[發(fā)明專利]第一顯示面板、第二顯示面板及其制作方法、顯示裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110708170.5 | 申請日: | 2021-06-24 |
| 公開(公告)號: | CN113539087B | 公開(公告)日: | 2022-12-23 |
| 發(fā)明(設計)人: | 金慧俊;李小虎;趙秀媛 | 申請(專利權)人: | 上海中航光電子有限公司 |
| 主分類號: | G09F9/30 | 分類號: | G09F9/30 |
| 代理公司: | 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258 | 代理人: | 趙秀芹 |
| 地址: | 201108 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 第一 顯示 面板 第二 及其 制作方法 顯示裝置 | ||
本申請公開了一種第一顯示面板、第二顯示面板及其制作方法、顯示裝置,其中,第一顯示面板,包括顯示區(qū)域與圍繞顯示區(qū)域的非顯示區(qū)域;非顯示區(qū)域上設置有測試襯墊組件與短路環(huán)組件,測試襯墊組件與短路環(huán)組件之間具有第一間隙;非顯示區(qū)域上具有切割線,在平行于第一顯示面板所在平面的方向上,切割線位于第一間隙中,或者,切割線與短路環(huán)組件存在交疊。本申請實施例能夠有效避免腐蝕介質到達測試襯墊組件,降低了測試襯墊組件的腐蝕風險。
技術領域
本申請屬于顯示技術領域,尤其涉及一種第一顯示面板、第二顯示面板及其制作方法、顯示裝置。
背景技術
目前,顯示面板已經比較廣泛地應用在各類電子設備中。在顯示面板制備完畢后,通常需要對顯示面板的性能進行測試,例如可視測試或抗腐蝕性能測試等。
一般來說,顯示面板上通常會設置有可視測試襯墊(Visual Test pad,VT pad),以用作可視測試。現有技術中,為了避免靜電(例如對顯示面板切割時產生的靜電等)對VTpad的影響,通常會將VT pad與靜電防護結構電連接。然而,現有的顯示面板中VT pad往往具有較高的腐蝕風險。
發(fā)明內容
本申請實施例提供一種第一顯示面板、第二顯示面板及其制作方法、顯示裝置,能夠解決現有的顯示面板中VT pad腐蝕風險較高的問題。
第一方面,本申請實施例提供一種第一顯示面板,包括顯示區(qū)域與圍繞顯示區(qū)域的非顯示區(qū)域;
非顯示區(qū)域上設置有測試襯墊組件與短路環(huán)組件,測試襯墊組件與短路環(huán)組件之間具有第一間隙;
非顯示區(qū)域上具有切割線,在平行于第一顯示面板所在平面的方向上,切割線位于第一間隙中,或者,切割線與短路環(huán)組件存在交疊。
第二方面,本申請實施例提供了一種第二顯示面板制作方法,包括:
提供一第一顯示面板,第一顯示面板包括顯示區(qū)域與圍繞顯示區(qū)域的非顯示區(qū)域;非顯示區(qū)域上設置有測試襯墊組件與短路環(huán)組件,測試襯墊組件與短路環(huán)組件之間具有第一間隙;非顯示區(qū)域上具有切割線,在平行于第一顯示面板所在平面的方向上,切割線位于第一間隙中,或者,切割線與短路環(huán)組件存在交疊;
沿切割線切割第一顯示面板,得到第二顯示面板。
第三方面,本申請實施例提供了一種第二顯示面板,包括:顯示區(qū)域與圍繞顯示區(qū)域的非顯示區(qū)域;
非顯示區(qū)域上設置有測試襯墊組件與至少一個短路環(huán)支線,測試襯墊組件與至少一個短路環(huán)支線之間具有第一間隙;
非顯示區(qū)域包括第一端面,第一端面所在平面與第二顯示面板所在平面交叉,至少一個短路環(huán)支線的遠離測試襯墊組件的一端貫穿第一端面。
第四方面,本申請實施例提供了一種第二顯示面板,包括:顯示區(qū)域與圍繞顯示區(qū)域的非顯示區(qū)域;
非顯示區(qū)域上設置有測試襯墊組件;
非顯示區(qū)域包括第二端面,第二端面所在平面與第二顯示面板所在平面交叉,第二端面位于測試襯墊組件的遠離顯示區(qū)域的一端,第二端面為密封端面。
第五方面,本申請實施例還提供了一種顯示裝置,包括通過第二方面所示的第二顯示面板制作方法制作得到的第二顯示面板,或者包括如第三方面或第四方面所示的第二顯示面板。
本申請實施例提供的第一顯示面板,包括顯示區(qū)域與圍繞顯示區(qū)域的非顯示區(qū)域;非顯示區(qū)域上設置有測試襯墊組件與短路環(huán)組件,測試襯墊組件與短路環(huán)組件之間具有第一間隙;非顯示區(qū)域上具有切割線,在平行于第一顯示面板所在平面的方向上,切割線位于第一間隙中,或者,切割線與短路環(huán)組件存在交疊。本申請實施例中,測試襯墊組件與短路環(huán)組件存在第一間隙,在沿切割線切割第一顯示面板的情況下,能夠有效避免腐蝕介質到達測試襯墊組件,降低了測試襯墊組件的腐蝕風險。
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