[發明專利]測量激光光軸瞄準偏差的裝置和安裝有該裝置的激光設備

有效

• 申請號: 202110768079.2
• 申請日: 2021-07-07
• 公開（公告）號: CN113587822B
• 公開（公告）日: 2023-07-21
• 發明（設計）人: 李夢慶;韋博;胡黎明;宋磊;武春風;李強;張貴清;彭小康;熊準;潘浩;姚剛;龐中昊
• 申請（專利權）人: 湖北航天技術研究院總體設計所
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02;G01M11/02;G02B26/08;G02B26/10
• 代理公司: 武漢智權專利代理事務所(特殊普通合伙) 42225
• 代理人: 張凱

本申請涉及一種測量激光光軸瞄準偏差的裝置和安裝有該裝置的激光設備，涉及高能激光技術領域，裝置包括：可繞一豎直軸轉動的基座；激光接收機構，其包括中空的蓋體和安裝在蓋體中的掃描鏡組件，蓋體上開設有可供激光穿過的進口和出口，掃描鏡組件用于接收經過進口的激光，折反射接收的激光并朝基座豎直向下發出；反射鏡組，其設在基座上，用以接收經過出口的激光，反射至少一次接收的激光后輸出；靶面組件，其包括設于基座上的聚焦透鏡和帶有標記點的靶標，聚焦透鏡用于匯聚輸出的激光以在靶標上形成光斑，光斑和標記點可供計算激光光軸的瞄準偏差。本申請無需大場地測量環境，還能夠滿足激光裝備在全工作范圍瞄準偏差的測量。

技術領域

本申請涉及高能激光技術領域，特別涉及一種測量激光光軸瞄準偏差的裝置和安裝有該裝置的激光設備。

背景技術

激光光軸的“瞄準偏差”作為激光設備性能指標之一，直接影響著激光設備的工作效能。相關的激光設備瞄準性能測試通常采用外場測試，該測試方法包括：

在外場試驗區放置帶有十字標記(標記點)的靶標，再使用跟蹤相機對靶標成像，使成像在跟蹤相機中的靶標上的十字標記與相機的靶面中心十字大致相重合，通過跟蹤相機控制電調鏡對靶面中心十字進行閉環，使得靶面中心十字成像在跟蹤相機的探測器中央；之后，激光設備工作，發出激光，在靶標上進行燒蝕，使用測量工具測量靶標燒蝕點與靶面中心十字的距離，即計算激光光軸的瞄準偏差。

然而，在上述的測試方法中，仍然存在幾點明顯的缺點，比如測量需要長距離的場地，對試驗場地的空間要求高；測量激光設備在某一方位角和某一俯仰角是的激光光軸的瞄準偏差，難以繼續測量發射的激光光軸為其他方位角或其他俯仰角的情況，即不能適用在激光設備全工作范圍內的測量。

發明內容

本申請實施例提供一種測量激光光軸瞄準偏差的裝置和安裝有該裝置的激光設備，以解決相關技術中測量激光光軸的瞄準偏差時所需空間過大、測量范圍窄的問題。

第一方面，提供了一種測量激光光軸瞄準偏差的裝置，包括：

可繞一豎直軸轉動的基座；

激光接收機構，其包括中空的蓋體和安裝在所述蓋體中的掃描鏡組件，所述蓋體上開設有可供激光穿過的進口和出口，所述掃描鏡組件用于接收經過所述進口的激光，折反射接收的激光并朝所述基座豎直向下發出；

反射鏡組，其設在所述基座上，用以接收經過所述出口的激光，反射至少一次接收的激光后輸出；

靶面組件，其包括設于所述基座上的聚焦透鏡和帶有標記點的靶標，所述聚焦透鏡用于匯聚輸出的激光以在所述靶標上形成光斑，其中，所述光斑和所述標記點可供計算激光光軸的瞄準偏差。

一些實施例中，所述掃描鏡組件包括控制裝置和依次布置的正透鏡組、電調鏡、負透鏡組、廣角透鏡組；

所述控制裝置與所述電調鏡相連，用于控制所述電調鏡繞一轉動軸旋轉以改變激光的偏轉角度；

所述負透鏡組的中心軸與所述廣角透鏡組的中心軸大致重合，還與所述正透鏡組的中心軸大致垂直于一處，該處與所述轉動軸大致重合。

一些實施例中，所述廣角透鏡組的焦距小于所述負透鏡組的焦距。

一些實施例中，還包括：

縮束鏡組，其設于所述基座上，位于所述反射鏡組和所述聚焦透鏡之間。

一些實施例中，所述縮束鏡組具體包括依次設在所述反射鏡組和所述聚焦透鏡之間的凹透反射鏡和凸透反射鏡。

一些實施例中，還包括：

環形設置的軌道，所述軌道的中心軸與所述豎直軸大致重合；

滑移件，其組設在所述軌道上，并可沿所述軌道移動，且所述滑移件與所述基座連接。