顯示不良的情況，確定是否為外圍區域上的柵驅動電路發生損壞的步驟如下：
步驟201：根據待檢GOA面板的宏觀顯示情況，確定顯示不良區域；
步驟202：放大觀察顯示不良區域的微觀顯示情況，確定顯示不良子像素；
步驟203：根據顯示不良子像素的情況，確定是否為外圍區域上的柵驅動電路發生損壞。
3.根據權利要求2所述的GOA面板靜電損壞的分析方法，其特征在于，在步驟202中，通過光學顯微鏡放大觀察顯示不良區域的微觀顯示情況。
4.根據權利要求2所述的GOA面板靜電損壞的分析方法，其特征在于，在步驟203中，若同一條Gate線上的所有子像素均顯示不良，則可確定為外圍區域上的柵驅動電路發生損壞。
5.根據權利要求1所述的GOA面板靜電損壞的分析方法，其特征在于，在步驟400中，柵驅動電路損壞的準確位置包括損壞點和損壞膜層，其中放大觀察柵驅動電路損壞的大致區域，以確定柵驅動電路損壞的準確位置的具體步驟如下：
步驟401：放大觀察柵驅動電路損壞的大致區域，以確定柵驅動電路的損壞點；
步驟402：繼續放大觀察柵驅動電路的損壞點，并逐層剝離觀察損壞點的功能膜層，以確定柵驅動電路的損壞膜層；
步驟403：對柵驅動電路的損壞膜層進行切片，以確定柵驅動電路的損壞原因是否為靜電損傷。
6.根據權利要求5所述的GOA面板靜電損壞的分析方法，其特征在于，在步驟401中，通過光學顯微鏡來放大觀察柵驅動電路損壞的大致區域。
7.根據權利要求5所述的GOA面板靜電損壞的分析方法，其特征在于，在步驟402中，通過FIB設備來繼續放大觀察柵驅動電路的損壞點，以及逐層剝離觀察損壞點的功能膜層。
8.一種GOA面板的改善結構，包括大板面板，其特征在于，所述大板面板包括多個面板區域以及設置于相鄰面板區域之間廢料區域，每個面板區域對應于一個GOA面板并制作有柵驅動電路；所述廢料區上設置有至少一條靜電引導線，每條靜電引導線均與至少兩個面板區域中的柵驅動電路相連接。
9.根據權利要求8所述的GOA面板的改善結構，其特征在于，所述靜電引導線與所述柵驅動電路中導通孔內的ITO層連接。
10.一種GOA面板的改善方法，其特征在于，包括如下步驟：
步驟一：制作權利要求8或9中所述的GOA面板的改善結構；
步驟二：對所述大板面板進行切割，將各個面板區域與所述廢料區域剝離，以形成GOA面板。
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