[發(fā)明專利]一種MEMS壓阻式壓力傳感器及其制備方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110742903.7 | 申請日: | 2021-06-30 |
| 公開(公告)號: | CN113340486A | 公開(公告)日: | 2021-09-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 武斌;許克宇 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市美思先端電子有限公司 |
| 主分類號: | G01L1/22 | 分類號: | G01L1/22;G01L9/04;B81B3/00;B81C1/00 |
| 代理公司: | 深圳市合道英聯(lián)專利事務(wù)所(普通合伙) 44309 | 代理人: | 廉紅果 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市光明新區(qū)公明街道塘家社區(qū)觀*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 mems 壓阻式 壓力傳感器 及其 制備 方法 | ||
1.一種MEMS壓阻式壓力傳感器,其特征在于,包括具有柵齒結(jié)構(gòu)和梁膜結(jié)構(gòu)的硅應(yīng)變膜、壓敏電阻、重?fù)诫s接觸區(qū)、金屬引線和玻璃底座,所述硅應(yīng)變膜為硅襯底的正面經(jīng)過刻蝕和背面經(jīng)過背腔腐蝕工藝后形成的具有正面梁膜、背腔結(jié)構(gòu)的硅膜,所述柵齒結(jié)構(gòu)位于硅應(yīng)變膜的正面非梁膜區(qū)域內(nèi),所述壓敏電阻位于柵齒結(jié)構(gòu)的端部,所述金屬引線和重?fù)诫s接觸區(qū)在硅應(yīng)變膜的正面形成歐姆接觸,所述玻璃底座為與硅應(yīng)變膜背面進行鍵合的打孔玻璃。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種MEMS壓阻式壓力傳感器,其特征在于,所述硅襯底為N型100晶面的SOI硅片或N型硅晶圓。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種MEMS壓阻式壓力傳感器,其特征在于,所述梁膜結(jié)構(gòu)為十字形,且位于硅應(yīng)變膜的中心區(qū)域。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種MEMS壓阻式壓力傳感器,其特征在于,所述梁膜結(jié)構(gòu)包括十字梁,且所述梁膜結(jié)構(gòu)由所述十字梁與圓形凸臺或正方形凸臺組成。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種MEMS壓阻式壓力傳感器,其特征在于,所述柵齒結(jié)構(gòu)由橫向和/或縱向等間距設(shè)置的島狀梁塊構(gòu)成。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種MEMS壓阻式壓力傳感器,其特征在于,所述柵齒結(jié)構(gòu)為直條形狀或線性漸變形狀。
7.一種權(quán)利要求1-6任意一項所述的MEMS壓阻式壓力傳感器的制備方法,其特征在于,該方法具體包括以下步驟:
S1、在硅襯底正面制作相互連接的壓敏電阻和重?fù)诫s接觸區(qū);
S2、在所述硅襯底正面制作引線孔和金屬引線;
S3、在所述硅襯底的正面通過光刻刻蝕制作梁膜結(jié)構(gòu);
S4、在所述硅襯底的正面非十字梁區(qū)域光刻刻蝕制作柵齒結(jié)構(gòu);
S5、在所述硅襯底的背面進行背腔刻蝕,直至合適的厚度停止,制成具有柵齒結(jié)構(gòu)的硅應(yīng)變膜;
S6、將所述S5得到的具有柵齒結(jié)構(gòu)的硅應(yīng)變膜與帶孔或不帶開孔的玻璃鍵合,劃片,獲得柵齒結(jié)構(gòu)的MEMS壓阻式壓力傳感器。
8.根據(jù)權(quán)利要求要求7所述的一種MEMS壓阻式壓力傳感器的制備方法,其特征在于,所述S1中是通過離子注入的方式制作壓敏電阻和重?fù)诫s接觸區(qū)。
9.根據(jù)權(quán)利要求要求7所述的一種MEMS壓阻式壓力傳感器的制備方法,其特征在于,所述S3中,所述金屬引線選為Al、Cr/Au、Ti/Au材料中的至少一種。
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