[發(fā)明專利]一種光學鏡片檢測治具及定位方法

在審

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• 申請日: 2021-07-01
• 公開（公告）號: CN113188774A
• 公開（公告）日: 2021-07-30
• 發(fā)明（設計）人: 唐明智
• 申請（專利權）人: 南通環(huán)球光學儀器有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01M11/08;G01N21/95;G01N21/59;G01B5/06;B25B11/00
• 代理公司: 北京市領專知識產權代理有限公司 11590
• 代理人: 宗亞娟

本發(fā)明公開了一種光學鏡片檢測治具及定位方法，包括底座，所述底座的上部一側位置固定安裝有第一立板，所述底座的上部靠近另一側位置固定安裝有第二立板，所述第一立板的一側居中位置固定安裝有激光器，所述第二立板的一側固定安裝有透光率檢測儀，所述第二立板與透光率檢測儀接觸面開設有通孔，所述底座的上部位于第二立板的一側位置設有抗壓檢測結構，所述底座的上表面位于第一立板和第二立板之間開設有第一T形槽。本發(fā)明所述的一種光學鏡片檢測治具及定位方法，具備透光率檢測、外觀檢測、厚度檢測和抗壓能力檢測功能，功能齊全，操作方便，而且能夠適用于各種不同大小、不同形狀的光學鏡片，適用范圍廣泛。

技術領域

本發(fā)明涉及檢測治具領域，具體涉及一種光學鏡片檢測治具及定位方法。

背景技術

光學鏡片在生產后，需要對其進行各方面的檢測，從而判斷其是否屬于合格產品，主要為了保證質量，避免不良產品流入市場影響產品口碑，在檢測的時候則需要使用到檢測治具；

但是現有的光學鏡片檢測治具在使用時存在著一定的不足之處有待改善，首先，現有的光學鏡片檢測治具在夾持光學鏡片后，光學鏡片無法進行翻轉、移動，導致人們需要取下光學鏡片進行外觀檢測，使用不方便，而且在頻繁拿放的過程中容易出現摔壞的現象，安全性差；其次，現有的光學鏡片檢測治具無法對光學鏡片的厚度進行檢測，需要通過外部工具手持鏡片進行測量，一方面厚度檢測精度差，另一方面使用更加繁瑣，使用效果差；此外，現有的光學鏡片檢測治具不具備抗壓能力測試功能，無法對光學鏡片的抗壓能力進行檢測，無法得知光學鏡片在多大的壓力下會出現破碎、裂痕的現象，功能性單一。

發(fā)明內容

本發(fā)明的主要目的在于提供一種光學鏡片檢測治具及定位方法，可以有效解決背景技術中：現有的光學鏡片檢測治具在夾持光學鏡片后，光學鏡片無法進行翻轉、移動，導致人們需要取下光學鏡片進行外觀檢測，使用不方便，而且在頻繁拿放的過程中容易出現摔壞的現象，安全性差；其次，現有的光學鏡片檢測治具無法對光學鏡片的厚度進行檢測，需要通過外部工具手持鏡片進行測量，一方面厚度檢測精度差，另一方面使用更加繁瑣，使用效果差；此外，現有的光學鏡片檢測治具不具備抗壓能力測試功能，無法對光學鏡片的抗壓能力進行檢測，無法得知光學鏡片在多大的壓力下會出現破碎、裂痕的現象，功能性單一的技術問題。

為實現上述目的，本發(fā)明采取的技術方案為：

一種光學鏡片檢測治具，包括底座，所述底座的上部一側位置固定安裝有第一立板，所述底座的上部靠近另一側位置固定安裝有第二立板，所述第一立板的一側居中位置固定安裝有激光器，所述第二立板的一側固定安裝有透光率檢測儀，所述第二立板與透光率檢測儀接觸面開設有通孔，所述底座的上部位于第二立板的一側位置設有抗壓檢測結構，所述底座的上表面位于第一立板和第二立板之間開設有第一T形槽，所述第一T形槽的上部滑動連接有滑板，所述滑板的上表面開設有第二T形槽，所述第二T形槽的上部滑動連接有第一夾塊和第二夾塊，所述滑板的內部轉動連接有絲桿，所述第一夾塊、第二夾塊與底座之間設有外觀檢測結構，所述第二夾塊的上部設有厚度檢測結構。

作為本發(fā)明的進一步方案，所述抗壓檢測結構包括有L形板、滑槽、第一夾板、第二夾板、第一螺桿、第二螺桿和壓力傳感器，所述L形板固定安裝在底座與第二立板之間，所述滑槽開設在底座的上表面位于L形板的內側，所述第一夾板和第二夾板對稱滑動連接在滑槽的上部，所述第一螺桿活動連接在底座的內部靠近另一側位置，所述第二螺桿貫穿L形板的中心位置，所述壓力傳感器轉動連接在第二螺桿的底端。

作為本發(fā)明的進一步方案，所述第一夾板和第二夾板與滑槽之間呈燕尾形結構滑動，所述第一螺桿分別與第一夾板和第二夾板螺紋連接。

作為本發(fā)明的進一步方案，所述第一夾板和第二夾板的相對面均開設有V字形槽，所述第二螺桿和第一螺桿的一端均固定連接有手柄。

作為本發(fā)明的進一步方案，所述絲桿與第一夾塊和第二夾塊螺紋連接，所述第一夾塊和第二夾塊的形狀均為楔形。