[發(fā)明專利]利用嵌套機(jī)器學(xué)習(xí)模型來(lái)執(zhí)行預(yù)測(cè)的方法及系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110772622.6 | 申請(qǐng)日: | 2017-05-05 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113610240A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-11-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳雨強(qiáng);戴文淵;楊強(qiáng);郭夏瑋;涂威威 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 第四范式(北京)技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06N20/00 | 分類號(hào): | G06N20/00 |
| 代理公司: | 北京銘碩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11286 | 代理人: | 王艷茹;蘇銀虹 |
| 地址: | 100085 北京市海淀區(qū)清*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 利用 嵌套 機(jī)器 學(xué)習(xí) 模型 執(zhí)行 預(yù)測(cè) 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種利用嵌套機(jī)器學(xué)習(xí)模型來(lái)執(zhí)行預(yù)測(cè)的方法,其中,所述嵌套機(jī)器學(xué)習(xí)模型包括根據(jù)上下層嵌套框架訓(xùn)練出的上層模型和下層模型,所述方法包括:
(A)獲取預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)記錄;
(B)基于預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)記錄的屬性信息來(lái)生成與預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)記錄對(duì)應(yīng)的預(yù)測(cè)樣本的多個(gè)特征子集;
(C)將預(yù)測(cè)樣本的多個(gè)特征子集分別提供給嵌套機(jī)器學(xué)習(xí)模型所包括的上層模型和下層模型,以得到嵌套機(jī)器學(xué)習(xí)模型針對(duì)預(yù)測(cè)樣本的預(yù)測(cè)結(jié)果。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述上層模型包括一個(gè)決策樹(shù)子模型,并且,所述下層模型包括多個(gè)線性子模型,
其中,每個(gè)線性子模型對(duì)應(yīng)于所述決策樹(shù)子模型的一個(gè)葉子節(jié)點(diǎn)。
3.如權(quán)利要求1或2所述的方法,其中,在步驟(B)中,基于預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)記錄的屬性信息來(lái)生成預(yù)測(cè)樣本的特征,并根據(jù)特征的取值連續(xù)性和/或取值空間規(guī)模來(lái)生成預(yù)測(cè)樣本的上層特征子集和預(yù)測(cè)樣本的下層特征子集。
4.如權(quán)利要求3所述的方法,其中,上層特征子集涵蓋取值為連續(xù)值的全部特征,并且,下層特征子集涵蓋取值為非連續(xù)值的全部特征;
或者,上層特征子集涵蓋取值為連續(xù)值的全部特征連同至少一部分取值為非連續(xù)值的特征,并且,下層特征子集涵蓋其余取值為非連續(xù)值的特征。
5.如權(quán)利要求1或2所述的方法,其中,在步驟(B)中,基于預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)記錄的屬性信息來(lái)生成預(yù)測(cè)樣本的特征,并根據(jù)特征的缺失性來(lái)生成預(yù)測(cè)樣本的上層特征子集和預(yù)測(cè)樣本的下層特征子集,其中,特征的缺失性指示該特征是否基于預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)記錄相對(duì)于訓(xùn)練數(shù)據(jù)記錄的缺失屬性信息而生成。
6.如權(quán)利要求5所述的方法,其中,上層特征子集涵蓋全部非缺失特征,并且,下層特征子集涵蓋全部缺失特征和全部非缺失特征。
7.一種利用嵌套機(jī)器學(xué)習(xí)模型來(lái)執(zhí)行預(yù)測(cè)的系統(tǒng),其中,所述嵌套機(jī)器學(xué)習(xí)模型包括根據(jù)上下層嵌套框架訓(xùn)練出的上層模型和下層模型,所述系統(tǒng)包括:
預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)記錄獲取裝置,用于獲取預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)記錄;
預(yù)測(cè)特征子集產(chǎn)生裝置,用于基于預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)記錄的屬性信息來(lái)生成與預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)記錄對(duì)應(yīng)的預(yù)測(cè)樣本的多個(gè)特征子集;
預(yù)測(cè)裝置,用于將預(yù)測(cè)樣本的多個(gè)特征子集分別提供給嵌套機(jī)器學(xué)習(xí)模型所包括的上層模型和下層模型,以得到嵌套機(jī)器學(xué)習(xí)模型針對(duì)預(yù)測(cè)樣本的預(yù)測(cè)結(jié)果。
8.如權(quán)利要求7所述的系統(tǒng),其中,所述上層模型包括一個(gè)決策樹(shù)子模型,并且,所述下層模型包括多個(gè)線性子模型,
其中,每個(gè)線性子模型對(duì)應(yīng)于所述決策樹(shù)子模型的一個(gè)葉子節(jié)點(diǎn)。
9.一種訓(xùn)練嵌套機(jī)器學(xué)習(xí)模型的方法,其中,所述嵌套機(jī)器學(xué)習(xí)模型包括根據(jù)上下層嵌套框架訓(xùn)練出的上層模型和下層模型,所述方法包括:
(a)獲取訓(xùn)練數(shù)據(jù)記錄;
(b)基于訓(xùn)練數(shù)據(jù)記錄的屬性信息來(lái)生成與訓(xùn)練數(shù)據(jù)記錄對(duì)應(yīng)的訓(xùn)練樣本的多個(gè)特征子集;以及
(c)根據(jù)上下層嵌套框架來(lái)訓(xùn)練嵌套機(jī)器學(xué)習(xí)模型所包括的上層模型和下層模型,其中,上層模型和下層模型之中的每一個(gè)基于各自的特征子集來(lái)進(jìn)行訓(xùn)練。
10.一種訓(xùn)練嵌套機(jī)器學(xué)習(xí)模型的系統(tǒng),其中,所述嵌套機(jī)器學(xué)習(xí)模型包括根據(jù)上下層嵌套框架訓(xùn)練出的上層模型和下層模型,所述系統(tǒng)包括:
訓(xùn)練數(shù)據(jù)記錄獲取裝置,用于獲取訓(xùn)練數(shù)據(jù)記錄;
訓(xùn)練特征子集產(chǎn)生裝置,用于基于訓(xùn)練數(shù)據(jù)記錄的屬性信息來(lái)生成與訓(xùn)練數(shù)據(jù)記錄對(duì)應(yīng)的訓(xùn)練樣本的多個(gè)特征子集;以及
訓(xùn)練裝置,用于根據(jù)上下層嵌套框架來(lái)訓(xùn)練嵌套機(jī)器學(xué)習(xí)模型所包括的上層模型和下層模型,其中,上層模型和下層模型之中的每一個(gè)基于各自的特征子集來(lái)進(jìn)行訓(xùn)練。
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