[發明專利]一種多類型面板鐳射測試用測試器

在審

• 申請號: 202110768183.1
• 申請日: 2021-07-05
• 公開（公告）號: CN113567348A
• 公開（公告）日: 2021-10-29
• 發明（設計）人: 周慧
• 申請（專利權）人: 合肥欣茂科技有限公司
• 主分類號: G01N21/17
• 分類號: G01N21/17;G01N21/01
• 代理公司: 北京和信華成知識產權代理事務所(普通合伙) 11390
• 代理人: 胡闊雷

1.一種多類型面板鐳射測試用測試器，其特征在于，包括光波濾光裝置(1)、直線驅動裝置(2)以及測試模塊(3)，所述光波濾光裝置(1)設置在所述直線驅動裝置(2)上，所述測試模塊(3)固定連接所述直線驅動裝置(2)；

其中，所述直線驅動裝置(2)用于驅動所述光波濾光裝置(1)直線位移，所述光波濾光裝置(1)用于在所述直線驅動裝置(2)的驅動下對面板鐳射設備投射的測試光波進行濾波，獲得多組特定波長的測試光波，所述測試模塊(3)用于順次接收所述多組特定波長的測試光波，分析獲取多組特定波長的測試光波的能量值。

2.根據權利要求1所述的一種多類型面板鐳射測試用測試器，其特征在于，所述光波濾光裝置(1)包括柱形連接支架(10)和由多個濾光件(5)順次連接形成的條狀濾光片組(6)，所述條狀濾光片組(6)沿所述柱形連接支架(10)的軸向設置在所述柱形連接支架(10)的表面，且每個所述濾光件(5)對單個特定波長的測試光波進行濾波，所述直線驅動裝置(2)驅動所述柱形連接支架(10)沿所述柱形連接支架(10)的軸向的直線運動，使所述條狀濾光片組(6)的濾光件(5)順次與面板鐳射投射的測試光波接觸，獲得多組特定波長的測試光波。

3.根據權利要求2所述的一種多類型面板鐳射測試用測試器，其特征在于，所述光波濾光裝置(1)包括柱形連接支架(10)和多個所述濾光件(5)首尾順次連接形成環狀濾光片組(7)；

所述柱形連接支架(10)通過圓周驅動機構(8)連接所述直線驅動裝置(2)；

其中，所述圓周驅動機構(8)用于根據相鄰兩個所述濾光件(5)的距離驅動所述柱形連接支架(10)進行變速圓周轉動。

4.根據權利要求2或3所述的一種多類型面板鐳射測試用測試器，其特征在于，所述柱形連接支架(10)的頂部設置有光波定位裝置(4)，所述測試模塊(3)的底部設置有位移機構(9)，所述光波定位裝置(4)用于接收多類型面板鐳射投射的測試光波，并獲取測試光波的光路位置信息；

所述位移機構(9)用于根據所述光波定位裝置(4)獲取的測試光波的光路位置信息調節所述測試模塊(3)直線移動。

5.根據權利要求4所述的一種多類型面板鐳射測試用測試器，其特征在于，所述柱形連接支架(10)的周向上均勻分布有多個條狀濾光片組(6)，沿所述柱形連接支架(10)軸向的所述柱形連接支架(10)表面上設置有與所述條狀濾光片組(6)的濾光件(5)相同數量的光波定位裝置(4)，且所述光波定位裝置位于每個所述濾光件(5)的頂部。

6.根據權利要求5所述的一種多類型面板鐳射測試用測試器，其特征在于，所述光波定位裝置(4)包括第一光敏檢測主體(41)和第二光敏檢測主體(42)和控制模塊(43)，所述控制模塊(43)與所述位移機構(9)電性連接；

其中，所述第一光敏檢測主體(41)成環狀，所述第二光敏檢測主體(42)成柱狀，所述第二光敏檢測主體(42)位于所述第一光敏檢測主體(41)的圓心處；

所述第一光敏檢測主體(41)用于檢測面板鐳射投射的測試光波與所述第一光敏檢測主體(41)接觸的位置數據，所述控制模塊(43)根據所述面板鐳射的測試光波與所述第一光敏檢測主體(41)接觸的位置數據，以及所述第二光敏檢測主體(42)的位置數據，計算所述面板鐳射的測試光波和所述第一光敏檢測主體(41)的垂直距離，所述控制模塊(43)根據所述垂直距離形成所述位移機構(9)的直線位移控制信號。

7.根據權利要求5所述的一種多類型面板鐳射測試用測試器，其特征在于，所述柱形連接支架(10)具體包括與所述直線驅動裝置(2)連接的環座(101)，以及周向鉸接在所述環座(101)上的多個矩形瓣板(102)，多個所述矩形瓣板(102)連接形成柱狀結構體(103)，所述柱狀結構體(103)頂部設置有松緊環(104)，所述矩形瓣板(102)的表面沿長度方向上設置有所述濾光件(5)相配合的安裝槽(105)。