[發明專利]電路檢查裝置

在審

• 申請號: 202110725395.1
• 申請日: 2021-06-29
• 公開（公告）號: CN114076887A
• 公開（公告）日: 2022-02-22
• 發明（設計）人: 樸炳圭
• 申請（專利權）人: 起翔有限公司;樸炳圭
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京青松知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11384
• 代理人: 鄭青松

本發明涉及電路檢查裝置，更詳細地說，涉及在電子產品的制造工藝中用于導通檢查及運行特性檢查的電路檢查裝置。本發明公開了一種電路檢查裝置，包括：容納夾具(100)，在上部形成有排成一列的多個容納槽(110)；多個探針(1)，安裝在所述多個容納槽(110)；主體部(200)，結合于所述容納夾具(100)，并且形成有與所述多個容納槽(110)對應的開口部(210)，以使探針(1)的至少一部分暴露到上側。

技術領域

本發明涉及電路檢查裝置，更詳細地說，涉及在電子產品的制造工藝中用于導通檢查及運行特性檢查的電路檢查裝置。

背景技術

對于相機或者液晶面板等的電子產品模塊，在其制造工藝中執行導通檢查及運行特性檢查等，為了實施這種檢查，使用探針連接用于與設置在電子產品模塊的主體基板連接的FPC接觸電極或者裝貼的基板對基板連接器等的電極部與檢查裝置。

即，在連接電子產品模塊內的電極部和檢查裝置時，可靈活利用探針電連接電極部和檢查裝置，此時探針在電子產品模塊的電極端子和檢查裝置之間通過適當的接觸壓力可穩定接觸。

另一方面，利用如上所述的探針的電路檢查裝置在以往使用了包括彈簧的彈簧針，但是在該情況下，檢查對象和檢查裝置之間的通電路徑增加，進而增加電阻，據此存在要求高電力的問題。

另外，以往的利用探針的電路檢查裝置在探針或者彈簧針結合于插座內部的狀態下模塊化來制作及出廠，因此存在在一部分探針或者彈簧針存在缺陷或者受損的情況下需要將整個模塊更換的問題。

另外，電路檢查裝置均勻配置多個探針，進而存在在通過電接觸改善特性上存在局限性的問題。

另一方面，近來用于高畫質顯示、IOT、自動行駛汽車等的高速傳輸數據的技術必要性增加。

在1Gbps以上的高速數據傳輸中探針應由差分(differential)信號構成，而非通常方式的單端(single ended)方式，而且阻抗匹配根據各個頻帶分別的探針和包圍該探針的模塊而發生變化。

此時，根據各種狀況進行阻抗匹配是必須的，為此需要通過HFSS仿真等將頻率的共振區間最小化的過程。

發明內容

本發明的目的在于，為了解決如上所述的本發明的問題，提供一種提高檢查對象和檢查裝置之間的接觸可靠性的同時接觸電阻低的電路檢查裝置。

本發明是為了達到如上所述的目的而提出的，本發明公開了一種電路檢查裝置，包括：容納夾具100，在上部形成有排成一列的多個容納槽110；多個探針1，安裝在所述多個容納槽110；主體部200，結合于所述容納夾具100，并且形成有與所述多個容納槽110對應的開口部210，以使探針1的至少一部分暴露到上側。

所述多個容納槽110為以長度方向橫跨所述容納夾具100的寬度中心的虛擬中心線L為基準能夠以長度方向左右對稱形成。

所述多個容納槽110為以長度方向橫跨所述容納夾具100的寬度中心的虛擬中心線L為基準能夠以長度方向在平面上左右錯開的交替形成。

所述多個容納槽110針對所述容納夾具100的長度方向能夠以垂直方向形成。

所述容納夾具100還可包括第一容納槽120及第二容納槽130，所述第一容納槽120及第二容納槽130在兩端針對所述多個容納槽110以垂直方向形成，以分別容納單一探針1。

所述電路檢查裝置可包括蓋部300，所述蓋部300設置成在所述主體部200的上側能夠以上下方向移動，通過加壓的上下移動將所述探針1的至少一部分暴露到上側。

所述蓋部300可包括：蓋板310，對應于所述多個容納槽110形成有多個開口槽311；多個彈性體320，配置在所述蓋板310和所述主體部200之間，通過壓縮及恢復力可上下移動所述蓋板310。