[發(fā)明專利]一種基于動(dòng)態(tài)選取訓(xùn)練集的材料性能預(yù)測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110708495.3 | 申請(qǐng)日: | 2021-06-23 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113345538B | 公開(公告)日: | 2022-09-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 于興華;王家琦;王旭;發(fā)永哲 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京理工大學(xué)重慶創(chuàng)新中心;北京理工大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G16C60/00 | 分類號(hào): | G16C60/00;G06N20/00 |
| 代理公司: | 重慶智慧之源知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 50234 | 代理人: | 余洪 |
| 地址: | 401135 重*** | 國省代碼: | 重慶;50 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 動(dòng)態(tài) 選取 訓(xùn)練 材料 性能 預(yù)測(cè) 方法 | ||
本發(fā)明提供一種基于動(dòng)態(tài)選取訓(xùn)練集的材料性能預(yù)測(cè)方法,針對(duì)每一組測(cè)試數(shù)據(jù)選擇特定的訓(xùn)練集去訓(xùn)練模型并對(duì)其進(jìn)行預(yù)測(cè),結(jié)合歐幾里得距離與高斯分布選取訓(xùn)練集;比使用所有原始數(shù)據(jù)作為訓(xùn)練集和使用與測(cè)試數(shù)據(jù)為同一簇類的數(shù)據(jù)作為訓(xùn)練集皆更優(yōu),前者訓(xùn)練出的模型預(yù)測(cè)測(cè)試數(shù)據(jù),其平均絕對(duì)誤差分別比后兩者低34.92%和24.85%。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及材料性能預(yù)測(cè)領(lǐng)域,尤其涉及一種基于動(dòng)態(tài)選取訓(xùn)練集的材料性能預(yù)測(cè)方法。
背景技術(shù)
對(duì)于材料的性能預(yù)測(cè),現(xiàn)有技術(shù)主要分為兩類:一類是通過試驗(yàn)的方法預(yù)測(cè)特定材料的特定性能,這種方法費(fèi)時(shí)費(fèi)力;第二類是使用機(jī)器學(xué)習(xí)的方法預(yù)測(cè)材料性能,先選取訓(xùn)練集訓(xùn)練模型,再使用訓(xùn)練后的模型對(duì)新的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)測(cè),根據(jù)選取訓(xùn)練集的方式不同,又可以分為兩類,一類是選擇所有原始數(shù)據(jù)作為訓(xùn)練集,另一類是選擇同一簇類的數(shù)據(jù)作為訓(xùn)練集,但是兩種方式的預(yù)測(cè)精度均有較大誤差,通過分析發(fā)現(xiàn)原因在于前者忽略了原始數(shù)據(jù)之間的特性差異,導(dǎo)致材料性能預(yù)測(cè)誤差較大,而后者對(duì)簇類邊緣的測(cè)試數(shù)據(jù)預(yù)測(cè)誤差較大,因此預(yù)測(cè)精度的提高轉(zhuǎn)移到如何選擇訓(xùn)練集上,通過選取合適的訓(xùn)練集,將使得模型進(jìn)度精度更高,預(yù)測(cè)結(jié)果也就越精確。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供的一種基于動(dòng)態(tài)選取訓(xùn)練集的材料性能預(yù)測(cè)方法,主要解決的技術(shù)問題是:如何提高材料性能預(yù)測(cè)精度。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供一種基于動(dòng)態(tài)選取訓(xùn)練集的材料性能預(yù)測(cè)方法,包括:
獲取訓(xùn)練數(shù)據(jù)庫中各樣本的原始材料參數(shù)數(shù)據(jù),利用主成分分析法,獲取所述各樣本對(duì)應(yīng)的降維數(shù)據(jù),以及與所述原始材料參數(shù)對(duì)應(yīng)的特征權(quán)重向量,并對(duì)所述各樣本對(duì)應(yīng)的降維數(shù)據(jù)進(jìn)行坐標(biāo)表示;
獲取待測(cè)材料的原始材料參數(shù)數(shù)據(jù),乘以所述特征權(quán)重向量,得到所述待測(cè)材料的降維數(shù)據(jù),并進(jìn)行坐標(biāo)表示;
計(jì)算所述待測(cè)材料的坐標(biāo)與所述各樣本的坐標(biāo)之間的空間距離,繪制距離頻數(shù)直方圖,并基于所述距離頻數(shù)直方圖繪制對(duì)應(yīng)的距離概率密度曲線;
以所述距離概率密度曲線的第一個(gè)波峰及之前所對(duì)應(yīng)的距離范圍,作為目標(biāo)距離范圍,確定以所述目標(biāo)距離范圍對(duì)應(yīng)的樣本作為目標(biāo)訓(xùn)練樣本;
利用所述目標(biāo)訓(xùn)練樣本,使用機(jī)器學(xué)習(xí)回歸算法進(jìn)行訓(xùn)練,得到預(yù)測(cè)模型;
將所述待測(cè)材料的原始材料參數(shù)輸入所述預(yù)測(cè)模型,輸出得到性能預(yù)測(cè)值。
進(jìn)一步的,所述利用主成分分析法,獲取所述各樣本對(duì)應(yīng)的降維數(shù)據(jù),以及與所述原始材料參數(shù)對(duì)應(yīng)的特征權(quán)重向量,并對(duì)所述各樣本對(duì)應(yīng)的降維數(shù)據(jù)進(jìn)行坐標(biāo)表示包括:
利用主成分分析法,將原來的高維原始材料參數(shù)數(shù)據(jù)降低為二維數(shù)據(jù),將第一主成分xn記為X軸坐標(biāo),將第二主成分yn記為Y軸坐標(biāo),坐標(biāo)表示為(xn,yn),所述n表示訓(xùn)練數(shù)據(jù)庫中樣本個(gè)數(shù);所述第一主成分對(duì)應(yīng)的特征權(quán)重向量記為向量a,所述第二主成分對(duì)應(yīng)的特征權(quán)重向量記為向量b。
進(jìn)一步的,所述獲取待測(cè)材料的原始材料參數(shù)數(shù)據(jù),乘以所述特征權(quán)重向量,得到所述待測(cè)材料的降維數(shù)據(jù),并進(jìn)行坐標(biāo)表示包括:
獲取待測(cè)材料的原始材料參數(shù)數(shù)據(jù),乘以所述向量a,得到其X軸坐標(biāo)x′0,將所述待測(cè)材料的原始材料參數(shù)數(shù)據(jù),乘以所述向量b,得到其Y軸坐標(biāo)值y′0,進(jìn)而得到其降維數(shù)據(jù)并進(jìn)行坐標(biāo)表示為(x′0,y′0)。
進(jìn)一步的,所述利用主成分分析法,獲取所述各樣本對(duì)應(yīng)的降維數(shù)據(jù),以及與所述原始材料參數(shù)對(duì)應(yīng)的特征權(quán)重向量,并對(duì)所述各樣本對(duì)應(yīng)的降維數(shù)據(jù)進(jìn)行坐標(biāo)表示包括:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京理工大學(xué)重慶創(chuàng)新中心;北京理工大學(xué),未經(jīng)北京理工大學(xué)重慶創(chuàng)新中心;北京理工大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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