[發(fā)明專利]暗室組件與檢測(cè)設(shè)備在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110738500.5 | 申請(qǐng)日: | 2021-06-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113418941A | 公開(公告)日: | 2021-09-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王盼;王琴;楊劍波 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市福瑞康科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N23/04 | 分類號(hào): | G01N23/04 |
| 代理公司: | 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44205 | 代理人: | 謝岳鵬 |
| 地址: | 518107 廣東省深圳市光明新區(qū)新*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 暗室 組件 檢測(cè) 設(shè)備 | ||
1.暗室組件,其特征在于,包括:
暗室主體,具有腔體與檢測(cè)通道,所述腔體在所述暗室主體上形成供樣本進(jìn)出所述腔體的第一開口,所述檢測(cè)通道與所述腔體連通;
檢測(cè)裝置,與所述暗室主體連接,能夠通過所述檢測(cè)通道對(duì)所述腔體內(nèi)的樣本進(jìn)行檢測(cè);
第一遮光件,與所述暗室主體連接,并能夠相對(duì)所述暗室主體移動(dòng)以關(guān)閉或者打開所述檢測(cè)通道;
第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu),與所述暗室主體連接,用于驅(qū)動(dòng)所述第一遮光件移動(dòng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的暗室組件,其特征在于,還包括至少兩個(gè)傳感器,至少兩個(gè)所述傳感器沿所述第一遮光件的移動(dòng)方向與所述暗室主體連接,能夠分別被移動(dòng)至不同位置的所述第一遮光件觸發(fā)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的暗室組件,其特征在于,所述暗室主體圍繞形成所述腔體的箱壁有多個(gè)通孔與多個(gè)第一凹槽,所述通孔與所述第一凹槽的數(shù)量均與所述傳感器的數(shù)量相等,所述通孔貫通所述箱壁,所述第一凹槽位于所述暗室主體的外表面,且與所述第一通孔連通,所述傳感器位于對(duì)應(yīng)的所述通孔內(nèi);
所述暗室組件還包括第二遮光件,所述第二遮光件連接于所述暗室主體的外側(cè),覆蓋所述通孔并至少延伸至所述第一凹槽的部分槽段。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的暗室組件,其特征在于,所述第一遮光件具有第一限位部,所述暗室主體具有第二限位部,當(dāng)所述第一遮光件移動(dòng)至關(guān)閉位置、打開位置、沿所述第一遮光件的移動(dòng)行程超出所述關(guān)閉位置的第一極限位置或者沿所述第一遮光件的移動(dòng)行程超出所述打開位置的第二極限位置時(shí),所述第一限位部與所述第二限位部相互接觸。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的暗室組件,其特征在于,所述第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)包括:
動(dòng)力裝置,位于所述暗室主體的外側(cè);
齒輪,位于所述腔體內(nèi),與所述動(dòng)力裝置連接,能夠被所述動(dòng)力裝置驅(qū)動(dòng)而發(fā)生轉(zhuǎn)動(dòng);
齒條,位于所述腔體內(nèi),與所述齒輪嚙合,并與所述第一遮光件連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的暗室組件,其特征在于,還包括直線滑軌,所述第一遮光件通過所述直線滑軌與所述暗室主體的內(nèi)壁連接,所述齒輪與齒條均位于所述第一遮光件與所述內(nèi)壁之間的間隙內(nèi)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的暗室組件,其特征在于,所述第一遮光件朝向所述檢測(cè)通道的側(cè)面具有第一遮光凸緣,當(dāng)所述第一遮光件移動(dòng)至關(guān)閉位置時(shí),所述檢測(cè)端距離所述側(cè)面的距離小于所述第一遮光凸緣的高度,且所述第一遮光凸緣位于所述檢測(cè)端與所述第一開口之間。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的暗室組件,其特征在于,所述側(cè)面還具有第二遮光凸緣與第三遮光凸緣,所述第二遮光凸緣與所述第三遮光凸緣分別連接于所述第一遮光凸緣的兩端,并與所述第一遮光凸緣共同圍繞形成凹槽,當(dāng)所述第一遮光件移動(dòng)至關(guān)閉位置時(shí),所述檢測(cè)端位于所述凹槽內(nèi)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的暗室組件,其特征在于,還包括暗室門與第二驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu),所述暗室門與所述暗室主體連接,并能夠相對(duì)所述暗室轉(zhuǎn)動(dòng)以關(guān)閉或者打開所述第一開口,第二驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)與所述暗室主體連接,用于驅(qū)動(dòng)所述暗室門轉(zhuǎn)動(dòng)。
10.檢測(cè)設(shè)備,其特征在于,包括權(quán)利要求1至9中任一項(xiàng)所述的暗室組件。
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G01N23-02 .通過使輻射透過材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
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G01N23-221 ..利用活化分析法
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