[發(fā)明專(zhuān)利]一種超臨界二氧化碳硅塊清洗裝置、硅塊處理系統(tǒng)及方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110749231.2 | 申請(qǐng)日: | 2021-07-02 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113436998B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-02-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 吳鋒;田新;孫江橋;吳鵬 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 江蘇鑫華半導(dǎo)體材料科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L21/67 | 分類(lèi)號(hào): | H01L21/67;H01L21/02;B08B7/00 |
| 代理公司: | 北京錦信誠(chéng)泰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11813 | 代理人: | 倪青華 |
| 地址: | 221004 江蘇省*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 臨界 二氧化碳 清洗 裝置 處理 系統(tǒng) 方法 | ||
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硅塊處理方法,其特征在于,在第一次執(zhí)行所述處理步驟時(shí),對(duì)刻蝕完成的所述硅塊進(jìn)行水洗后,再進(jìn)行超臨界二氧化碳清洗。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硅塊處理方法,其特征在于,對(duì)所述硅塊進(jìn)行刻蝕時(shí),采用HNO3和HF的混酸,且隨著所述處理步驟重復(fù)次數(shù)的增多,所述HNO3和HF的重量百分比下降。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硅塊處理方法,其特征在于,所述壓力下降速率通過(guò)a1和a2的同步調(diào)節(jié)實(shí)現(xiàn)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硅塊處理方法,其特征在于,在壓力下降過(guò)程中,還對(duì)封閉空間的溫度進(jìn)行提升。
6.一種超臨界二氧化碳硅塊清洗裝置,用于如權(quán)利要求1所述的硅塊處理方法中,其特征在于,包括:
槽體,提供用于進(jìn)行硅塊清洗的封閉空間,且至少供液態(tài)的二氧化碳及硅塊進(jìn)入,以及,供氣態(tài)的二氧化碳及硅塊離開(kāi);
調(diào)壓裝置,在所述硅塊清洗前將所述封閉空間內(nèi)的壓力調(diào)節(jié)至高于二氧化碳的超臨界壓力,且在清洗過(guò)程中保持壓力不變;以及,在所述硅塊清洗完畢后降低所述槽體內(nèi)壓力,而使得所述二氧化碳?xì)饣?/p>
控溫裝置,在所述硅塊清洗前將所述封閉空間內(nèi)的溫度調(diào)節(jié)至高于二氧化碳的超臨界溫度,且在清洗過(guò)程中保持溫度不變;
壓縮裝置,對(duì)來(lái)自所述槽體內(nèi)經(jīng)氣化后的所述二氧化碳進(jìn)行壓縮而形成液態(tài)的二氧化碳;
二氧化碳儲(chǔ)槽,對(duì)液態(tài)的二氧化碳進(jìn)行存儲(chǔ),并提供所述槽體所需的液態(tài)的二氧化碳,以及,對(duì)來(lái)自所述壓縮裝置的液態(tài)的二氧化碳進(jìn)行回收。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的超臨界二氧化碳硅塊清洗裝置,其特征在于,所述調(diào)壓裝置包括外置的CO2氣體緩沖罐,所述C O2氣體緩沖罐設(shè)置壓縮機(jī),在槽體內(nèi)設(shè)置壓力表,通過(guò)壓力表的檢測(cè)結(jié)果,控制壓縮機(jī)及槽體的氣體管路流通面積實(shí)現(xiàn)壓力調(diào)節(jié)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的超臨界二氧化碳硅塊清洗裝置,其特征在于,所述控溫裝置采用外置換熱盤(pán)管。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的超臨界二氧化碳硅塊清洗裝置,其特征在于,所述控溫 裝置底部設(shè)置加熱絲提供加熱功能。
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H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專(zhuān)門(mén)適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專(zhuān)門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專(zhuān)門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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