[發明專利]光檢測設備

在審

• 申請號: 202110779535.3
• 申請日: 2015-12-07
• 公開（公告）號: CN113658968A
• 公開（公告）日: 2021-11-16
• 發明（設計）人: 町田貴志;山下和芳
• 申請（專利權）人: 索尼公司
• 主分類號: H01L27/146
• 分類號: H01L27/146;H01L23/522;H01L27/14;H04N5/232;H04N5/355;H04N5/369;H04N5/374;H04N5/378
• 代理公司: 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290
• 代理人: 衛李賢;曹正建

1.一種光檢測設備，包括：

光電轉換區；

傳輸晶體管，所述傳輸晶體管被配置為將來自所述光電轉換區的電荷傳輸到電荷-電壓轉換部；

開關晶體管，所述開關晶體管配置為選擇性地將電容器的電容添加到所述電荷-電壓轉換部的電容；以及

配線層，所述配線層包括：

第一電極，所述第一電極連接到所述開關晶體管；和

第二電極，所述第二電極與所述第一電極相對，所述第二電極包括第一部分和第二部分，

其中，所述電容器包括所述第一電極和所述第二電極，且

其中，所述第二電極的所述第一部分和所述第一電極之間的第一距離與所述第二電極的所述第二部分和所述第一電極之間的第二距離不同。

2.根據權利要求1所述的光檢測設備，其中，所述第一電極和所述第二電極位于不同的層中。

3.根據權利要求1所述的光檢測設備，其中，所述第一距離大于所述第二距離。

4.根據權利要求2所述的光檢測設備，其中，所述第一電極在垂直方向上設置在所述第二電極上方。

5.根據權利要求1所述的光檢測設備，其中，連接到所述電荷-電壓轉換部的配線的觸頭區位于所述開關晶體管和復位晶體管之間。

6.根據權利要求1所述的光檢測設備，其中，在平面圖中，所述第一電極包括具有長方形的部分。

7.根據權利要求1所述的光檢測設備，其中，所述第二電極連接到預定電勢。

8.一種光檢測設備，包括：

光電轉換區；

傳輸晶體管，所述傳輸晶體管被配置為將來自所述光電轉換區的電荷傳輸到電荷-電壓轉換部；

開關晶體管，所述開關晶體管配置為選擇性地將電容器的電容添加到所述電荷-電壓轉換部的電容；

放大晶體管，所述放大晶體管配置為輸出像素信號；以及

配線層，所述配線層包括：

第一電極，所述第一電極連接到所述開關晶體管；

第二電極，所述第二電極與所述第一電極相對；和

第三電極，所述第三電極連接到所述傳輸晶體管，

其中，所述電容器包括所述第一電極和所述第二電極，且

其中，所述第一電極與所述第三電極不同。

9.根據權利要求8所述的光檢測設備，其中，連接到所述電荷-電壓轉換部的配線的觸頭區位于所述開關晶體管和復位晶體管之間。

10.根據權利要求8所述的光檢測設備，其還包括選擇晶體管。

11.根據權利要求9所述的光檢測設備，其中，所述開關晶體管、所述電荷-電壓轉換部、所述復位晶體管和所述放大晶體管全都共用相同的阱區。

12.根據權利要求9所述的光檢測設備，其中，所述開關晶體管、連接到所述電荷-電壓轉換部的所述配線的所述觸頭區、所述復位晶體管和所述放大晶體管按照該順序布置。

13.根據權利要求8所述的光檢測設備，其中，所述第一電極的一部分在平面圖中具有長方形。

14.根據權利要求8所述的光檢測設備，其中，所述第二電極連接到預定電勢。