[發明專利]一種基于溫漂特征線逼近的紅外圖像拼接校正方法在審
| 申請號: | 202110763276.5 | 申請日: | 2021-07-06 |
| 公開(公告)號: | CN113658054A | 公開(公告)日: | 2021-11-16 |
| 發明(設計)人: | 王小勇;文高進;吳立民;鐘燦;龍亮;王哲;黃浦 | 申請(專利權)人: | 北京空間機電研究所 |
| 主分類號: | G06T5/00 | 分類號: | G06T5/00;G06T5/20;G06T5/50 |
| 代理公司: | 中國航天科技專利中心 11009 | 代理人: | 李晶堯 |
| 地址: | 100076 北京市豐*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 特征 逼近 紅外 圖像 拼接 校正 方法 | ||
1.一種基于溫漂特征線逼近的紅外圖像拼接校正方法,其特征在于:包括如下步驟:
步驟一、設置初始化尺度參數d和第一次迭代的校正誤差e1;
步驟二、輸入m行n列的紅外圖像X和s行n列的紅外圖像Y,計算紅外圖像X的擴展圖像計算紅外圖像Y的擴展圖像
步驟三、計算多尺度濾波器H和溫漂初始曲線V;
步驟四、根據擴展圖像擴展圖像多尺度濾波器H和溫漂初始曲線V進行逼近校正優化處理,獲得最終校正誤差ed;
步驟五、對ed進行判斷,當ed<ed-1時,將第d次迭代的溫漂曲線記為溫漂優化曲線并將d值記為最優尺度并進入步驟六;當ed≥ed-1時,直接進入步驟六;
步驟六、設置閾值D,將d值與閾值D進行比較,當d>D時,進入步驟七;否則返回步驟二;
步驟七、根據溫漂優化曲線ed<ed-1、最優尺度對紅外圖像X和紅外圖像Y進行逼近拼接處理,獲得拼接后的結果圖
2.根據權利要求1所述的一種基于溫漂特征線逼近的紅外圖像拼接校正方法,其特征在于:所述步驟一中,d=2,e1=1。
3.根據權利要求2所述的一種基于溫漂特征線逼近的紅外圖像拼接校正方法,其特征在于:所述步驟二中,為m行n+2d-2列矩陣;為s行n+2d-2列矩陣;其中,擴展圖像的迭代公式滿足:
其中,j=1,2,……,m;t=1,2,……,d-1;
其中,j=1,2,…,m;t=1,2,……,d-1;
其中,j=1,2,……,m;t=1,2,……,n;
擴展圖像的迭代公式滿足:
其中,j=1,2,……,s;t=1,2,……,d-1;
其中,j=1,2,……,s;t=1,2,……,d-1;
其中,j=1,2,……,s;t=1,2,……,n。
4.根據權利要求3所述的一種基于溫漂特征線逼近的紅外圖像拼接校正方法,其特征在于:所述步驟三中,多尺度濾波器H為2d-1維向量,具體為:
H=[12……d*(d-1)……1]/(d+d*(d-1))
溫漂初始曲線V為:
V=[V1 V2 … Vn+2d-2]
式中,Xk,p為矩陣X中第k行、第p列的值;
Yk,p為矩陣Y中第k行、第p列的值;
為矩陣中第k行、第p列的值;
為矩陣中第k行、第p列的值;
Hk為向量H中第k個元素;
Vk為向量V中第k個元素;
5.根據權利要求4所述的一種基于溫漂特征線逼近的紅外圖像拼接校正方法,其特征在于:所述步驟四中,逼近校正優化處理的具體方法為:
S41、設置迭代次數為a,設置第0次迭代的校正誤差r0為1;
S42、更新計算第a行、第n+2d-2列的溫漂過濾參數矩陣U;
S43、計算s+1行n列的逼近圖Z和第a次迭代的校正誤差ra;
S44、對第a次迭代的校正誤差ra的迭代值進行判斷,當ra<ra-1時,將當前尺度參數d下的溫漂優化曲線更新為溫漂過濾參數矩陣U的第a行元素,并將ra記為最終校正誤差ed,進入S45;當ra≥ra-1時,不更新直接進入S45;
S45、對|ra-ra-1|進行判斷,當|ra-ra-1|<1.0×10-5時,進入步驟五;否則令a=a+1,返回S42。
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