[發明專利]導體直流電阻測試方法在審
| 申請號: | 202110750971.8 | 申請日: | 2021-07-02 |
| 公開(公告)號: | CN113311244A | 公開(公告)日: | 2021-08-27 |
| 發明(設計)人: | 肖敬成;顧霄;胡冬偉;王洪昌;李星辰;朱濤;閆笑寒;申永濤;賀金紅;張榮;王子強;李闖;范玉軍 | 申請(專利權)人: | 上海國纜檢測股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R27/08 | 分類號: | G01R27/08 |
| 代理公司: | 上海光華專利事務所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 李雙嬌 |
| 地址: | 200444 上海*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 導體 直流 電阻 測試 方法 | ||
1.一種導體直流電阻測試方法,其特征在于,將導體(1)于電位極(A)處切斷形成中部段(11)和位于所述中部段(11)兩端的端部段(12),將所述中部段(11)與所述端部段(12)通過內部沿軸向貫通的壓接管(3)相連接,在所述壓接管(3)的內部于所述中部段(11)與所述端部段(12)之間填充導電材料(4),并將所述壓接管(3)的兩端分別與所述中部段(11)和所述端部段(12)壓接。
2.根據權利要求1所述的導體直流電阻測試方法,其特征在于,在所述中部段(11)上與所述壓接管(3)的端面相貼合的位置處設置電壓引線。
3.根據權利要求1所述的導體直流電阻測試方法,其特征在于,采用底座(2)支撐所述導體(1)。
4.根據權利要求3所述的導體直流電阻測試方法,其特征在于,所述底座(2)包括支撐所述中部段(11)的固定支架(21)和支撐所述端部段(12)的活動支架(22),所述活動支架(22)相對所述固定支架(21)可移動。
5.根據權利要求4所述的導體直流電阻測試方法,其特征在于,所述底座(2)的所述固定支架(21)和所述活動支架(22)上均設有夾具(5)。
6.根據權利要求5所述的導體直流電阻測試方法,其特征在于,所述夾具(5)與所述底座(2)之間、所述夾具(5)與所述導體(1)之間均設有絕緣隔墊(6)。
7.根據權利要求1所述的導體直流電阻測試方法,其特征在于,在所述導體(1)的電位極(A)切斷之前,用夾具(5)將所述導體(1)的中部段(11)和端部段(12)分別夾持固定。
8.根據權利要求1所述的導體直流電阻測試方法,其特征在于,將所述導體(1)端面處的單絲撥開并打磨,將打磨后的所有單絲與電流引線相連接。
9.根據權利要求1所述的導體直流電阻測試方法,其特征在于,所述導電材料(4)為導電膠。
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