[發明專利]一種保偏光纖拍長測量裝置和測量方法

在審

• 申請號: 202110755903.0
• 申請日: 2021-07-05
• 公開（公告）號: CN113654764A
• 公開（公告）日: 2021-11-16
• 發明（設計）人: 黃素娟;閆成
• 申請（專利權）人: 上海大學
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 上海上大專利事務所(普通合伙) 31205
• 代理人: 何文欣

1.一種保偏光纖拍長測量裝置，包括前處理光路、光線延遲器(1)、標準單模光纖(2)、測試光纖(3)、顯示終端(4)、分束器(5)、合束器(6)，其特征在于：所述光線延遲器(1)、標準單模光纖(2)依次設置于所述分束器(5)與合束器(6)之間組成參考光路，所述測試光纖(3)設置于分束器(5)與合束器(6)之間組成測量光路，所述參考光路與所述測量光路相互并聯，所述合束器(6)還與CCD感光器(7)組成成像光路，所述顯示終端(4)與所述CCD感光器(7)電性連接，所述光線延遲器(1)與所述控制終端(12)電性連接。

2.根據權利要求1所述的保偏光纖拍長測量裝置，其特征在于：所述標準單模光纖(2)兩端還分別連接有第一耦合器(8)。

3.根據權利要求1所述的保偏光纖拍長測量裝置，其特征在于：所述測試光纖(3)兩端還分別連接有第二耦合器(9)。

4.根據權利要求1所述的保偏光纖拍長測量裝置，其特征在于：所述參考光路還包括第一顯微物鏡(10)，第一顯微物鏡(10)設置于標準單模光纖(2)與合束器(6)之間。

5.根據權利要求1所述的保偏光纖拍長測量裝置，其特征在于：所述測量光路還包括第二顯微物鏡(11)，第二顯微物鏡(11)設置于測試光纖(3)與合束器(6)之間。

6.根據權利要求1所述的保偏光纖拍長測量裝置，其特征在于：所述顯示終端(4)和控制終端(12)組成計算機系統。

7.根據權利要求1所述的保偏光纖拍長測量裝置，其特征在于：所述前處理光路包括光源生成器(13)和波長選擇器(14)，光源生成器(13)、波長選擇器(14)與所述分束器(5)依次設置組成前處理光路。

8.一種利用權利要求1至7任一項所述保偏光纖拍長測量裝置的保偏光纖拍長測量方法，其特征在于：包括以下操作步驟：

a.使特征光束經過分束器(5)傳播后生成第一測試光束和第二測試光束，使第一測試光束通過參考光路，同時使第二測試光束經過測量光路傳輸后生成物光光束，再使參考光束與物光光束經過成像光路匯合后在所述CCD感光器(7)上生成干涉全息圖；

b.顯示終端(4)和控制終端(12)組成計算機系統，在計算機系統中，控制終端(12)通過內置的保偏光纖拍長測試軟件系統對在CCD感光器(7)上生成干涉全息圖依次進行傅里葉變換運算、基于模式特征的頻域濾波處理后，得到偏振模式能量波動曲線，分析正交偏振模式間的延時差，并經過計算，獲得保偏光纖的拍長，然后通過顯示終端(4)向用戶顯示。

9.根據權利要求8所述的保偏光纖拍長測量方法，其特征在于：在所述步驟a中，特征光束是由所述光源生成器(13)生成的超連續寬光譜光束經過前處理光路傳播后對其波長進行篩選后形成。