[發明專利]陀螺儀零偏補償方法、裝置、設備及存儲設備

在審

• 申請號: 202110786138.9
• 申請日: 2021-07-12
• 公開（公告）號: CN115615453A
• 公開（公告）日: 2023-01-17
• 發明（設計）人: 張永斌;廖興才;湯一;韓雪飛;王松杰
• 申請（專利權）人: 北京晨晶電子有限公司
• 主分類號: G01C25/00
• 分類號: G01C25/00
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 王宇楊

本發明提供一種陀螺儀零偏補償方法、裝置、設備及存儲設備。通過監測陀螺儀在工作時的工作溫度值T、AGC數據AGC_Original和原始零偏Gy_Orginal，使用目標零偏擬合系數Para_Bias，采用公式確定工作溫度值T對原始零偏產生的第一零偏誤差；使用AGC目標擬合系數Para_AGC，采用公式確定工作溫度值對AGC數據AGC_Original產生的AGC誤差；利用AG誤差，采用公式確定AGC誤差產生的第二零偏誤差；采用公式對原始零偏進行零偏補償以得到目標零偏，進而輸出目標零偏Gy_Final。

技術領域

本發明涉及計算機技術領域，尤其涉及一種陀螺儀零偏補償方法、裝置、設備及存儲設備。

背景技術

陀螺儀是用高速振動質量塊和柯氏力敏感載體相對慣性空間繞正交于自轉軸的一個或二個軸的角運動檢測裝置。利用其他原理制成的角運動檢測裝置起同樣功能的也稱陀螺儀。

陀螺儀使用也會存在一定程度的問題。比如陀螺儀的零偏角速度(零偏角速度：NRi，零偏或零位角速度是指陀螺儀在零輸入角速度情況下的輸出值，可用較長時間內輸出的均值等效折算為輸入角速度來表示)會隨著運行的溫度和運動的變化產生漂移。

因此，陀螺儀的零偏補償是提高陀螺儀精度的重要手段之一，在陀螺儀結構和電路不發生變化的情況下，通過補償算法提高陀螺儀的精度始終是陀螺研究的重要目標之一。

發明內容

本發明提供一種陀螺儀零偏補償方法、裝置、設備及存儲設備，用以解決現有技術中陀螺儀零偏補償精度不高的缺陷，實現高精度的陀螺儀零偏補償方案。

本發明提供一種陀螺儀零偏補償方法，包括：

獲取所述陀螺儀運行產生的至少一組溫度數據、AGC數據和零偏數據；

利用所述溫度數據對所述零偏數據進行數據擬合以得到目標零偏擬合系數，所述目標零偏擬合系數用于確定所述陀螺儀工作時的工作溫度值對原始零偏產生的第一零偏誤差；

利用所述溫度數據對所述AGC數據進行數據擬合以得到AGC目標擬合系數，所述AGC目標擬合系數用于確定所述陀螺儀工作時的工作溫度值對AGC信號產生的AGC誤差，和所述AGC誤差對所述原始零偏產生的第二零偏誤差，以便利用所述第一零偏誤差和第二零偏誤差對所述原始零偏進行誤差補償。

根據本發明提供的一種陀螺儀零偏補償方法，所述至少一組溫度數據、AGC數據和零偏數據包括：

升溫階段的第一溫度數據Gy_T_Up、第一AGC數據AGC_Up和第一零偏數據Gy_Up，及降溫階段的第二溫度數據Gy_T_Down、第二AGC數據AGC_Down和第二零偏數據Gy_Down；則

利用所述溫度數據對所述零偏數據進行數據擬合以得到目標零偏擬合系數，包括：

利用所述第一溫度數據Gy_T_Up對所述第一零偏數據Gy_Up進行數據擬合以得到第一零偏擬合系數Para_Bias_Up；

利用所述第二溫度數據Gy_T_Down對所述第二零偏數據Gy_Down進行數據擬合以得到第二零偏擬合系數Para_Bias_Down；

計算所述第一零偏擬合系數Para_Bias_Up和第二零偏擬合系數Para_Bias_Down的平均值以得到所述目標零偏擬合系數Para_Bias；則

利用所述溫度數據對所述AGC數據進行數據擬合以得到AGC目標擬合系數，包括：

利用所述第一溫度數據Gy_T_Up對所述第一AGC數據AGC_Up進行數據擬合以得到第一AGC擬合系數Para_AGC_Up；

利用所述第二溫度數據Gy_T_Down對所述第二AGC數據AGC_Down進行數據擬合以得到第二AGC擬合系數Para_AGC_Down；