[發明專利]一種陣列式連接件缺失檢測方法及系統在審
| 申請號: | 202110731280.3 | 申請日: | 2021-06-30 |
| 公開(公告)號: | CN113311497A | 公開(公告)日: | 2021-08-27 |
| 發明(設計)人: | 王達磊;馬云龍;董一慶;潘玥 | 申請(專利權)人: | 同濟大學 |
| 主分類號: | G01V8/10 | 分類號: | G01V8/10;G01B11/00 |
| 代理公司: | 上海科盛知識產權代理有限公司 31225 | 代理人: | 陳天寶 |
| 地址: | 200092 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 陣列 連接 缺失 檢測 方法 系統 | ||
1.一種陣列式連接件缺失檢測方法,其特征在于,包括以下步驟:
基于預設編碼字典,生成各個區域的連接件陣列(1)對應的編碼(2);
將編碼(2)以載體或直接標記的形式對應設于連接件陣列(1)上或其附近的可視位置;
通過設于連接件陣列(1)附件的監測工作站(3)獲取各個連接件陣列(1)及對應編碼(2)的檢測圖像;
對獲取的檢測圖像進行預處理;
解算預處理后檢測圖像中的編碼(2),得到各個連接件陣列(1)的預設的排列信息、數量信息;
對預處理后檢測圖像中的每個連接件進行識別,得到各個連接件陣列(1)的當前排列信息、數量信息;
比較當前排列信息、數量信息與預設的排列信息、數量信息,得到缺失信息結果。
2.根據權利要求1所述的一種陣列式連接件缺失檢測方法,其特征在于,所述編碼(2)為二維碼、一維碼、字符串、棋盤格中的一種或多種的組合。
3.根據權利要求1所述的一種陣列式連接件缺失檢測方法,其特征在于,所述預處理過程為:對檢測圖像進行透視變換,得到連接件陣列(1)及對應信息編碼(2)的正視圖,實現圖像的矯正。
4.根據權利要求1所述的一種陣列式連接件缺失檢測方法,其特征在于,所述排列信息包括連接件陣列(1)中每個連接件幾何中心坐標;
所述數量信息包括連接件陣列(1)的行數、列數及每行每列對應的連接件數。
5.根據權利要求1所述的一種陣列式連接件缺失檢測方法,其特征在于,對預處理后檢測圖像中的每個連接件進行識別過程中,通過基于深度學習的目標檢測算法或基于圖形學的輪廓識別算法識別連接件。
6.根據權利要求1所述的一種陣列式連接件缺失檢測方法,其特征在于,所述編碼(2)還包括結構編碼,所述結構編碼包括透視變換所需要的標定信息、基于深度學習的目標檢測算法或基于圖形學的輪廓識別算法所需要特定的參數和/或閾值。
7.根據權利要求1所述的一種陣列式連接件缺失檢測方法,其特征在于,比較當前排列信息、數量信息與預設的排列信息、數量信息過程中,包括:
直接數量校核,基于各個連接件陣列(1)中連接件的數量與編碼(2)中記錄的連接件的數量進行對比,對特定連接件陣列(1)的缺失狀態進行定性和定量;
點陣匹配校核,基于對預處理后檢測圖像進行Canny圖像邊緣檢測或基于深度學習的目標檢測算法,計算出邊緣輪廓幾何中心對應的坐標,與編碼(2)中記錄的每個連接件幾何中心坐標進行匹配,得出精確的缺失位置,并實現對直接數量校核結果進行精確校核。
8.根據權利要求1所述的一種陣列式連接件缺失檢測方法,其特征在于,所述監測工作站(3)包括:
工作軌道(31);
工作臺(32),設于所述工作軌道(31)上,并可沿所述工作軌道(31)進行位移;
拍攝單元(33),設于所述工作臺(32)上,能夠移動至工作軌道(31)的特定位置并以特定姿態拍攝各個連接件陣列(1)及對應編碼(2)的檢測圖像。
9.一種陣列式連接件缺失檢測系統,其特征在于,包括:
編碼(2),以載體或直接標記的形式對應設于連接件陣列(1)上或其附近的可視位置;
工作軌道(31);
工作臺(32),設于所述工作軌道(31)上,并可沿所述工作軌道(31)進行位移;
拍攝單元(33),設于所述工作臺(32)上,能夠移動至工作軌道(31)的特定位置并以特定姿態拍攝各個連接件陣列(1)及對應編碼(2)的檢測圖像;
后臺單元,與所述拍攝單元(33)無線或有線通信連接,后臺單元對獲取的檢測圖像進行預處理,解算預處理后檢測圖像中的編碼(2),得到各個連接件陣列(1)的預設的排列信息、數量信息,對預處理后檢測圖像中的每個連接件進行識別,得到各個連接件陣列(1)的當前排列信息、數量信息,最后比較當前排列信息、數量信息與預設的排列信息、數量信息,得到缺失信息結果。
10.根據權利要求9所述的一種陣列式連接件缺失檢測系統,其特征在于,所述后臺單元包括微處理器、RAM和ROM,所述微處理器與所述拍攝單元(33)電連接。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于同濟大學,未經同濟大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110731280.3/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:生產線、方法、以及燒結制品
- 下一篇:一種流向檢測裝置





