[發(fā)明專利]鍵盤測(cè)試模組在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110736724.2 | 申請(qǐng)日: | 2021-06-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113447806A | 公開(公告)日: | 2021-09-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃萬(wàn)演;鄺家輝;黃心填;祝國(guó)昌;張琛星 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 歐拓飛科技(珠海)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/327 | 分類號(hào): | G01R31/327 |
| 代理公司: | 廣州市紅荔專利代理有限公司 44214 | 代理人: | 王賢義 |
| 地址: | 519000 廣東省珠海*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 鍵盤 測(cè)試 模組 | ||
本發(fā)明公開了一種鍵盤測(cè)試模組,旨在提供一種結(jié)構(gòu)緊湊、測(cè)試效率高及能夠?qū)崿F(xiàn)自動(dòng)化的鍵盤測(cè)試模組。本發(fā)明包括機(jī)座,所述機(jī)座中設(shè)置有從下到上依次設(shè)置的Y軸運(yùn)動(dòng)模組、載板組件、壓板組件、電磁鐵模組及第一Z軸運(yùn)動(dòng)模組,所述Y軸運(yùn)動(dòng)模組上配合設(shè)置有第二Z軸運(yùn)動(dòng)模組,所述第二Z軸運(yùn)動(dòng)模組驅(qū)動(dòng)所述載板組件運(yùn)動(dòng),所述電磁鐵模組的下端配合設(shè)置在所述壓板組件上,所述第一Z軸運(yùn)動(dòng)模組驅(qū)動(dòng)位于所述電磁鐵模組上方的若干個(gè)砝碼運(yùn)動(dòng)。本發(fā)明應(yīng)用于鍵盤測(cè)試的技術(shù)領(lǐng)域。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種鍵盤測(cè)試模組。
背景技術(shù)
在計(jì)算機(jī)的使用過程中,我們必不可少使用到鍵盤產(chǎn)品,鍵盤是用于操作設(shè)備運(yùn)行的一種指令和數(shù)據(jù)輸入裝置,也指經(jīng)過系統(tǒng)安排操作一臺(tái)機(jī)器或設(shè)備的一組功能鍵,如打字機(jī)、電腦鍵盤。鍵盤是最常用也是最主要的輸入設(shè)備,通過鍵盤可以將英文字母、數(shù)字、標(biāo)點(diǎn)符號(hào)等輸入到計(jì)算機(jī)中,從而向計(jì)算機(jī)發(fā)出命令、輸入數(shù)據(jù)等。從第一臺(tái)打印機(jī)開始直至現(xiàn)在的家庭電腦,鍵盤的使用總是密不可分的,它可以是輸入指令的效率大大提高,方便人類提高工作效率,也有越來越多形狀功能繁多的鍵盤產(chǎn)品被研發(fā)出來,因此對(duì)鍵盤產(chǎn)品產(chǎn)量要求和技術(shù)工藝要求也在逐步提高 。而現(xiàn)階段,市面上主要使用的鍵盤按工作原理分類分為機(jī)械鍵盤、塑料薄膜式鍵盤、導(dǎo)電橡膠式鍵盤、無(wú)接電靜電電容鍵盤,其中塑料薄膜式鍵盤無(wú)機(jī)械磨損。其特點(diǎn)是低價(jià)格、低噪音和低成本,已占領(lǐng)市場(chǎng)絕大部分份額,被大量使用于我們的日常生活中,而這鍵盤現(xiàn)在市面上主要的測(cè)試類型包括鍵盤電氣特性測(cè)試、鍵盤高低溫老化試驗(yàn)機(jī)、鍵盤按鍵反應(yīng)測(cè)試、鍵盤key feeling測(cè)試、鍵盤內(nèi)部光源光通量測(cè)試等。
在一公開號(hào)為CN202939283U的中國(guó)專利中,其公開了一種鍵盤按鍵功能觸感測(cè)試機(jī),其具有工作平臺(tái)以及設(shè)置在工作平臺(tái)上的驅(qū)動(dòng)模組和傳感器模組;所述傳感器模組具有傳感器定位板和感測(cè)器;所述傳感器定位板上至少固定有一個(gè)感測(cè)器。本發(fā)明的傳感器模組具有傳感器定位板和感測(cè)器;所述傳感器定位板上至少固定有一個(gè)感測(cè)器;可以利用感測(cè)器測(cè)量按鍵力量并反饋;同時(shí),在不會(huì)形成鬼鍵的情況下,采用多個(gè)感測(cè)器,可以達(dá)到多按鍵同時(shí)測(cè)試,提升測(cè)試速度的目的,縮短測(cè)試時(shí)間。顯然,該專利存在測(cè)試效率低及測(cè)試成本高的情況;此外,現(xiàn)有的鍵盤過靈敏測(cè)試是通過人工將40克砝碼,依次放在鍵盤的每個(gè)按鍵上,看是否有觸發(fā)按鍵。主要的問題點(diǎn)是測(cè)試成本高,生產(chǎn)效率低,不穩(wěn)定不能實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化,無(wú)法滿足生產(chǎn)和市場(chǎng)的需求。因此目前需要研發(fā)出一種結(jié)構(gòu)緊湊、測(cè)試效率高及能夠?qū)崿F(xiàn)自動(dòng)化的鍵盤測(cè)試模組。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供了一種結(jié)構(gòu)緊湊、測(cè)試效率高及能夠?qū)崿F(xiàn)自動(dòng)化的鍵盤測(cè)試模組。
本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是:本發(fā)明包括機(jī)座,所述機(jī)座中設(shè)置有從下到上依次設(shè)置的Y軸運(yùn)動(dòng)模組、載板組件、壓板組件、電磁鐵模組及第一Z軸運(yùn)動(dòng)模組,所述Y軸運(yùn)動(dòng)模組上配合設(shè)置有第二Z軸運(yùn)動(dòng)模組,所述第二Z軸運(yùn)動(dòng)模組驅(qū)動(dòng)所述載板組件運(yùn)動(dòng),所述電磁鐵模組的下端配合設(shè)置在所述壓板組件上,所述第一Z軸運(yùn)動(dòng)模組驅(qū)動(dòng)位于所述電磁鐵模組上方的若干個(gè)砝碼運(yùn)動(dòng)。
進(jìn)一步,所述電磁鐵模組包括電磁鐵座,所述電磁鐵座上設(shè)置有矩陣板及與所述矩陣板連接的若干個(gè)電磁鐵。
進(jìn)一步,所述Y軸運(yùn)動(dòng)模組包括直線滑軌及無(wú)桿氣缸,所述直線滑軌上滑動(dòng)配合有滑動(dòng)板,所述無(wú)桿氣缸驅(qū)動(dòng)所述滑動(dòng)板在所述直線滑軌上滑動(dòng),所述第一Z軸運(yùn)動(dòng)模組設(shè)置在所述滑動(dòng)板上。
進(jìn)一步,所述第一Z軸運(yùn)動(dòng)模組包括第一Z軸氣缸、固定座及砝碼座,所述第一Z軸氣缸設(shè)置在所述固定座上,所述第一Z軸氣缸驅(qū)動(dòng)所述砝碼座移動(dòng),所述砝碼座與所述固定座之間設(shè)置有導(dǎo)向組件,若干個(gè)所述砝碼設(shè)置在所述砝碼座上。
進(jìn)一步,所述第二Z軸運(yùn)動(dòng)模組為第二Z軸氣缸
進(jìn)一步,所述載板組件包括載板,所述載板上設(shè)有產(chǎn)品放置工位及排線壓扣組件,所述產(chǎn)品放置工位上設(shè)置有產(chǎn)品粗定位銷及產(chǎn)品精定位銷,所述載板的下端設(shè)置有第一導(dǎo)柱,所述滑動(dòng)板上設(shè)置有與所述第一導(dǎo)柱相配合的第一導(dǎo)套。
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
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