[發(fā)明專利]一種鋰電池電極表面缺陷的分類方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110753377.4 | 申請日: | 2021-07-02 |
| 公開(公告)號: | CN113673552A | 公開(公告)日: | 2021-11-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉嶼;倪君儀;徐嘉明;萬偉偉;橫井浩史 | 申請(專利權(quán))人: | 華南理工大學(xué);廣州現(xiàn)代產(chǎn)業(yè)技術(shù)研究院 |
| 主分類號: | G06K9/62 | 分類號: | G06K9/62;G06K9/46 |
| 代理公司: | 廣州市華學(xué)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44245 | 代理人: | 詹麗紅 |
| 地址: | 511458 廣東省廣州市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 鋰電池 電極 表面 缺陷 分類 方法 | ||
1.一種鋰電池電極表面缺陷的分類方法,用于對鋰電池電極表面的亮缺陷和暗缺陷進(jìn)行分類,其中,亮缺陷包括亮點、漏金屬、氣泡,暗缺陷包括黑點、條痕、脫碳,其特征在于,所述分類方法包括以下步驟:
S1、預(yù)處理:將鋰電池電極表面缺陷圖像調(diào)整為相同尺寸的大小,并進(jìn)行歸一化處理;
S2、粗分類:首先使用最小二乘法擬合鋰電池電極表面缺陷圖像中指定區(qū)域的像素變化將亮點和漏金屬從缺陷類別中分離出來,再根據(jù)特定的環(huán)形掩膜和隨機(jī)森林分類器將氣泡與暗缺陷分離,從而將鋰電池電極表面缺陷圖像分為亮缺陷數(shù)據(jù)集和暗缺陷數(shù)據(jù)集兩個大類;
S3、細(xì)分類:在粗分類得到的結(jié)果中,利用Gabor濾波器對鋰電池電極表面缺陷圖像進(jìn)行特征提取,再在亮缺陷數(shù)據(jù)集和暗缺陷數(shù)據(jù)集兩個大類中各自使用隨機(jī)森林分類器進(jìn)行分類得到最終的分類結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種鋰電池電極表面缺陷的分類方法,其特征在于,所述步驟S1中對鋰電池電極表面缺陷圖像進(jìn)行預(yù)處理的具體過程如下:
S1.1、將鋰電池電極表面缺陷圖像的大小統(tǒng)一調(diào)整為M×N;
S1.2、對鋰電池電極表面缺陷圖像進(jìn)行歸一化處理,歸一化方法如下:
f(i,j)=(I(i,j)-gmin)/(gmax-gmin)
其中,I(i,j)是原始鋰電池電極表面缺陷圖像在(i,j)處的灰度值,f(i,j)是歸一化之后的鋰電池電極表面缺陷圖像在(i,j)處的灰度值,gmax和gmin分別是原始鋰電池電極表面缺陷圖像中最大和最小的灰度值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種鋰電池電極表面缺陷的分類方法,其特征在于,所述步驟S2中對鋰電池電極表面缺陷圖像進(jìn)行粗分類的具體過程如下:
S2.1、使用最小二乘法擬合缺陷圖像中指定區(qū)域的像素灰度值變化曲線Ic得到直線Il;
S2.2、計算曲線Ic的波峰、波谷到直線Il垂直距離的差值Δ:
Δ=α-β
其中,α是曲線Ic的波峰到直線Il的垂直距離,β是曲線Ic的波谷到直線Il的垂直距離;
S2.3、設(shè)置一個第一閾值T,Δ大于第一閾值T時,對應(yīng)的缺陷為亮點和漏金屬;當(dāng)小于第一閾值T時,對應(yīng)的缺陷是除去亮點和漏金屬之外其余四種類型的缺陷,第一閾值T的值根據(jù)下式自適應(yīng)求得:
其中,MLM、MBS、MDS、MDE、MST、MBB分別表示漏金屬、亮點、黑點、脫碳、條痕和氣泡這六類缺陷數(shù)據(jù)集的平均差值Δ,min(·)表示最小值算子,Avg(·)表示平均值算子;
S2.4、根據(jù)缺陷形狀自適應(yīng)獲得環(huán)形掩膜Mr,在環(huán)形掩膜Mr的作用下,每張鋰電池電極表面缺陷圖像被分為三個區(qū)域:環(huán)內(nèi)區(qū)域AIR,環(huán)上區(qū)域AAR以及環(huán)外區(qū)域AOR;
S2.5、等角度分割環(huán)形掩膜Mr,得到兩個掩膜T1和T2,將環(huán)上區(qū)域AAR以及環(huán)外區(qū)域AOR各自分為s個小連通域和
S2.6、計算每個小連通域和中灰度值的均值和方差,同時,分別計算灰度值為0的像素所占比例和最終,得到一個具有良好區(qū)分度的特征:
分別表示環(huán)上區(qū)域和環(huán)外區(qū)域的灰度值均值,分別表示環(huán)上區(qū)域和環(huán)外區(qū)域的灰度值方差,分別表示環(huán)上區(qū)域和環(huán)外區(qū)域中0像素的占比,其中,分別是每個和的總像素個數(shù),分別對應(yīng)環(huán)上區(qū)域AAR以及環(huán)外區(qū)域AOR的小連通域中0像素的個數(shù),分別是每個和中0像素的占比;
S2.7、利用隨機(jī)森林分類器對上一步得到的特征F進(jìn)行分類,將氣泡與包括黑點、條痕、脫碳在內(nèi)的三種暗缺陷分離,由此得到亮缺陷數(shù)據(jù)集和暗缺陷數(shù)據(jù)集。
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