[發(fā)明專利]一種基于特征匹配的織物異常區(qū)域檢測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110777751.4 | 申請日: | 2021-07-07 |
| 公開(公告)號: | CN113554605B | 公開(公告)日: | 2023-09-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳從平;丁坤;鈕嘉煒;李少玉;顏逸洲;周正旺;張屹;戴國洪 | 申請(專利權(quán))人: | 常州大學 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00 |
| 代理公司: | 常州市英諾創(chuàng)信專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32258 | 代理人: | 王美華 |
| 地址: | 213164 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 特征 匹配 織物 異常 區(qū)域 檢測 方法 | ||
1.一種基于特征匹配的織物異常區(qū)域檢測方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1、織物圖像特征提取;所述S1包括如下步驟:
S11、獲取織物訓練集,訓練集樣本由正常圖像組成;
S12、使用經(jīng)過ImageNet預(yù)訓練的Wide-ResNet-50-2特征提取網(wǎng)絡(luò)作為特征提取器α,對訓練集樣本進行特征提取;將每張訓練集樣本經(jīng)特征提取器α中的第一個卷積組和第三個卷積組的輸出作為異常區(qū)域定位特征,分別記為將經(jīng)特征提取器α的第四個卷積組池化后的輸出作為存在異常區(qū)域的判別特征,記為xa;
由所有訓練集樣本的xa生成特征集合Xa;
S13、使用特征提取器α對待測圖像y進行特征提取,其中,將待測圖像y在特征提取器α中的第一個卷積組和第三個卷積組的輸出作為異常區(qū)域定位特征,分別記為將經(jīng)特征提取器的第四個卷積組池化后的輸出作為圖像存在異常區(qū)域的判別特征,記為ya;
S2、織物圖像異常判別;所述S2包括如下步驟:
S21、在特征集合Xa中檢索與待測圖像y中的特征ya距離最接近的k個訓練特征并保存與其對應(yīng)的k個特征與
根據(jù)距離度量公式為L2和余弦相似性結(jié)合,給出異常判別分數(shù)為D,計算公式為:
d=L2+λ(1-Cosine)?(3)
其中,λ為余弦相似性的權(quán)重;
S22、設(shè)定閾值τ1,若分數(shù)D大于τ1,則判定織物圖像存在異常,記為Pa,若分數(shù)D小于τ1,則判定織物圖像為正常圖像;
S3:織物異常區(qū)域定位。
2.如權(quán)利要求1所述的基于特征匹配的織物異常區(qū)域檢測方法,其特征在于,所述S3包括如下步驟:
S31、將異常圖像Pa的特征中每個像素塊分別與k個特征中與對應(yīng)位置的像素塊進行L2距離度量,每個像素塊的異常分數(shù)記為的L2距離度量和,計算得到所有像素塊的異常分數(shù)后組成特征的異常像素塊分數(shù)圖
S32:將異常圖像Pa的特征中每個像素塊分別與k個特征中與對應(yīng)位置的像素塊進行L2距離度量,每個像素塊的異常分數(shù)記為的L2距離度量和,計算得到所有像素塊的異常分數(shù)后組成特征的異常像素塊分數(shù)圖
S33:將異常像素塊分數(shù)圖和分別進行上采樣至與待測圖片相同尺寸,分別記為和待測圖像的粗略異常像素分數(shù)圖p為
S34:將粗略異常像素分數(shù)圖p進行高斯模糊消除干擾點從而得到異常像素分數(shù)圖p',給定閾值τ2,若p'中像素點的分數(shù)值小于τ2,則標記該像素點為正常像素點,若p'中像素點的分數(shù)值大于τ2,則標記該像素點為異常像素點;
S35:將標記為正常的像素點的三通道像素值均置為0,由異常像素點組成的圖像即為異常區(qū)域定位圖。
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