[發明專利]一種X射線粉末衍射儀用不規則形狀固體進樣器

有效

• 申請號: 202110765062.1
• 申請日: 2021-07-07
• 公開（公告）號: CN113484347B
• 公開（公告）日: 2022-11-11
• 發明（設計）人: 王趲;孫范榮;張丹;王鵬
• 申請（專利權）人: 沈陽化工大學
• 主分類號: G01N23/20008
• 分類號: G01N23/20008
• 代理公司: 沈陽技聯專利代理有限公司 21205
• 代理人: 張志剛

一種X射線粉末衍射儀用不規則形狀固體進樣器，涉及一種X射線粉末衍射儀用輔助裝置，所述固體進樣器的總體材質是不銹鋼構成，由上蓋（10）、艙壁（2）、底座（4）共同構建了直徑30mm、高30mm的圓柱狀樣品艙（1）；樣品托盤（7）通過螺柱、螺母及墊片固定在升降柱（5）上；樣品托盤（7）由兩部分組成，分別是柔性觸點（8）和樣品固定架（9）；上蓋（10）和艙壁（2）是通過焊接連接，上蓋上固定有三個水平觸點，觸點可以水平轉動。本發明在測試不規則的固體樣品時，能獲得精準的衍射數據和衍射圖譜，有效地解決了XRD在進行不規則固體樣品測試時上表面不能完美的同衍射儀的軸重合、與聚焦圓相切的問題。

技術領域

本發明涉及一種X射線粉末衍射儀輔助裝置，特別是涉及一種X射線粉末衍射儀用不規則形狀固體進樣器。

背景技術

X射線粉末衍射技術（X-Ray diffraction，簡稱XRD）是用特征X射線光譜照射到多晶粉末或塊體表面從而獲得衍射譜圖和數據的一種方法。通過對譜圖和數據的分析能夠了解晶體材料諸如產業廢棄物、礦物、催化劑、功能材料等的相組成成分；能夠對大部分晶體物質進行定量、半定量分析；能夠對晶體物質晶粒大小和晶體物質結晶度進行計算；能夠對未知物質進行結構解析和對已知物質進行結構精修等。

XRD作為在當今科技領域里用來分析各種物質成分結構的測試儀器已得到了廣泛的應用。對材料學、物理學、化學、地質、環境、納米材料、生物制藥等領域來說，X射線衍射方法都是物質表征和質量控制不可缺少的方法。而這些應用的首要條件是都取決于首先獲得精準的測量數據和衍射圖譜。

XRD所適用的的樣品主要有粉末、塊體、纖維、薄膜等。根據XRD的原理要求樣品表面是十分平整的，且裝樣后樣品表面的位置必須與衍射儀的軸重合，與聚焦圓相切。這對于粉末或薄膜樣品來說很容易達到要求，隨機配有的進樣器就可滿足這一要求。

但是，對于高度不一和形狀不規則的塊體比如巖石、金屬來說，沒有一個適當的進樣器來協助完成樣品的測試，測試時樣品表面的高度全憑測試人員的目測，這一操作影響了測試的結果，不能獲得精準的衍射數據和衍射圖譜，為數據的進一步應用造成的巨大的誤差。

基于這一情況，一種性能優良而成本低廉的X射線粉末衍射儀用不規則固體進樣器亟待研究。

發明內容

本發明的目的在于提供一種X射線粉末衍射儀用不規則形狀固體進樣器，本發明有效地解決了XRD在進行不規則固體樣品測試時上表面不能完美的同衍射儀的軸重合、與聚焦圓相切的問題，使得樣品測試時獲得理想的結果，并為結果的進一步應用提供最詳實、最真實的數據和譜圖。

本發明的目的是通過以下技術方案實現的：

一種X射線粉末衍射儀用不規則形狀固體進樣器，所述固體進樣器包括樣品艙、艙壁、進樣口、底座、升降柱、升降搖桿、樣品托盤、柔性觸點、樣品固定架、上蓋、水平觸點；固體進樣器的總體材質是不銹鋼構成，由上蓋、艙壁、底座共同構建了直徑30mm、高30mm的圓柱狀樣品艙，其中上蓋和艙壁是通過焊接連接，艙壁和底座是通過焊接連接；進樣口是在艙壁的底部向上開設的，設置為沿著艙壁橫向推拉式；升降柱通過螺柱、螺母及墊片固定在底座；升降柱內部為齒條構造，通過固定在升降柱上的升降搖桿的搖動可以自由上下；樣品托盤通過螺柱、螺母及墊片固定在升降柱上；樣品托盤由兩部分組成，分別是柔性觸點和樣品固定架；上蓋和艙壁是通過焊接連接，上蓋上固定有三個水平觸點，觸點可以水平轉動。

所述的一種X射線粉末衍射儀用不規則形狀固體進樣器，所述樣品托盤的升降柱在樣品艙中自由升降。

所述的一種X射線粉末衍射儀用不規則形狀固體進樣器，所述樣品上表面的高度是由固定在上蓋的水平觸點來確定的。

所述的一種X射線粉末衍射儀用不規則形狀固體進樣器，所述三個水平觸點確定的平面同上蓋在同一個平面。

本發明的優點與效果是：