[發(fā)明專利]檢查系統(tǒng)及方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110777904.5
• 申請(qǐng)日: 2021-07-09
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113238298B
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-03-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉必成;王偉珍;宗春光;孫尚民
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 同方威視技術(shù)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01V11/00
• 分類號(hào): G01V11/00
• 代理公司: 中國(guó)貿(mào)促會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 11038
• 代理人: 顏鏑

1.一種檢查系統(tǒng)，包括：

射線源（10），被配置為產(chǎn)生多種具有不同能量的射線；

探測(cè)器（30），被配置為檢測(cè)所述射線源（10）發(fā)出的射線作用在被檢對(duì)象（40）的至少一個(gè)截面時(shí)的信號(hào)；和

處理器（20），與所述射線源（10）通訊連接，被配置為根據(jù)表征所述被檢對(duì)象（40）的至少一個(gè)截面的物質(zhì)參數(shù)的信息調(diào)整所述射線源（10）發(fā)出的射線的能量，

其中，所述射線源（10）包括：

電子束產(chǎn)生裝置（12），被配置為產(chǎn)生多個(gè)電子束；

微波產(chǎn)生裝置（14），被配置為產(chǎn)生微波；

微波環(huán)行器（15），具有功率輸入口和至少兩個(gè)功率輸出口，所述功率輸入口通過(guò)波導(dǎo)結(jié)構(gòu)與所述微波產(chǎn)生裝置（14）連接；

多個(gè)加速管（13），與所述電子束產(chǎn)生裝置（12）連接，并分別與所述至少兩個(gè)功率輸出口連接，被配置為分別接收所述電子束產(chǎn)生裝置（12）產(chǎn)生的多個(gè)電子束，并通過(guò)從所述至少兩個(gè)功率輸出口接收的微波分別對(duì)所述多個(gè)電子束進(jìn)行加速，以便分別產(chǎn)生多條具有不同能量的射線；和

控制器（11），與所述處理器（20）、所述電子束產(chǎn)生裝置（12）和所述微波產(chǎn)生裝置（14）信號(hào)連接，被配置為根據(jù)所述處理器（20）的指令，對(duì)所述微波產(chǎn)生裝置（14）的微波功率進(jìn)行時(shí)序控制，以及對(duì)所述電子束產(chǎn)生裝置（12）產(chǎn)生的分別對(duì)應(yīng)于所述多個(gè)加速管（13）的電子束的束流負(fù)載進(jìn)行時(shí)序控制。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢查系統(tǒng)，其中，所述射線源（10）被配置為根據(jù)所述處理器（20）的指令選擇性地產(chǎn)生具有第一能量的第一射線脈沖、具有第二能量的第二射線脈沖或具有第三能量的第三射線脈沖，所述第一能量小于所述第二能量，所述第二能量小于所述第三能量。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢查系統(tǒng)，其中，所述第一能量小于1MeV，所述第二能量和所述第三能量均大于1MeV。

4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一所述的檢查系統(tǒng)，其中，所述處理器（20）與所述探測(cè)器（30）通訊連接，被配置為根據(jù)所述探測(cè)器（30）的探測(cè)結(jié)果確定表征所述被檢對(duì)象（40）的至少一個(gè)截面的物質(zhì)參數(shù)的信息。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢查系統(tǒng)，其中，表征所述被檢對(duì)象（40）的至少一個(gè)截面的物質(zhì)參數(shù)的信息包括射線穿過(guò)所述被檢對(duì)象（40）且被所述探測(cè)器（30）探測(cè)到的衰減的一列信號(hào)的強(qiáng)度，或根據(jù)該列信號(hào)形成的探測(cè)圖像的灰度值。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢查系統(tǒng)，其中，所述處理器（20）被配置為：

使所述射線源（10）通過(guò)射線脈沖對(duì)所述被檢對(duì)象（40）的多個(gè)截面依次進(jìn)行掃描，并根據(jù)所述探測(cè)器（30）的檢測(cè)信號(hào)確定表征所述被檢對(duì)象（40）的至少一個(gè)截面的物質(zhì)參數(shù)的信息；

如果根據(jù)所述信息確定所述被檢對(duì)象（40）被掃描的當(dāng)前截面的物質(zhì)參數(shù)與所述射線源（10）當(dāng)前發(fā)出的射線脈沖的穿透能力匹配，則使所述射線源（10）以當(dāng)前發(fā)出的射線脈沖繼續(xù)掃描；

如果根據(jù)所述信息確定所述被檢對(duì)象（40）被掃描的當(dāng)前截面的物質(zhì)參數(shù)超出與所述射線源（10）當(dāng)前發(fā)出的射線脈沖的穿透能力匹配的物質(zhì)參數(shù)，則使所述射線源（10）發(fā)出具有更高能量的射線脈沖繼續(xù)掃描；

如果根據(jù)所述信息確定所述被檢對(duì)象（40）被掃描的當(dāng)前截面的物質(zhì)參數(shù)不足于與所述射線源（10）當(dāng)前發(fā)出的射線脈沖的穿透能力匹配的物質(zhì)參數(shù)，則使所述射線源（10）發(fā)出具有更低能量的射線脈沖繼續(xù)掃描。

7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢查系統(tǒng)，其中，所述處理器（20）被配置為：

使所述射線源（10）通過(guò)射線脈沖對(duì)所述被檢對(duì)象（40）的多個(gè)截面依次進(jìn)行掃描，并根據(jù)所述探測(cè)器（30）的檢測(cè)信號(hào)確定表征所述被檢對(duì)象（40）的至少一個(gè)截面的物質(zhì)參數(shù)的信息；

如果根據(jù)所述信息確定所述被檢對(duì)象（40）被掃描的當(dāng)前截面的物質(zhì)參數(shù)不足于與所述射線源（10）當(dāng)前發(fā)出的射線脈沖的穿透能力匹配的物質(zhì)參數(shù)，則使所述射線源（10）發(fā)出具有最低能量的射線脈沖繼續(xù)掃描。