[發(fā)明專(zhuān)利]一種靜電檢測(cè)方法、裝置及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110711085.4
• 申請(qǐng)日: 2021-06-25
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113391968A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-09-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 梁川
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 努比亞技術(shù)有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G06F11/22
• 分類(lèi)號(hào): G06F11/22
• 代理公司: 深圳協(xié)成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44458
• 代理人: 章小燕

本發(fā)明提供一種靜電檢測(cè)方法、裝置及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，屬于靜電檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。本申請(qǐng)實(shí)施例所述方法通過(guò)檢測(cè)顯示屏的狀態(tài)模式，并根據(jù)所述狀態(tài)模式確定靜電檢測(cè)策略，當(dāng)通過(guò)靜電檢測(cè)策略確定寄存器數(shù)值為異常數(shù)值時(shí)，針對(duì)所述顯示屏執(zhí)行復(fù)位操作，當(dāng)寄存器數(shù)值為正常數(shù)值時(shí)，進(jìn)一步對(duì)Demura進(jìn)行檢測(cè)或?qū)拇嫫鬟M(jìn)行持續(xù)監(jiān)測(cè)輪詢(xún)，當(dāng)檢測(cè)到Demura數(shù)據(jù)異常時(shí)，主動(dòng)觸發(fā)對(duì)顯示屏進(jìn)行復(fù)位操作，從而能進(jìn)一步彌補(bǔ)在靜電檢測(cè)過(guò)程中因顯示屏IC某些其他寄存器數(shù)據(jù)異常而造成的黑屏問(wèn)題，并且還可以避免由于顯示屏屏體朝下而引起黑屏導(dǎo)致靜電測(cè)試不過(guò)等現(xiàn)象，使顯示屏靜電檢測(cè)及抽檢測(cè)試的異常檢測(cè)精度提高、檢測(cè)效率高效。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及靜電檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種靜電檢測(cè)方法、裝置及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

隨著移動(dòng)通信技術(shù)的發(fā)展，用戶(hù)對(duì)電子設(shè)備(例如智能手機(jī))的要求越來(lái)越高。目前，OLED屏由于其出色的色彩模式，高亮度，高響應(yīng)速度等等這些都是普通液晶屏LCD無(wú)法比擬的，因此OLED屏已成為智能手機(jī)等電子行業(yè)首選。但是OLED屏在靜電方面也存在一些不足。

OLED屏通常帶有ESD(Electro-Static discharge靜電釋放)自檢功能，當(dāng)出現(xiàn)靜電而導(dǎo)致對(duì)應(yīng)的寄存器出現(xiàn)錯(cuò)誤的時(shí)候，LCD會(huì)進(jìn)行自復(fù)位操作，從而出現(xiàn)閃一下黑屏再亮屏的情況。然而，這種檢測(cè)機(jī)制也存在一定的缺陷，比如當(dāng)ESD寄存器沒(méi)有出現(xiàn)異常，但是部分跟顯示相關(guān)的寄存器也會(huì)由于靜電而出現(xiàn)異常，此時(shí)對(duì)LCD也會(huì)有影響，使顯示屏出現(xiàn)黑屏，例如Demura，而此種情況則無(wú)法檢測(cè)出。

再此，國(guó)家在對(duì)顯示屏進(jìn)行靜電測(cè)試抽檢過(guò)程中，其中需要檢測(cè)的一項(xiàng)就是：需要將顯示屏的屏體朝下，水平放置于桌面上，然后對(duì)著攝像頭進(jìn)行放靜電測(cè)試。而在此測(cè)試過(guò)程中，由于顯示屏的屏體朝下，測(cè)試人員無(wú)法感知LCD黑屏是由于光感遮擋或者其他寄存器數(shù)據(jù)異常而引起，必須手動(dòng)拿起來(lái)查看觀察，抽檢效果低下，而且由于屏體朝下導(dǎo)致光感遮擋有時(shí)也會(huì)出現(xiàn)黑屏，如此容易導(dǎo)致靜電測(cè)試不通過(guò)，靜電檢測(cè)精準(zhǔn)度低等現(xiàn)象。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種靜電檢測(cè)方法、裝置及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，旨在解決現(xiàn)有在靜電檢測(cè)過(guò)程中因顯示屏IC其他寄存器數(shù)據(jù)異常而造成的黑屏以及抽檢中屏體朝下造成黑屏導(dǎo)致靜電檢測(cè)精準(zhǔn)度低的問(wèn)題。

本發(fā)明解決上述技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案如下：

本發(fā)明的第一方面提供一種靜電檢測(cè)方法，包括如下步驟：

獲取顯示屏的狀態(tài)模式，并根據(jù)所述狀態(tài)模式確定靜電檢測(cè)策略，所述靜電檢測(cè)策略包括第一策略和第二策略，

所述第一策略包括：

檢測(cè)顯示屏的擺放位置以及擺放方位；

讀取寄存器的數(shù)值，當(dāng)寄存器數(shù)值為異常數(shù)值時(shí)，針對(duì)所述顯示屏執(zhí)行復(fù)位操作；

當(dāng)寄存器數(shù)值為正常數(shù)值時(shí)，進(jìn)一步對(duì)Demura進(jìn)行檢測(cè)；當(dāng)檢測(cè)到Demura數(shù)據(jù)異常時(shí)，主動(dòng)觸發(fā)對(duì)顯示屏進(jìn)行復(fù)位操作；

所述第二策略包括：

讀取寄存器的數(shù)值，當(dāng)寄存器數(shù)值為異常數(shù)值時(shí)，針對(duì)所述顯示屏執(zhí)行復(fù)位操作；

當(dāng)寄存器數(shù)值為正常數(shù)值時(shí)，進(jìn)一步獲取寄存器數(shù)值，并對(duì)寄存器進(jìn)行持續(xù)監(jiān)測(cè)輪詢(xún)；

根據(jù)所述靜電檢測(cè)策略對(duì)所述顯示屏進(jìn)行靜電檢測(cè)

在一些實(shí)施例中，所述顯示屏的狀態(tài)模式包括息屏模式和亮屏模式，當(dāng)處于息屏模式時(shí)，所述顯示屏執(zhí)行所述第一策略進(jìn)行靜電檢測(cè)；

所述處于亮屏模式時(shí)，所述顯示屏執(zhí)行所述第二策略進(jìn)行靜電檢測(cè)。

在一些實(shí)施例中，所述所述第一策略具體包括：