[發明專利]存儲器裝置中缺陷可見性的壓縮方法

在審

• 申請號: 202110755705.4
• 申請日: 2021-07-05
• 公開（公告）號: CN113921078A
• 公開（公告）日: 2022-01-11
• 發明（設計）人: 李繼云;J·L·戈西
• 申請（專利權）人: 美光科技公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 北京律盟知識產權代理有限責任公司 11287
• 代理人: 王龍

本申請涉及一種存儲器裝置中缺陷可見性的壓縮方法。存儲器裝置可基于與第一存儲器單元集相關聯的第一數據集而識別與所述裝置中的存儲器陣列的存儲器單元集相關聯的一或多個錯誤。所述存儲器裝置可基于識別所述一或多個錯誤而產生所述一或多個錯誤在所述第一存儲器單元集中的位置的指示且壓縮所述第一數據集以產生錯誤標記。所述存儲器裝置可基于產生所述錯誤標記和所述位置的所述指示而輸出所述錯誤標記和所述指示。

交叉引用

本專利申請案要求李(Li)等人在2020年7月10日提交的名稱為“存儲器裝置中缺陷可見性的壓縮方法(COMPRESSION METHOD FOR DEFECT VISIBILITY IN A MEMORYDEVICE)”的美國專利申請案第16/926,559號的優先權，所述申請案轉讓給本受讓人且明確地以全文引用的方式并入本文中。

技術領域

本技術領域涉及一種存儲器裝置中缺陷可見性的壓縮方法。

背景技術

以下內容大體上涉及存儲器的一或多個系統，且更確切地說，涉及存儲器裝置中缺陷可見性的壓縮方法。

存儲器裝置廣泛用于將信息存儲在例如計算機、無線通信裝置、相機、數字顯示器等的各種電子裝置中。通過將存儲器裝置內的存儲器單元編程為各種狀態來存儲信息。舉例來說，二進制存儲器單元可編程為兩個支持狀態中的一個，通常由邏輯1或邏輯0來標示。在一些實例中，單個存儲器單元可支持多于兩個狀態，可存儲所述狀態中的任一個。為了存取所存儲信息，組件可以讀取或感測存儲器裝置中的至少一個所存儲狀態。為了存儲信息，組件可在存儲器裝置中寫入狀態或對狀態進行編程。

存在各種類型的存儲器裝置和存儲器單元，包含磁性硬盤、隨機存取存儲器(RAM)、只讀存儲器(ROM)、動態RAM(DRAM)、同步動態RAM(SDRAM)、鐵電RAM(FeRAM)、磁性RAM(MRAM)、電阻式RAM(RRAM)、快閃存儲器、相變存儲器(PCM)、自選存儲器、硫族化物存儲器技術等。存儲器單元可以是易失性或非易失性的。例如FeRAM的非易失性存儲器可即使在無外部電源的情況下仍維持其所存儲邏輯狀態很長一段時間。例如DRAM的易失性存儲器裝置在與外部電源斷連時可能會丟失其所存儲狀態。

發明內容

描述了一種方法。在一些實例中，所述方法可包含：在裝置處至少部分地基于與裝置的存儲器陣列的第一存儲器單元集相關聯的第一數據集而識別與所述第一存儲器單元集相關聯的一或多個錯誤；至少部分地基于識別一或多個錯誤而產生所述一或多個錯誤在第一存儲器單元集中的位置的指示；至少部分地基于識別一或多個錯誤而壓縮第一數據集以產生錯誤標記；且至少部分地基于產生錯誤標記以及產生位置的指示而輸出所述錯誤標記和所述指示。

描述了一種方法。在一些實例中，所述方法可包含：向裝置傳輸對裝置的存儲器陣列的第一存儲器單元集執行測試的命令；至少部分地基于傳輸命令而從裝置接收一或多個錯誤與第一存儲器單元集相關聯的第一錯誤標記以及一或多個錯誤在第一存儲器單元集中的位置的第一指示；且至少部分地基于接收第一存儲器單元集的一或多個錯誤的第一錯誤標記和位置的第一指示而產生一或多個錯誤的錯誤報告。

描述了一種設備。在一些實例中，所述設備可包含：存儲器陣列；編碼器，其與所述存儲器陣列耦合且可操作以通過產生對應于位置的位集來編碼一或多個地址；以及存儲器控制器，其與所述存儲器陣列耦合。在一些實例中，所述存儲器控制器可配置成使得所述設備：至少部分地基于與存儲器陣列的第一存儲器單元集相關聯的第一數據集而識別與所述第一存儲器單元集相關聯的一或多個錯誤；至少部分地基于識別一或多個錯誤而產生所述一或多個錯誤在第一存儲器單元集中的位置的指示；至少部分地基于識別一或多個錯誤而壓縮第一數據集以產生錯誤標記；且至少部分地基于產生錯誤標記以及產生位置的指示而輸出所述錯誤標記和所述指示。

附圖說明

圖1說明根據如本文中所公開的實例的支持存儲器裝置中缺陷可見性的壓縮方法的系統的實例。