[發明專利]一種輪軌接觸幾何參數測量方法有效
| 申請號: | 202110752175.8 | 申請日: | 2021-07-02 |
| 公開(公告)號: | CN113446939B | 公開(公告)日: | 2022-07-29 |
| 發明(設計)人: | 尹輝;許宏麗;黃華;白新宇;徐鵬;韓明 | 申請(專利權)人: | 北京交通大學 |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00;B61K9/08 |
| 代理公司: | 北京市商泰律師事務所 11255 | 代理人: | 姜威 |
| 地址: | 100044 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 接觸 幾何 參數 測量方法 | ||
1.一種輪軌接觸幾何參數測量方法,其特征在于,包括如下步驟:
S1對輪軌點云進行平面基元和圓柱體基元檢測;
S2在步驟S1的檢測結果中提取輪緣內側面所在基元,并根據輪緣內側面所在基元的信息粗分割輪緣部分點云;
S3對粗分割后的輪緣部分點云進行圓環基元檢測,提取輪緣部分以及軌底部分對應基元,得到對應基元參數;
S4根據所述基元參數計算輪對中心點、軌底中心點,獲取輪軸方向;
S5根據S4的計算結果測量輪對橫移量、輪對側滾角、輪對搖頭角以及輪對沉浮量,并定位點云中屬于鐵軌踏面的點;
S6對點云進行切片,并去除各點云片中屬于鐵軌踏面的點;
S7基于RANSAC算法對去除踏面點后的點云點進行切片圓結構信息擬合,得到切片圓的圓心和半徑;
S8計算每個切片中鐵軌踏面上的點到切片圓圓心的距離,其小于一定閾值的點的集合即為接觸斑;
S9根據接觸斑中的所有點的坐標測量接觸斑的長、短軸長。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述S1之前還需要將輪軌點云數據進行處理,為輪對和軌道建立兩個不同的坐標系,當輪對位于運行正常位置上時,以輪對軸心中點為原點建立Ow-XwYwZw輪對坐標系,輪對坐標系隨著輪對相對于軌道運動;以兩側軌面中心的中心點為原點建立Or-XrYrZr隨行坐標系,使軌底所在平面與隨行坐標系Or-XrYrZr中的XrOrYr平面平行,其中,Xr為軌面水平延伸方向,Yr在軌底所在平面上且與Xr垂直,Zr垂直于軌底所在平面,Xw、Yw、Zw分別與Xr、Yr、Zr平行,建立坐標系為正常情況下的坐標系,輪對坐標系和隨行坐標系的各個坐標軸是兩兩平行的,僅Zr和Zw在Z軸方向上存在差值。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述S2包括:
步驟S21:根據輪對內側距以及輪緣內側面相互平行的約束條件,在S1中得基元檢測結果中提取雙側輪緣內側面Ω1作為左側輪對輪緣內側面和Ω2作為右側輪對輪緣內側面;
步驟S22:根據標準輪緣厚度,計算出與平面Ω1和Ω2分別相距標準輪緣厚度的平面Ω1′和Ω2′的平面參數,在輪軌點云數據正視圖上對應;
步驟S23:根據和將輪軌原點云中的輪緣部分進行粗分割,其中為輪軌點云中任意一點p到平面Ωi的歐氏距離,為輪軌點云中任意一點p到平面Ωi′的歐氏距離,i=1,2。
4.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述S3中的提取輪緣部分以及軌底部分對應基元,并獲取對應基元參數,包括:
步驟S31:根據下述三個條件對軌底基元進行提取:1)要提取的模型基元類型為平面;2)提取平面的法向量與Zr方向平行;3)提取平面的z坐標數值最小;
步驟S32:根據下述三個條件對輪緣部分的基元進行提取:1)提取的基元類型為圓環基元,包含八個參數,其中,為圓環軸方向,包含三個參數,Center為圓環軸中心,包含三個參數,radiuMax為圓環大半徑,包含一個參數,radiuMin為圓環小半徑,包含一個參數;2)車輪輪緣半徑;3)提取的圓環基元To的法向量與輪緣內側面法向量平行,且滿足其中,θ為設定閾值。
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