[發(fā)明專利]納米顆粒檢測(cè)微流控芯片和應(yīng)用在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110709251.7 | 申請(qǐng)日: | 2021-06-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113433042A | 公開(公告)日: | 2021-09-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鄧瑾琦;孫佳姝;劉超;田飛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 國(guó)家納米科學(xué)中心 |
| 主分類號(hào): | G01N15/00 | 分類號(hào): | G01N15/00;G01N15/10;G05D23/19;B01L3/00 |
| 代理公司: | 北京市英智偉誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11521 | 代理人: | 劉丹妮 |
| 地址: | 100190 北*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 納米 顆粒 檢測(cè) 微流控 芯片 應(yīng)用 | ||
1.一種納米顆粒檢測(cè)微流控芯片,其特征在于,所述微流控芯片包括溫控機(jī)構(gòu)、腔體和激光器;
其中,所述溫控機(jī)構(gòu)設(shè)置于所述腔體的上方,所述激光器設(shè)置于所述腔體的側(cè)面;
優(yōu)選地,所述微流控芯片還包括固定架。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微流控芯片,其特征在于,所述溫控機(jī)構(gòu)與腔體之間通過(guò)隔熱層隔開;
優(yōu)選地,所述隔熱層的材料選自以下一種或多種:PMMA、PC、尼龍和電木;最優(yōu)選為電木。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的微流控芯片,其特征在于,所述溫控機(jī)構(gòu)包括溫控散熱片、半導(dǎo)體溫控片和導(dǎo)熱片;
優(yōu)選地,所述溫控散熱片與半導(dǎo)體溫控片之間通過(guò)隔熱層隔開;
更優(yōu)選地,所述隔熱層的材料選自以下一種或多種:PMMA、PC、尼龍和電木;最優(yōu)選為電木。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的微流控芯片,其特征在于,所述溫控機(jī)構(gòu)的導(dǎo)熱片上還設(shè)置有溫度傳感器安裝孔,用于安裝溫度傳感器;
優(yōu)選地,所述溫控機(jī)構(gòu)的控制溫度范圍為0~100℃。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的微流控芯片,其特征在于,所述微流控芯片的腔體由上蓋板、下底板和通道層構(gòu)成;
優(yōu)選地,所述上蓋板、通道層、下底板通過(guò)密封膠和/或膠墊實(shí)現(xiàn)密封。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的微流控芯片,其特征在于,所述通道層包含樣本腔,用于存儲(chǔ)檢測(cè)液;
優(yōu)選地,所述樣本腔為通道結(jié)構(gòu);
更優(yōu)選地,所述通道結(jié)構(gòu)尺寸在0.1mm-10mm之間,優(yōu)選為3-5mm。
7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的微流控芯片,其特征在于,所述激光器設(shè)置于所述微流控芯片腔體通道層的側(cè)面照射通道層;
優(yōu)選地,所述通道層的側(cè)面材料為透明材料;
更優(yōu)選地,所述通道層的側(cè)面材料選自以下一種或多種:PDMS、PMMA、玻璃和石英。
8.根據(jù)權(quán)利要求5至7中任一項(xiàng)所述的微流控芯片,其特征在于,所述上蓋板包括入口和出口,用于導(dǎo)入和導(dǎo)出檢測(cè)液;和/或
所述下底板的材料為透明材料;優(yōu)選地,所述下底板的材料選自以下一種或多種:PDMS、PMMA、玻璃和石英。
9.一種納米顆粒檢測(cè)方法,其特征在于,所述檢測(cè)方法包括使用權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的微流控芯片對(duì)納米顆粒進(jìn)行檢測(cè)。
10.一種納米顆粒檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述納米顆粒檢測(cè)系統(tǒng)包括權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的微流控芯片。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于國(guó)家納米科學(xué)中心,未經(jīng)國(guó)家納米科學(xué)中心許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110709251.7/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





