[發明專利]一種樣本分析儀及其計數異常的檢測方法有效
| 申請號: | 202110773452.3 | 申請日: | 2021-07-08 |
| 公開(公告)號: | CN113252537B | 公開(公告)日: | 2021-11-23 |
| 發明(設計)人: | 唐爭輝 | 申請(專利權)人: | 深圳市帝邁生物技術有限公司 |
| 主分類號: | G01N15/10 | 分類號: | G01N15/10;G06K9/00 |
| 代理公司: | 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 李慶波 |
| 地址: | 518107 廣東省深圳市光明區*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 樣本 分析 及其 計數 異常 檢測 方法 | ||
1.一種樣本分析儀計數異常的檢測方法,其特征在于,所述樣本分析儀用于對樣本的粒子進行計數,所述檢測方法包括:
對所述粒子的計數信號進行分析處理,得到第一參數和第二參數;
判斷所述第一參數是否位于第一異常范圍內;
若否,則判斷所述第二參數是否位于第二異常范圍內;
若是,判斷所述樣本分析儀計數異常;
其中,對所述粒子的計數信號進行分析處理,得到第一參數和第二參數的步驟包括:
根據所述粒子的計數信號得到特征參數,所述特征參數包括所述粒子的脈沖數量以及每個所述脈沖的特征信息;
根據所述特征參數獲取在單位時間段內的粒子數,得到粒子數序列;
分析所述粒子數序列的有效性,得到所述有效的粒子數序列;
根據所述有效的粒子數序列對應的特征參數,生成對應的直方圖;
獲取所述有效的粒子數序列的計數時間在所述粒子的計數時間的占比值,獲取所述直方圖的前端預設通道內總粒子數的第一百分比,和所述直方圖的后端預設通道內總粒子數的第二百分比,所述第一參數包括所述占比值、所述第一百分比或/和所述第二百分比;
所述第二參數包括所述有效的粒子數序列的第一平均值和第一標準差。
2.根據權利要求1所述的檢測方法,其特征在于,所述判斷所述第一參數是否位于第一異常范圍內的步驟包括:
判斷所述占比值是否小于第一預設閾值,所述第一預設閾值大于或等于0且小于或等于1;
或/和,判斷所述第一百分比是否大于第二預設閾值,所述第二預設閾值大于0且小于1;
或/和,判斷所述第二百分比是否大于第三預設閾值,所述第三預設閾值大于0且小于1。
3.根據權利要求2所述的檢測方法,其特征在于,所述得到第一參數和第二參數的步驟包括:
獲取所述有效的粒子數序列的第一平均值和第一標準差,所述第二參數包括所述第一平均值和所述第一標準差。
4.根據權利要求3所述的檢測方法,其特征在于,所述判斷所述第二參數是否位于第二異常范圍內的步驟包括:
判斷所述第一標準差是否大于第四預設閾值,所述第四預設閾值為大于1的常數。
5.根據權利要求4所述的檢測方法,其特征在于,所述判斷所述第二參數是否位于第二異常范圍內的步驟包括:
判斷所述第一標準差是否大于第五預設閾值,且所述第一百分比是否大于第六預設閾值;所述第五預設閾值為大于1的常數,且小于所述第四預設閾值,所述第六預設閾值小于所述第二預設閾值。
6.根據權利要求4所述的檢測方法,其特征在于,所述判斷所述第二參數是否位于第二異常范圍內的步驟包括:
判斷所述第一標準差是否大于第七預設閾值,且所述第二百分比是否大于第八預設閾值;所述第七預設閾值為大于1的常數,且小于所述第五預設閾值,所述第八預設閾值小于所述第三預設閾值。
7.根據權利要求6所述的檢測方法,其特征在于,所述第四預設閾值為所述第一平均值的開根乘以第一常數,所述第五預設閾值為所述第一平均值的開根乘以第二常數,所述第七預設閾值為所述第一平均值的開根乘以第三常數,所述第一常數大于所述第二常數,所述第二常數大于所述第三常數,且所述第三常數大于1。
8.根據權利要求1-7任一項所述的檢測方法,其特征在于,所述特征信息包括脈沖峰值、脈沖位置、脈沖寬度以及時間戳;所述粒子數序列包括多個數據點,所述根據所述特征參數獲取在單位時間段內的粒子數的步驟包括:
根據所述粒子的脈沖數量和每個所述脈沖的時間戳,得到在所述單位時間段內的粒子數;
所述分析多個所述粒子數序列的有效性的步驟包括:
計算所述粒子數序列的第二平均值和第二標準差;
獲取所述粒子數序列中每個所述數據點和所述第二平均值的差值的絕對值,并判斷所述差值的絕對值是否在預設范圍內,其中所述預設范圍為所述第二標準差的n倍;
若是,則得到有效的數據點,根據所有所述有效的數據點得到所述有效的粒子數序列。
9.一種樣本分析儀,其特征在于,包括:
粒子計數模塊,用于對樣本的粒子進行計數,產生所述粒子的計數信號;
存儲模塊,用于存儲程序數據;
控制模塊,與所述粒子計數模塊和所述存儲模塊連接,用于執行所述程序數據以實現如權利要求1-8中任一項所述的檢測方法。
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