[發明專利]X射線密度像質計

在審

• 申請號: 202110748418.0
• 申請日: 2021-06-28
• 公開（公告）號: CN113624786A
• 公開（公告）日: 2021-11-09
• 發明（設計）人: 陳剛;陳玥霖
• 申請（專利權）人: 陳剛;陳玥霖
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04;G01N23/18;G01N9/24
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明涉及一種聚乙烯及非金屬材質X射線無損檢測領域用X射線密度像質計，包括密度像質計型號標記區、密度像質計標識塊、密度像質計識別區；密度像質計型號標記區設置于密度像質計標識塊上，密度像質計型號標記區上標記有密度像質計型號、標準號，密度像質計標識塊固定于密度像質計識別區，密度像質計識別區是由多種階梯狀且密度不同的聚乙烯材質及非金屬材質連接構成。本發明拓展了X射線檢測領域的檢測范圍，將傳統上X射線無損檢測只能檢測金屬材質發展到聚乙烯及非金屬材質的X射線無損檢測領域，填補了X射線無損檢測對聚乙烯及非金屬材質領域X射線密度檢測法的空白。

技術領域

本發明涉及一種聚乙烯材質及其它非金屬材質的X射線無損檢測領域，尤其涉及一種X射線密度像質計。

背景技術

X射線密度像質計，是工業無損檢測評價X射線數字成像，包括X射線膠片、IP板等X射線影像對聚乙烯及非金屬材質密度分辨力的裝置，目前在工業X射線無損檢測領域內，只有金屬材質檢測靈敏度指標用的各種類像質計，并沒有出現過非金屬材質密度檢測用的X射線密度像質計等裝置。

發明內容

本發明的目的在于克服上述不足，提供了一種聚乙烯及非金屬材質X射線密度像質計結構，用于判定X射線裝置對聚乙烯及其它非金屬材質的密度分辨能力，是聚乙烯材質及其它非金屬材質進行X射線數字成像、X射線膠片、IP板等X射線無損檢測影像評價密度分辨能力的裝置。X射線成像中物體不同組織結構的黑化(亮暗)程度稱為影像灰度，灰度級差也視為密度差，是組成X射線影像的基本要素之一，X射線影像中灰度與密度呈對應關系。

本發明的目的是這樣實現的：一種X射線密度像質計，所述密度像質計包括密度像質計型號標記區、密度像質計標識塊、密度像質計識別區；所述密度像質計型號標記區設置于密度像質計標識塊上；所述密度像質計型號標記區上標記有密度像質計型號、標準號；所述密度像質計標識塊固定于密度像質計識別區；所述密度像質計識別區是由多種階梯狀且密度不同的聚乙烯材質及非金屬材質連接構成。

本發明X射線密度像質計，所述密度像質計由密度像質計型號標記區、密度像質計標識塊、密度像質計識別區等構成。

本發明X射線密度像質計，所述標記密度像質計型號為鉛字。

本發明X射線密度像質計，所述密度像質計標識塊為聚乙烯材質。

本發明X射線密度像質計，所述密度像質計識別區是多種階梯狀且不同密度的聚乙烯材質和非金屬材質連接構成。

本發明的有益效果是：拓展了X射線檢測領域的檢測范圍，將傳統上X射線無損檢測只能檢測金屬材質發展到聚乙烯及非金屬材質的X射線無損檢測領域，本發明填補了X射線無損檢測對聚乙烯及非金屬材質領域X射線密度檢測法的空白。

在上述技術方案的基礎上，本發明還可以做如下改進。

進一步，所述密度像質計識別區是由多種階梯狀且不同密度的聚乙烯材質和非金屬材質構成，在每個階梯面上設置不同直徑和深度的小孔，可同時檢測X射線裝置對密度和氣孔的分辨能力。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對本發明的進一步理解，構成本申請的一部分，本發明的示意性實施例及其說明用于解釋本發明，并不構成對本發明的不當限定。在附圖中：

圖1為本發明密度像質計的結構示意圖。

圖2為本發明密度像質計識別區構成示意圖

附圖中，各標號所代表的部件如下：

圖1為X射線密度像質計；密度像質計型號標記區1.1；密度像質計標識塊1.2；密度像質計識別區1.3。

具體實施方式