[發明專利]同位素檢測方法

在審

• 申請號: 202110709670.0
• 申請日: 2021-06-25
• 公開（公告）號: CN113504292A
• 公開（公告）日: 2021-10-15
• 發明（設計）人: 俞曉峰;徐岳;于丙文;任建新;陳悠;韓雙來
• 申請（專利權）人: 杭州譜育科技發展有限公司
• 主分類號: G01N27/626
• 分類號: G01N27/626
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.同位素檢測方法，所述同位素檢測方法為：

同位素被離子化后進入多級桿質量分析器，篩選同位素對應元素的質量范圍段；

篩選的離子進入飛行時間質量分析器，在所述飛行時間質量分析器內飛行的上一次進入的離子尚未達到檢測器時，下一次的離子進入所述飛行時間質量分析器內；相鄰二次間的時間差Δt滿足：

D是飛行時間質量分析器中飛行腔長度，e是單位電荷，E是飛行腔內電場強度，Z是總電荷數，m₁是所選元素的最大同位素數，m₂是所選元素的最小同位素數。

2.根據權利要求1所述的同位素檢測方法，其特征在于，所述飛行時間質量分析器包括推斥極、無場飛行區和檢測器，所述無場飛行區包括第一入射柵網；所述飛行時間質量分析器還包括：

牽引電極，所述牽引電極和所述第一入射柵網間形成第一離子加速區；

第一柵網和第二柵網，所述第一柵網和第二柵網間電勢差為零；所述推斥極和第一柵網間，以及第二柵網和牽引電極間形成第二離子加速區；離子依次穿過第一柵網、第二柵網、牽引電極、第一入射柵網和無場飛行區，被所述檢測器接收。

3.根據權利要求2所述的同位素檢測方法，其特征在于，所述飛行時間質量分析器還包括：

反射區，所述反射區包括第一反射場和第二反射場，所述第一反射場包括第二入射柵網和反射電極，第二反射場包括所述反射電極和反射板；從所述無場飛行區出射的離子被所述反射區反射，之后被所述檢測器接收。

4.根據權利要求3所述的同位素檢測方法，其特征在于，所述第二離子加速區和第一反射場、第二反射場滿足：

E₁、E₃、E₄、E₅分別是所述第二離子加速區、第一離子加速區、第一反射場和第二反射場的電場強度，z₀、d_G、d₂、d₃、d₄、d₅分別是入射離子和第一柵網間的距離、第一柵網和第二柵網間的距離、第二柵網和牽引電極間的距離、牽引電極和第一入射柵網間的距離、第二入射柵網和反射電極間的距離、反射電極和反射板間的距離；L是離子在第一入射柵網和檢測器間飛行的長度。

5.根據權利要求3所述的同位素檢測方法，其特征在于，所述第二離子加速區和無場反射區滿足：

E₁、E₃分別是所述第二離子加速區、第一離子加速區的電場強度，z₀、d_G、d₂、d₃分別是入射離子和第一柵網間的距離、第一柵網和第二柵網間的距離、第二柵網和牽引電極間的距離、牽引電極和第一入射柵網間的距離；L是離子在第一入射柵網和檢測器間飛行的長度。

6.根據權利要求2所述的同位素檢測方法，其特征在于，在飛行時間質量分析器中，自上而下地，離子依次穿過第一柵網、第二柵網、第一入射柵網和無場飛行區。

7.根據權利要求1所述的同位素檢測方法，其特征在于，同位素被離子化后，離子前進方向豎直向上。

8.根據權利要求7所述的同位素檢測方法，其特征在于，離子化的具體方式為：

馬達轉動，轉換模塊將馬達的轉動轉換為滑動件的直線移動；

將所述滑動件的直線移動轉換為轉換件的豎直移動，從而帶動與所述轉換件連接的承載件沿著多個導向件豎直移動，設置在所述承載件上的承載單元隨著所述承載件豎直移動；炬管豎直地設置在所述承載單元上，線圈固定在所述承載單元上，并與所述炬管保持相對靜止；

在水平方向上二維調節所述承載單元的位置，所述承載單元設置在二維調節單元上，所述二維調節單元設置在所述承載件上；

樣本進入所述炬管內，通過所述線圈激發成等離子體，從而形成離子；

所述離子穿過采樣錐后進入所述多級桿質量分析器內。