[發明專利]一種基于矢網的T/R組件多態S參數測量系統

在審

• 申請號: 202110721609.8
• 申請日: 2021-06-28
• 公開（公告）號: CN113447898A
• 公開（公告）日: 2021-09-28
• 發明（設計）人: 金瑾;唐理文;林亮;冉亮;周艷;蔡寧霞;吳文燕;谷曉陽;王晨;唐琨;胡勇
• 申請（專利權）人: 四創電子股份有限公司
• 主分類號: G01S7/40
• 分類號: G01S7/40
• 代理公司: 北京和信華成知識產權代理事務所(普通合伙) 11390
• 代理人: 李漫

本發明公開了一種基于矢網的T/R組件多態S參數測量系統，包括矢量網絡分析儀，用于測試TR組件的S參數指標；波控板，用于提供TR組件必要的控制信號，來控制TR組件切換對應的衰減、移相或延時狀態；上位機軟件，用于對矢量網絡分析儀和波控模塊進行總體的控制，并完成相關必要的邏輯設置，由于TR組件狀態較多，衰減64態，移相64態再加上延時態，本發明利用矢量網絡分析儀的段掃，點觸發，外觸發的方法，大大降低TR組件的測試時間，使設計研究人員能夠更快的發現問題與解決問題，更快的獲得反饋，為我國雷達、航天等事業的發展增添了動力。

技術領域

本發明屬于涉及雷達，射頻，航天技術領域，具體是一種基于矢網的T/R組件多態S參數測量系統。

背景技術

T/R組件大量應用于有源相控陣雷達，主要用于實現對發射信號的放大、對接收信號的放大以及對信號幅度、相位的控制，由低噪放、功放、限幅器、移相器等組成，一部相控陣雷達包含成百上千個T/R組件。T/R組件的成本占據整個雷達的50％以上，其中，移相、衰減、延時等不同狀態對應的S參數統稱為多態S參數是T/R組件必須關注的指標。

每個組件必須進行幾十項指標的測試，如果采用手工方式測試，將消耗巨大的時間成本，所以目前T/R組件一般采用對應的自動化測試系統，并且由于T/R的種類各異，需求各異，數量巨大，對精度和時間要求較高等因素，往往不會采用通用的自動測試系統進行處理，而選擇定制化的專用測試系統來保證其精度和測試時間要求，其中多態S參數往往會成為測試系統時間因素的重要瓶頸。

針對常規的T/R組件多態S參數測試，目前存在以下問題：

常規的測試方法一般會采用上位機發送某態的指令給波控板，波控板發送該指令對應的控制信號給T/R組件進行控制，最后由上位機從矢網上讀取該態的S參數結果并記錄，接著往復循環該過程直至數百種狀態全部測試完畢。該方法是最常使用的方法，但是由于經過無數次重復循環操作，導致占用了大量的測試時間，而測試時間是衡量一個T/R組件自動化測試系統的重要指標。

發明內容

本發明的目的在于提供一種基于矢網的T/R組件多態S參數測量系統，使T/R組件多態S參數測試時間有一個大幅度的時間上質變，如果該測試項目的時間能夠有效降低，則將降低對T/R組件的全生命周期的測試時間，有效提高T/R的生產測試效率，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種基于矢網的T/R組件多態S參數測量系統，包括上位機、矢量網絡分析儀、波控板和T/R組件，所述上位機的輸入端通過LAN或GPIB與矢量網絡分析儀連接，所述上位機的輸出端同波控板的輸入端連接，所述波控板的輸出端同T/R組件的輸入端連接，所述T/R組件的輸出端同矢量網絡分析儀輸入端連接；

所述上位機對矢量網絡分析儀設置處理模塊，所述處理模塊用于控制與讀取數據；

所述波控板包括波控模塊，用于接收上位機的下發控制指令，并提供T/R組件必要的控制信號，來控制T/R組件切換對應的衰減、移相或延時狀態；

所述T/R組件根據控制信號對不同狀態的S參數進行測試，并傳送給矢量網絡分析儀。

作為本發明再進一步的方案：所述上位機對矢量網絡分析儀設置處理模塊還包括設置矢網掃描模式，所述矢網掃描模式為分段掃描，其分段方式具體為測量1.0G-1.1G，21個頻點的被測件衰減64態數據，則分為21段，每段中設置64個數據點，起始終止頻率設為相同并隨段數增加，即第一段1.0G、第二段1.005G、第三段1.01G……第N段為1.0G+(N-1)*0.005G，且0＜N≤21，N取整數；

設置矢網掃描模式為外觸發方式，即每接收到一次測量觸發信號進行一次測試掃描；

設置矢網測量觸發信號模式為點觸發；

設置矢網測量信號觸發沿為上升沿。