[發(fā)明專利]基于應(yīng)用性能監(jiān)控的單指標(biāo)參數(shù)采集方法及裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110740513.6
• 申請日: 2021-06-30
• 公開（公告）號: CN113407430A
• 公開（公告）日: 2021-09-17
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉慕雨;潘玲;吳冕冠;王磊
• 申請（專利權(quán)）人: 中國工商銀行股份有限公司
• 主分類號: G06F11/34
• 分類號: G06F11/34;G06F11/30
• 代理公司: 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127
• 代理人: 劉熔;趙平

1.一種基于應(yīng)用性能監(jiān)控的單指標(biāo)參數(shù)采集方法，其特征在于，包括：

以縱向采集方式，采集性能監(jiān)控單指標(biāo)參數(shù)；

發(fā)送所述性能監(jiān)控單指標(biāo)參數(shù)至中間件；

對所述中間件所轉(zhuǎn)發(fā)的性能監(jiān)控單指標(biāo)參數(shù)進(jìn)行聚合計算。

2.如權(quán)利要求1所述的基于應(yīng)用性能監(jiān)控的單指標(biāo)參數(shù)采集方法，其特征在于，所述中間件為kafka中間件，所述發(fā)送所述性能監(jiān)控單指標(biāo)參數(shù)至中間件包括：

發(fā)送所述性能監(jiān)控單指標(biāo)參數(shù)至kafka中間件的topic表中。

3.如權(quán)利要求2所述的基于應(yīng)用性能監(jiān)控的單指標(biāo)參數(shù)采集方法，其特征在于，所述對所述中間件所轉(zhuǎn)發(fā)的性能監(jiān)控單指標(biāo)參數(shù)進(jìn)行聚合計算，包括：

從所述topic表中訂閱所述性能監(jiān)控單指標(biāo)參數(shù)；

根據(jù)所述性能監(jiān)控單指標(biāo)的指標(biāo)類型以及時間戳，將所述性能監(jiān)控單指標(biāo)參數(shù)存儲至對應(yīng)的Druid數(shù)據(jù)庫中；

利用所述Druid數(shù)據(jù)庫，對所述性能監(jiān)控單指標(biāo)參數(shù)進(jìn)行聚合計算。

4.如權(quán)利要求3所述的基于應(yīng)用性能監(jiān)控的單指標(biāo)參數(shù)采集方法，其特征在于，所述利用所述Druid數(shù)據(jù)庫，對所述性能監(jiān)控單指標(biāo)參數(shù)進(jìn)行聚合計算，包括：

利用所述Druid數(shù)據(jù)庫，根據(jù)指標(biāo)名稱、指標(biāo)類型、指標(biāo)采集頻率、指標(biāo)所屬類別、指標(biāo)所屬應(yīng)用、指標(biāo)所屬鏈路ID以及采集時間對所述性能監(jiān)控單指標(biāo)參數(shù)進(jìn)行聚合計算。

5.一種基于應(yīng)用性能監(jiān)控的單指標(biāo)參數(shù)采集裝置，其特征在于，包括：

單指標(biāo)參數(shù)采集模塊，用于以縱向采集方式，采集性能監(jiān)控單指標(biāo)參數(shù)；

單指標(biāo)參數(shù)發(fā)送模塊，用于發(fā)送所述性能監(jiān)控單指標(biāo)參數(shù)至中間件；

單指標(biāo)參數(shù)聚合計算模塊，用于對所述中間件所轉(zhuǎn)發(fā)的性能監(jiān)控單指標(biāo)參數(shù)進(jìn)行聚合計算。

6.如權(quán)利要求5所述的基于應(yīng)用性能監(jiān)控的單指標(biāo)參數(shù)采集裝置，其特征在于，所述單指標(biāo)參數(shù)發(fā)送模塊包括：

單指標(biāo)參數(shù)發(fā)送單元，用于發(fā)送所述性能監(jiān)控單指標(biāo)參數(shù)至kafka中間件的topic表中。

7.如權(quán)利要求6所述的基于應(yīng)用性能監(jiān)控的單指標(biāo)參數(shù)采集裝置，其特征在于，所述單指標(biāo)參數(shù)聚合計算模塊包括：

單指標(biāo)參數(shù)訂閱單元，用于從所述topic表中訂閱所述性能監(jiān)控單指標(biāo)參數(shù)；

單指標(biāo)參數(shù)存儲單元，用于根據(jù)所述性能監(jiān)控單指標(biāo)的指標(biāo)類型以及時間戳，將所述性能監(jiān)控單指標(biāo)參數(shù)存儲至對應(yīng)的Druid數(shù)據(jù)庫中；

單指標(biāo)參數(shù)聚合計算單元，用于利用所述Druid數(shù)據(jù)庫，對所述性能監(jiān)控單指標(biāo)參數(shù)進(jìn)行聚合計算。

8.如權(quán)利要求7所述的基于應(yīng)用性能監(jiān)控的單指標(biāo)參數(shù)采集裝置，其特征在于，所述單指標(biāo)參數(shù)聚合計算單元包括：

單指標(biāo)參數(shù)聚合計算子單元，用于利用所述Druid數(shù)據(jù)庫，根據(jù)指標(biāo)名稱、指標(biāo)類型、指標(biāo)采集頻率、指標(biāo)所屬類別、指標(biāo)所屬應(yīng)用、指標(biāo)所屬鏈路ID以及采集時間對所述性能監(jiān)控單指標(biāo)參數(shù)進(jìn)行聚合計算。

9.一種電子設(shè)備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述程序時實現(xiàn)權(quán)利要求1至4任一項所述基于應(yīng)用性能監(jiān)控的單指標(biāo)參數(shù)采集方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)權(quán)利要求1至4任一項所述基于應(yīng)用性能監(jiān)控的單指標(biāo)參數(shù)采集方法的步驟。