[發明專利]應用于CNC雕刻機的圖像采集系統

有效

• 申請號: 202110769085.X
• 申請日: 2021-07-07
• 公開（公告）號: CN113334978B
• 公開（公告）日: 2021-12-14
• 發明（設計）人: 曾偉旭
• 申請（專利權）人: 東莞市昂圖智能科技有限公司
• 主分類號: B44B1/06
• 分類號: B44B1/06;B44B3/06
• 代理公司: 深圳勝博時代專利代理事務所(普通合伙) 44506
• 代理人: 黃海艷

1.一種應用于CNC雕刻機的圖像采集系統，其特征在于，包括：

連接裝置，其用于連接照明裝置和圖像采集裝置；

所述照明裝置，設置于所述連接裝置底部一側，用于為雕刻物照明，所述照明裝置包括照明燈，其用于為雕刻物的照明提供光源，所述照明燈外部設置有燈罩，其用于控制照明燈的照射強度；

轉動裝置，其與所述照明裝置相連接，用于轉動照明裝置；

所述圖像采集裝置，設置于所述連接裝置中心位置，用于采集所述雕刻物的圖像；

支撐裝置，其設置于所述圖像采集裝置下方，用于支撐所述雕刻物，所述支撐裝置包括支撐板，用于放置雕刻物，所述支撐板底部設置有動力裝置，所述動力裝置用于為所述支撐裝置角度的調節提供動力；

中央處理器，與所述照明裝置、所述轉動裝置、所述圖像采集裝置和所述支撐裝置相連接，用于調控各部件運動；

所述中央處理器通過所述圖像采集裝置采集得到所述雕刻物的待比對圖像，獲取待比對圖像清晰度，當待比對圖像清晰度符合預設標準，中央處理器將待比對圖像與預存圖像進行比對，當中央處理器獲取待比對圖像與預存圖像相似度符合預設標準，中央處理器判定當前雕刻物合格，當中央處理器獲取待比對圖像與預存圖像相似度不符合預設標準時，中央處理器通過待比對圖像相鄰特征點距離值獲取待比對圖像的特征點距離變化值，并將待比對圖像的特征點距離變化值與預設值相比較，當獲取的待比對圖像的特征點距離變化值符合預設標準時，中央處理器判定所述雕刻物不合格，當獲取的待比對圖像的特征點距離變化值不符合預設標準，中央處理器通過控制所述動力裝置動力參數進而調節所述支撐裝置支撐角度和控制所述轉動裝置轉動角度進而調節所述照明裝置的照明角度后，重新獲取待比對圖像，當待比對圖像清晰度不符合預設標準時，中央處理器控制所述轉動裝置轉動角度調節照明裝置照明角度，和調節所述燈罩開口面積，同時重新獲取待比對圖像。

2.根據權利要求1所述的應用于CNC雕刻機的圖像采集系統，其特征在于，所述中央處理器以圖像左下角為原點，以圖像其中一條邊為X軸，以圖像另一條邊為Y軸，以像素為單位，建立平面直角坐標系，中央處理器設置各像素點坐標為Aij(Xi，Yj)，其中，Xi表示像素點Aij的X軸坐標為第i單位，Yj表示像素點Aij為Y軸坐標為第j單位的像素點，所述中央處理器獲取坐標位置為Aij(Xij，Yij)像素點的RGB為p_ij，中央處理器設置圖像清晰度獲取方法，圖像清晰度為P，設定P＝∑Wij，其中，Wij＝(p_ij-(p_ij+p_(i+1)j+p_i(j+1))/3)²+(p_(i+1)j-(p_ij+p_(i+1)j+p_i(j+1))/3)²+(p_i(j+1)-(p_ij+p_(i+1)j+p_i(j+1))/3)²，設定Wij為像素點Aij的RGB均勻度，其中，像素點坐標包括A11(X1，Y1)，A12(X1，Y2)，A22(X2，Y2)···Anm(Xn，Ym)，其中，A11(X1，Y1)表示X軸坐標為第一單位，Y軸坐標第一單位的像素點、A12(X1，Y2)表示X軸坐標為第一單位，Y軸坐標第二單位的像素點、A22(X2，Y2)表示X軸坐標為第二單位，Y軸坐標第二單位的像素點以及Anm(Xn，Ym)表示X軸坐標為第n單位，Y軸坐標第m單位的像素點，i＝1，2···n-1，j＝1，2···m-1。