[發明專利]利用單線激光雷達校正單目測距的方法及系統有效
| 申請號: | 202110763071.7 | 申請日: | 2021-07-06 |
| 公開(公告)號: | CN113219475B | 公開(公告)日: | 2021-10-22 |
| 發明(設計)人: | 翟涌;石兆寧;張幽彤 | 申請(專利權)人: | 北京理工大學 |
| 主分類號: | G01S17/08 | 分類號: | G01S17/08;G01S17/86;G01S11/12;G06N3/08 |
| 代理公司: | 北京薈英捷創知識產權代理事務所(普通合伙) 11726 | 代理人: | 張陽 |
| 地址: | 100081 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 利用 單線 激光雷達 校正 目測 方法 系統 | ||
1.一種利用單線激光雷達校正單目測距的方法,其特征在于,應用于包括單目攝像頭及多個激光雷達的測距系統,所述單目攝像頭與所述多個激光雷達按預設位置布置,所述方法包括:
獲取所述單目攝像頭采集的圖像;
將所述圖像輸入預先訓練的測距神經網絡模型,得到所述圖像中目標的距離信息;所述測距神經網絡模型由訓練數據集、所述多個激光雷達測距確定的全局參考誤差矩陣訓練得到,所述訓練數據集包括多張圖像及各張所述圖像中像素的實際距離;
所述測距神經網絡模型的訓練過程為:提取所述訓練數據集中的各圖像的像素特征;將所述像素特征對應矩陣、所述多個激光雷達測距確定的全局參考誤差矩陣耦合后輸入測距神經網絡模型進行訓練,直至損失函數滿足預設終止條件;
所述像素特征對應矩陣、所述多個激光雷達測距確定的全局參考誤差矩陣耦合公式如下:
其中,
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述單目攝像頭的光軸與各所述激光雷達的射線方向平行布置;
至少一個所述激光雷達貼近所述單目攝像頭布置,其余所述激光雷達圍繞所述單目攝像頭均勻布置。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,將貼近所述單目攝像頭的激光雷達的測距結果與所述單目攝像頭測距結果的誤差作為全局參考誤差
其中,λ為全局參考誤差與局部參考誤差的影響系數。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
將沿徑向的一條直線測量得到的不同位置的誤差進行多項式擬合,確定相對位置的次數
將沿軸向的一條直線測量得到的不同位置的誤差進行多形式擬合,確定模糊圓的次數
5.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,圍繞所述單目攝像頭均勻布置的所述激光雷達的測距點均落在圖像的對角線上,且各所述測距點在所述對角線上均勻分布。
6.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,圍繞所述單目攝像頭均勻布置的所述激光雷達的測距點均落在圖像的中線上,且各所述測距點在所述中線上均勻分布。
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