[發(fā)明專利]一種薄壁軸承試驗裝置

在審

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• 申請日: 2021-07-07
• 公開（公告）號: CN113532856A
• 公開（公告）日: 2021-10-22
• 發(fā)明（設計）人: 吳占濤;宋立杰;程軍圣;李寶慶;段誠成
• 申請（專利權）人: 湖南大學
• 主分類號: G01M13/04
• 分類號: G01M13/04
• 代理公司: 杭州知學知識產權代理事務所(普通合伙) 33356
• 代理人: 何紅信

1.一種薄壁軸承試驗裝置，包括內圈裝配器、外圈裝配器、驅動器和加載器，所述驅動器的輸出軸與所述內圈裝配器連接，并且，所述驅動器通過所述輸出軸驅動所述內圈裝配器旋轉，所述加載器的加載桿通過關節(jié)軸承與所述外圈裝配器連接，并且，所述加載桿通過關節(jié)軸承向所述外圈裝配器傳遞動力，待測軸承的外圈與所述外圈裝配器過盈配合，待測軸承的內圈與所述內圈裝配器過盈配合，其特征在于：所述內圈裝配器包括圓盤，所述圈盤上設置有與待測軸承內圈配合且具有彈性形變能力的配合環(huán)，所述配合環(huán)上均布有使所述配合環(huán)易于產生彈性形變的開口，所述圓盤上還設置有絲桿，所述絲桿與所述圓盤同軸設置，所述絲桿與所述配合環(huán)同軸設置，所述絲桿完全位于所述配合環(huán)內，所述絲桿上設置有支撐盤，所述支撐盤上設置有與所述絲桿配合的螺孔，調節(jié)所述支撐盤相對于絲桿的位置，所述支撐盤使所述配合環(huán)具有不同的外徑。

2.根據(jù)權利要求1所述的一種薄壁軸承試驗裝置，其特征在于：所述配合環(huán)的內壁具有第一斜面，所述支撐盤上設置有與所述第一斜面配合的第二斜面，調節(jié)支撐盤相對于絲桿的位置，所述第二斜面與所述第一斜面的不同位置接觸，以使所述配合環(huán)具有不同的外徑。

3.根據(jù)權利要求2所述的一種薄壁軸承試驗裝置，其特征在于：所述絲桿與所述圓盤為一體式結構，所述支撐盤上設置有便于旋轉所述支撐盤的操作部。

4.根據(jù)權利要求3所述的一種薄壁軸承試驗裝置，其特征在于：所述操作部為設置于所述支撐盤上的通孔，所述通孔至少有兩個，并且，所述通孔均布于所述支撐盤上，所述通孔的軸線與所述支撐盤的軸線同軸。

5.根據(jù)權利要求4所述的一種薄壁軸承試驗裝置，其特征在于：所述圓盤上設置有法蘭體，所述圓盤通法蘭體與所述輸出軸連接。

6.根據(jù)權利要求5所述的一種薄壁軸承試驗裝置，其特征在于：所述外圈裝配器包括盤體以及設置于所述盤體上的卡體，所述盤體與所述卡體為一體式結構，所述卡體設置有與待測軸承外圈配合的配合面，每個所述卡體上設置有至少兩個所述配合面。

7.根據(jù)權利要求6所述的一種薄壁軸承試驗裝置，其特征在于：所述盤體位于所述卡體與所述關節(jié)軸承之間。

8.根據(jù)權利要求7所述的一種薄壁軸承試驗裝置，其特征在于：所述卡體至少有三個，相鄰兩個所述卡體之間的夾角相等。