[發明專利]測試設備

有效

• 申請號: 202110731617.0
• 申請日: 2021-06-28
• 公開（公告）號: CN113267656B
• 公開（公告）日: 2023-04-07
• 發明（設計）人: 景凱凱;程朋昌;王存敬;丁永勝
• 申請（專利權）人: 歌爾科技有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067;G01R1/073;G01R27/02
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 關向蘭

本發明公開一種測試設備，用于測試待測產品，該待測產品具有多個待測觸點，該測試設備包括測試臺、驅動模組以及探測模組，所述測試臺設有定位座，所述定位座用于承載和固定所述待測產品；所述驅動模組設于所述測試臺；所述探測模組包括力反饋裝置和第一探針，所述力反饋裝置設于所述驅動模組的輸出端，并與所述第一探針連接；所述力反饋裝置與所述驅動模組電連接，并用于檢測所述第一探針受到的壓力大小；其中，所述驅動模組用于驅動所述第一探針靠近或遠離所述待測觸點，以調節所述第一探針與所述待測觸點的抵緊力。本發明提出的測試設備能夠對待測產品上的待測觸點進行可靠的功能測試。

技術領域

本發明涉及產品測試技術領域，特別涉及一種測試設備。

背景技術

智能電子產品往往集成了多種檢測功能，檢測功能需借助智能電子產品上的檢測觸點實現，產品驗收前需要進行檢測觸點的功能測試。

在相關技術中，以智能電子產品上檢測觸點之間的阻抗測試為例，智能電子產品上檢測觸點的功能測試主要有人工檢測和扎針工裝檢測兩種方式，在人工檢測方式中，檢測人員借助電流表、電壓表等檢測工具的探針接觸智能電子產品上多個檢測觸點，通過電流表、電壓表的上顯示的數值判斷智能電子產品上多個檢測觸點之間的阻抗是否合格。在扎針工作檢測方式中，測試儀器根據測試指令，控制下壓氣缸驅動探針接觸智能電子產品上檢測觸點，測試儀器通過探針檢測多個檢測觸點之間的阻抗是否合格。無論是人工借助檢測工具檢測還是扎針裝置檢測，都難以準確控制探針對檢測觸點施加的下壓力，在該下壓力過小時，探針和檢測觸點可能相互滑脫而接觸不良，而導致檢測結果不準確；在該下壓力過大時，探針容易損傷檢測觸點，而導致產品損壞，因此上述兩種檢測方式的可靠性較差。

發明內容

本發明的主要目的是提出一種測試設備，旨在提升測試設備對待測產品上觸點功能檢測的可靠性。

為實現上述目的，本發明提出了一種測試設備，用于測試待測產品，所述待測產品具有多個待測觸點，所述測試設備包括：

測試臺，所述測試臺設有定位座，所述定位座用于承載和固定所述待測產品；

驅動模組，所述驅動模組設于所述測試臺；及

探測模組，所述探測模組包括力反饋裝置和第一探針，所述力反饋裝置設于所述驅動模組的輸出端，并與所述第一探針連接；所述力反饋裝置與所述驅動模組電連接，并用于檢測所述第一探針受到的壓力大小；

其中，所述驅動模組用于驅動所述第一探針靠近或遠離所述待測觸點，以調節所述第一探針與所述待測觸點的抵緊力。

在本發明的一實施例中，所述驅動模組包括安裝塊和具有輸出軸的機械臂；

所述機械臂具有連接所述測試臺的連接端和遠離所述連接端的自由端，所述輸出軸活動穿設于所述自由端；

所述安裝塊設于所述輸出軸的一端，所述安裝塊具有凸出于所述輸出軸外壁的安裝凸部，所述力反饋裝置一端連接所述安裝凸部，另一端連接所述第一探針。

在本發明的一實施例中，所述安裝塊設有過線孔，所述測試設備還包括穿設于所述輸出軸和所述過線孔內的第一導線和第二導線；

所述第一導線連接所述第一探針和所述機械臂，所述第二導線連接所述力反饋裝置和所述機械臂。

在本發明的一實施例中，所述測試設備還包括防護罩和攝像模組；

所述防護罩設于所述測試臺，并與所述測試臺圍合形成容置腔，所述防護罩設有連通所述容置腔的送料口；

所述驅動模組位于所述容置腔內，所述攝像模組設于所述驅動模組的輸出端，并與所述驅動模組電連接，所述攝像模組用于采集所述待測觸點的圖像信息；

所述定位座與所述測試臺活動連接，并可穿過所述送料口靠近或遠離所述攝像模組移動。