[發明專利]圖像偽影消除方法、裝置及設備

有效

• 申請號: 202110754286.2
• 申請日: 2021-07-02
• 公開（公告）號: CN113610716B
• 公開（公告）日: 2023-10-03
• 發明（設計）人: 李曙光;楊星智;李校珂;王存寶;劉博;謝江勝;仲維玲;王平安;王青松
• 申請（專利權）人: 中鐵二十局集團有限公司
• 主分類號: G06T5/00
• 分類號: G06T5/00
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 關向蘭

本發明公開了一種圖像偽影消除方法、裝置及設備，涉及巖土工程技術領域，方法包括：獲取輸入圖像，輸入圖像包括待測巖土材料的CT掃描圖像；識別輸入圖像的中心點；根據中心點，獲得輸入圖像中每個像素點基于中心點的位置信息；根據位置信息和像素點的特征信息，獲得特征曲線值；根據輸入圖像中所有像素點的像素值和特征曲線值，獲得消除偽影后的輸出圖像。本發明解決了現有通過醫用CT掃描巖土工程材料獲取的CT圖像，存在射線束硬化偽影，導致影響被掃描物體的微細觀結構分析精度的問題，實現了提高CT掃描圖像質量的目的。

技術領域

本發明涉及巖土工程技術領域，尤其涉及一種圖像偽影消除方法、裝置及設備。

背景技術

計算機層析識別技術，簡稱CT技術(Computerized Tomography)，用于檢測材料和結構內部的細微變化。CT掃描，是將被掃描的三維物體中要檢測的二維掃描層面單獨孤立出來成像，獲得CT圖像。CT圖像偽影，是在CT圖像形成過程中出現的與被掃描物體無關的異樣影像，這些異樣影像劣化了CT圖像的質量，會影響對被掃描物體微細觀結構的研究。

在對巖石、混凝土等巖土工程材料進行微細觀結構分析時，會先進行CT掃描。目前，通過醫用CT掃描巖土工程材料時，獲取的CT圖像中經常會出現偽影，尤其是射線束硬化偽影，這種偽影容易導致在對同一物體進行掃描時，得到的數據參差不齊，數據差別較大則會影響對該被掃描物體微細觀結構進行分析的精度。

發明內容

本發明的主要目的在于：提供一種圖像偽影消除方法、裝置及設備，旨在解決現有通過醫用CT掃描巖土工程材料獲取的CT圖像，存在射線束硬化偽影，導致影響被掃描物體的微細觀結構分析精度的技術問題。

為實現上述目的，本發明采用如下技術方案：

第一方面，本發明提供了一種圖像偽影消除方法，所述方法包括：

獲取輸入圖像，所述輸入圖像包括待測巖土材料的CT掃描圖像；

識別所述輸入圖像的中心點；

根據所述中心點，獲得所述輸入圖像中每個像素點基于所述中心點的位置信息；

根據所述位置信息和所述像素點的特征信息，獲得特征曲線值；

根據所述輸入圖像中所有像素點的像素值和所述特征曲線值，獲得消除偽影后的輸出圖像。

可選地，上述圖像偽影消除方法中，所述根據所述中心點，獲得所述輸入圖像中每個像素點基于所述中心點的位置信息的步驟，具體包括：

以所述中心點為原點，建立直角坐標系；

在所述直角坐標系中，將所述輸入圖像中每個像素點的坐標信息轉換為基于所述中心點的位置信息，所述位置信息包括所述像素點與所述中心點的距離和角度。

可選地，上述圖像偽影消除方法中，所述根據所述位置信息和所述像素點的特征信息，獲得特征曲線值的步驟，具體包括：

根據每個像素點與所述中心點的距離，以所述中心點為圓心，預設距離為半徑，繪制多個圓；

提取所述圓上所有像素點的特征信息，并計算平均值，獲得所述圓的特征值；

根據多個所述圓的特征值，繪制特征曲線，獲得特征曲線值。

可選地，上述圖像偽影消除方法中，所述根據所述位置信息和所述像素點的特征信息，獲得特征曲線值的步驟，具體包括：

根據每個像素點與所述中心點的距離，以相同距離的多個像素點的特征信息繪制特征曲線，獲得多個特征曲線；

計算所述多個特征曲線的平均值，獲得特征曲線值。