[發明專利]一種致密儲層微觀孔隙結構的儲層分類方法及裝置

在審

• 申請號: 202110759604.4
• 申請日: 2021-07-06
• 公開（公告）號: CN113405970A
• 公開（公告）日: 2021-09-17
• 發明（設計）人: 鄭森;王瑞飛;譚世豪;馬耑月;王元一
• 申請（專利權）人: 西安石油大學
• 主分類號: G01N15/08
• 分類號: G01N15/08
• 代理公司: 北京化育知識產權代理有限公司 11833
• 代理人: 尹均利

1.一種致密儲層微觀孔隙結構的儲層分類方法，其特征在于，具體操作步驟如下：

步驟1：將取樣裝置移動到指定的位置上，通過取樣裝置對各個深度段的儲層類型進行取樣；

步驟2：對樣品進行分析，通過覆壓孔滲儀和脈沖滲透率儀獲得樣品的實測孔隙值和滲透率值；

步驟3：觀察儲層的儲集空間特征，利用熒光顯微鏡觀察熒光鑄體薄片，利用場發射掃描電子顯微鏡觀察新鮮斷面樣品和氬離子拋光樣品，分析不同尺度的孔隙類型和大小和連通狀況，統計不同類型孔隙的面孔率；

步驟4：通過壓汞法獲得樣品的樣品的孔隙結構參數，其中包括不同大小孔徑的分布；

步驟5：分析儲層物性控制因素，分析上述步驟確定的不同尺度的孔隙類型、大小及連通狀況、儲層的孔徑分布等參數中的一種或幾種的組合與上述步驟確定的儲層孔隙度和滲透率的關系，選出影響儲層物性較大的儲集空間特征和孔隙結構參數；

步驟6：儲層分類，對測定樣品的孔隙值、滲透率值和其他的樣品孔隙結構參數進行綜合評價，最后對儲層進行分類。

2.根據權利要求1所述的一種致密儲層微觀孔隙結構的儲層分類方法，其特征在于，步驟1中取樣裝置能夠有效防止儲層樣品在不同儲層中發生污染。

3.根據權利要求1所述的一種致密儲層微觀孔隙結構的儲層分類方法，其特征在于，開展沉積相、砂體展布等特征或參數的研究，從而實現儲層宏觀評價；加大對孔隙結構、孔隙類型等的定量分析，進行儲層微觀方面的評價；通過對儲層宏觀與微觀特征深度結合進行分析，以達到綜合評價的目的；加大儲層定量評價，優選儲層分類的主控因子參數，對儲層進行評價。

4.根據權利要求1所述的一種致密儲層微觀孔隙結構的儲層分類方法，其特征在于，步驟4中采用高壓壓汞法測量巖石樣品的孔喉參數，確定儲層的孔徑分布，實現儲層孔隙結構參數的測量。

5.根據權利要求1所述的一種致密儲層微觀孔隙結構的儲層分類方法，其特征在于，步驟6中儲層物性的參數進行分類，并確定不同類型儲層對應的儲層孔隙值、滲透率值和其他的樣品孔隙結構參數中的一種或幾種的組合。

6.根據權利要求1所述的一種致密儲層微觀孔隙結構的儲層分類方法其特征在于，步驟4中高壓壓汞法測量巖石樣品的孔喉參數具體包括：

S1：將巖石樣品制成巖芯柱后經過干燥處理，將其抽真空以去除樣品中的賦存流體及其他氣體，然后向樣品膨脹計中注汞并開始測量；

S2：從測孔儀取出樣品膨脹計之前，確保儀器內壓力已降至大氣壓，通過觀察確定汞已滲透到大部分樣品中；

S3：測量結束后，通過進汞體積與壓力的關系獲得毛管壓力曲線；

S4：根據毛管壓力曲線計算出樣品的孔徑分布。

7.一種致密儲層微觀孔隙結構的儲層分類裝置，應用于權利要求1中的致密儲層微觀孔隙結構的儲層分類方法，其特征在于，包括取樣裝置，所述取樣裝置包括殼體(1)，所述殼體(1)的外側壁上固定安裝有控制面板(5)，所述控制面板(5)上設置有顯示屏(6)和控制按鈕，所述殼體(1)內設置有升降裝置，所述升降裝置包括升降板(9)，所述升降板(9)設置在殼體(1)內部，所述升降板(9)的一側螺紋連接有第一螺紋桿(8)，所述升降板(9)的另一側滑動連接有限位桿(11)，所述第一螺紋桿(8)的頂端固定連接有第一正反轉電機(7)，所述升降裝置的下端設置有鉆孔裝置；所述殼體(1)的前側面上活動連接有活動門(2)，所述活動門(2)的前側面上固定連接有把手(4)，所述殼體(1)的底端中部開設有開口(12)，所述殼體(1)的底部四角處安裝有萬向輪(3)。