[發(fā)明專利]一種用斜返電離圖前沿反演F2層參數(shù)的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110755126.X | 申請(qǐng)日: | 2021-07-02 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113608270B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-10-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李寧 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 三門峽職業(yè)技術(shù)學(xué)院 |
| 主分類號(hào): | G01V3/38 | 分類號(hào): | G01V3/38;G01V3/12 |
| 代理公司: | 鄭州聯(lián)科專利事務(wù)所(普通合伙) 41104 | 代理人: | 王聚才 |
| 地址: | 472000 河南*** | 國(guó)省代碼: | 河南;41 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用斜返 電離 前沿 反演 f2 參數(shù) 方法 | ||
1.一種用斜返電離圖前沿反演F2層參數(shù)的方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1:從斜返電離圖前沿描跡上,按照頻率由小到大的順序依次取3組測(cè)量數(shù)據(jù)(fi,Pi),且相鄰2組數(shù)據(jù)之間的頻率間隔為200kHz,其中fi為電波頻率,Pi為最小群距離測(cè)量值,i=1,2,3;
步驟2:根據(jù)斜測(cè)鏈路中點(diǎn)的電離層參數(shù),設(shè)置一個(gè)由所有可能的解所構(gòu)成的集合S={x(fc,hm,ym,β1,β2,β3)},fc,hm,ym分別為斜測(cè)鏈路中點(diǎn)至斜測(cè)接收機(jī)之間區(qū)域F2層的臨界頻率、峰高和半厚度,β1,β2,β3分別為電波頻率f1,f2,f3所對(duì)應(yīng)的電波射線仰角;
步驟3:在集合S中隨機(jī)選取一個(gè)可能的解x(fc,hm,ym,β1,β2,β3),根據(jù)準(zhǔn)拋物QP模型,計(jì)算最小群距離計(jì)算值Pxi和群距離對(duì)仰角的偏微分計(jì)算值
步驟4:如果滿足收斂條件且則判定此x(fc,hm,ym,β1,β2,β3)為方程組的解;如果不滿足,重復(fù)步驟3至步驟4,直到得出滿足收斂條件的解x(fc,hm,ym,β1,β2,β3),其中δ為斜返探測(cè)系統(tǒng)的群距離分辨率。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用斜返電離圖前沿反演F2層參數(shù)的方法,其特征在于:所述的步驟2中,
所述的F2層臨界頻率fc的取值范圍為[fc1-2,fc1+2],單位:MHz;
所述的F2層峰高h(yuǎn)m的取值范圍為[hm1-30,hm1+30],單位:km;
所述的F2層半厚度ym的取值范圍為[ym1-30,ym1+30],單位:km。
其中,fc1,hm1,ym1分別為斜測(cè)鏈路中點(diǎn)的F2層臨界頻率、峰高和半厚度。
所述的電波射線仰角β1,β2,β3的取值方法如下:
β1=deg1*3.14/180;
β2=deg2*3.14/180;
β3=deg3*3.14/180;
其中,
deg1的取值范圍為[1,deg0+5],單位:度;
deg2的取值范圍為[deg1-5,deg1],單位:度;
deg3的取值范圍為[deg2-5,deg2],單位:度;
deg0為斜測(cè)鏈路F2層0波最大可觀測(cè)頻率對(duì)應(yīng)的仰角,單位:度;
deg1,deg2,deg3分別為電波射線仰角β1,β2,β3對(duì)應(yīng)的角度值,單位:度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用斜返電離圖前沿反演F2層參數(shù)的方法,其特征在于:所述步驟3中,計(jì)算最小群距離計(jì)算值Pxi和群距離對(duì)仰角的偏微分計(jì)算值的方法為:
其中,
rm=hm+r0;
rb=rm-ym;
F=fi/fc;
γ=arccos[(r0/rb)cosβi];
U=B2-4AC;
r0為地球半徑;
rm為最大電子濃度對(duì)應(yīng)的徑向距離;
rb為電離層底部對(duì)應(yīng)的徑向距離;
γ為電波射線在電離層底部的入射角。
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