[發(fā)明專利]幾何公差測量設(shè)備及其測量方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110759864.1 | 申請日: | 2021-07-05 |
| 公開(公告)號: | CN113513986B | 公開(公告)日: | 2022-02-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 梁平;陳偉琪;黃耀坤;張勇;黃振宇;徐全坤;張玉珍;魯力維;張嘉淇;吳家輝;盧粲 | 申請(專利權(quán))人: | 廣東省計(jì)量科學(xué)研究院(華南國家計(jì)量測試中心) |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00 |
| 代理公司: | 北京商專潤文專利代理事務(wù)所(普通合伙) 11317 | 代理人: | 黎正浩;熊雯 |
| 地址: | 510000 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 幾何 公差 測量 設(shè)備 及其 測量方法 | ||
1.幾何公差測量設(shè)備,包括基座(1)及設(shè)于基座(1)上的導(dǎo)軌(2),其特征在于,還包括以下部件:
移動(dòng)平臺(tái)(3)、固定平臺(tái)(4),所述移動(dòng)平臺(tái)(3)、固定平臺(tái)(4)設(shè)于導(dǎo)軌(2)上并沿所述基座(1)的中軸方向分布,所述移動(dòng)平臺(tái)(3)能夠相對于固定平臺(tái)(4)沿基座(1)中軸方向在導(dǎo)軌(2)上進(jìn)行移動(dòng);
旋轉(zhuǎn)臺(tái)(5),所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)(5)為水平及垂直兩轉(zhuǎn)軸的標(biāo)準(zhǔn)轉(zhuǎn)臺(tái),設(shè)于固定平臺(tái)(4)上且位于基座(1)的中軸上,所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)(5)上可放置被測儀器;
接收傳感器(6),所述接收傳感器(6)設(shè)于移動(dòng)平臺(tái)(3)上且位于基座(1)的中軸上,用于與被測儀器配合傳感;
第一激光干涉儀(7)、第二激光干涉儀(8),所述第一激光干涉儀(7)、第二激光干涉儀(8)均設(shè)于固定平臺(tái)(4)上,所述第一激光干涉儀(7)、第二激光干涉儀(8)沿中軸對稱分布;
第一反射鏡(9)、第二反射鏡(10),所述第一反射鏡(9)、第二反射鏡(10)均設(shè)于移動(dòng)平臺(tái)(3)上,所述第一反射鏡(9)、第二反射鏡(10)沿中軸對稱分布;
所述第一反射鏡(9)與所述第一激光干涉儀(7)的連線、所述第二反射鏡(10)與所述第二激光干涉儀(8)的連線均與所述中軸平行。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的幾何公差測量設(shè)備,其特征在于,所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)(5)位于第一激光干涉儀(7)、第二激光干涉儀(8)之間的連線上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的幾何公差測量設(shè)備,其特征在于,所述被測儀器、所述接收傳感器(6)、第一激光干涉儀(7)、第二激光干涉儀(8)、第一反射鏡(9)以及第二反射鏡(10)均位于同一平面內(nèi)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的幾何公差測量設(shè)備,其特征在于,所述第一激光干涉儀(7)、第一反射鏡(9)之間配合,用于構(gòu)建垂直方向的標(biāo)準(zhǔn)直線。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的幾何公差測量設(shè)備,其特征在于,所述第二激光干涉儀(8)、第二反射鏡(10)之間配合,用于構(gòu)建水平方向的標(biāo)準(zhǔn)直線。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的幾何公差測量設(shè)備,其特征在于,所述導(dǎo)軌(2)沿基座(1)的中軸延伸,所述固定平臺(tái)(4)設(shè)于導(dǎo)軌(2)的一端,所述移動(dòng)平臺(tái)(3)可活動(dòng)地設(shè)于導(dǎo)軌(2)上,所述移動(dòng)平臺(tái)(3)沿導(dǎo)軌(2)遠(yuǎn)離或靠近固定平臺(tái)(4)。
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- 傳感設(shè)備、檢索設(shè)備和中繼設(shè)備
- 簽名設(shè)備、檢驗(yàn)設(shè)備、驗(yàn)證設(shè)備、加密設(shè)備及解密設(shè)備
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- 設(shè)備、主設(shè)備及從設(shè)備
- 設(shè)備向設(shè)備轉(zhuǎn)發(fā)





