[發(fā)明專利]一種可見瞬態(tài)吸收光譜測量系統(tǒng)及方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110779442.0 | 申請日: | 2021-07-09 |
| 公開(公告)號: | CN113686782B | 公開(公告)日: | 2023-05-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 于志浩;朱慶業(yè);鄭俊榮 | 申請(專利權(quán))人: | 北京大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01;G01N21/31 |
| 代理公司: | 北京天悅專利代理事務(wù)所(普通合伙) 11311 | 代理人: | 田明;任曉航 |
| 地址: | 100871*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 可見 瞬態(tài) 吸收光譜 測量 系統(tǒng) 方法 | ||
本發(fā)明涉及一種可見瞬態(tài)吸收光譜測量系統(tǒng)及方法,屬于超快光譜技術(shù)領(lǐng)域,系統(tǒng)包括飛秒激光單元、輸出可見泵浦光的光參量放大器、延遲線、超連續(xù)白光產(chǎn)生裝置、樣品探測系統(tǒng)、可見光譜測量系統(tǒng)和計算機控制系統(tǒng),飛秒激光單元產(chǎn)生飛秒脈沖分為兩束,一束經(jīng)延遲線后進入光參量放大器產(chǎn)生可見泵浦光,另一束通過超連續(xù)光產(chǎn)生裝置再經(jīng)分束片分為參比光和探測光;探測光經(jīng)樣品后進入可見光譜系統(tǒng),而參比光直接進入可見光譜系統(tǒng);光譜探測系統(tǒng)中的檢測器同時測量探測光與參比光的光譜形狀與強度。本發(fā)明能夠在相同信噪比的前提下將測量時間縮短一半以上,能夠消除樣品散射光造成的測量誤差,并能夠消除由于超連續(xù)光強度和光譜變化導(dǎo)致的測量誤差。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于超快光譜技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種可見瞬態(tài)吸收光譜測量系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)
近年來,超快光譜技術(shù)憑借其超高的時間分辨率在物理化學(xué)研究中成為了一種重要的表征手段,通過可見瞬態(tài)吸收光譜能夠直觀地表征分子激發(fā)態(tài)的壽命,獲取分子的動力學(xué)信息。
傳統(tǒng)的可見瞬態(tài)吸收光譜使用光學(xué)快門來遮擋泵浦光,如此的設(shè)計使得測量過程中要分別測量樣品在光學(xué)快門打開和關(guān)閉狀態(tài)下的光譜,并通過計算機處理來得到樣品的瞬態(tài)吸收光譜。該測量方法的測量時間較長,且由于沒有參比光路,因此無法消除由于探測光強度和光譜變化引入的誤差。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺陷,本發(fā)明的目的在于提供一種可見瞬態(tài)吸收光譜測量系統(tǒng)及方法,簡化可見瞬態(tài)吸收光測量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu),縮短測量時長,提升測量效率。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下:
一種可見瞬態(tài)吸收光譜測量系統(tǒng),包括飛秒激光單元、超連續(xù)光產(chǎn)生裝置、輸出可見泵浦光的光參量放大器、延遲線、樣品探測系統(tǒng)、可見光譜測量系統(tǒng)和計算機控制系統(tǒng);
所述飛秒激光單元輸出高能量飛秒脈沖,所述高能量飛秒脈沖經(jīng)分光裝置分為第一光脈沖和第二光脈沖;
所述第一光脈沖經(jīng)過所述延遲線和所述輸出泵浦光的光參量放大器后輸出泵浦脈沖;
所述第二光脈沖經(jīng)超連續(xù)光產(chǎn)生裝置后產(chǎn)生超連續(xù)寬譜脈沖,所述超連續(xù)寬譜脈沖再經(jīng)分光裝置后被分為探測脈沖和參考脈沖;
所述探測脈沖和所述泵浦脈沖經(jīng)反射鏡反射后以設(shè)定的幾何關(guān)系聚焦在所述樣品探測系統(tǒng)中的樣品上,所述探測脈沖經(jīng)過所述樣品探測系統(tǒng)后進入所述可見光譜測量系統(tǒng)中,而所述參考脈沖直接進入所述可見光譜測量系統(tǒng)中;
所述計算機控制系統(tǒng)根據(jù)預(yù)設(shè)的間隔控制指令調(diào)整所述延遲線的位置,使得所述探測脈沖先于所述泵浦脈沖到達樣品處,然后讀取所述可見光譜測量系統(tǒng)輸出的所述探測脈沖和所述參考脈沖的光譜形狀和強度,并據(jù)此計算出參考系數(shù);
所述計算機控制系統(tǒng)根據(jù)預(yù)設(shè)的延遲序列,調(diào)整所述延遲線的位置,讀取并處理所述探測脈沖和所述參考脈沖的光譜形狀和強度,然后根據(jù)所述參考系數(shù)、所述探測脈沖和所述參考脈沖光譜數(shù)據(jù)計算樣品在對應(yīng)延遲下的可見瞬態(tài)吸收光譜。
進一步,如上所述的可見瞬態(tài)吸收光譜測量系統(tǒng),所述飛秒激光單元包括飛秒脈沖振蕩器、啁啾脈沖放大系統(tǒng)和激光控制系統(tǒng),所述飛秒脈沖振蕩器產(chǎn)生飛秒脈沖,經(jīng)所述啁啾脈沖放大系統(tǒng)放大后得到所述高能量飛秒脈沖。
進一步,如上所述的可見瞬態(tài)吸收光譜測量系統(tǒng),所述輸出泵浦光的光參量放大器包括輸出可見光的光參量放大器,所述第一光脈沖通過所述輸出可見光的光參量放大器的放大產(chǎn)生波長可調(diào)的泵浦脈沖。
進一步,如上所述的可見瞬態(tài)吸收光譜測量系統(tǒng),所述延遲線包括平移臺控制單元和平移臺,通過調(diào)整所述平移臺的位置,實現(xiàn)對所述探測脈沖與所述泵浦脈沖到達所述樣品處的時間間隔控制。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
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G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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