[發(fā)明專利]一種獲取過孔延時(shí)的仿真方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110707558.3 | 申請(qǐng)日: | 2021-06-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113449478A | 公開(公告)日: | 2021-09-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 吳均;黃剛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市一博科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F30/3312 | 分類號(hào): | G06F30/3312;G06F115/12 |
| 代理公司: | 深圳市遠(yuǎn)航專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 44276 | 代理人: | 田志遠(yuǎn);袁浩華 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市南山區(qū)粵海街*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 獲取 延時(shí) 仿真 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種獲取過孔延時(shí)的仿真方法,過程步驟如下:步驟S1.建立過孔的3D模型與傳輸線的2D模型;步驟S2.分別在過孔傳輸信號(hào)與傳輸線傳輸信號(hào)上添加階躍信號(hào),獲得過孔延時(shí)與傳輸線延時(shí);步驟S3.繪制過孔延時(shí)線與傳輸線延時(shí)線,設(shè)置所述過孔延時(shí)與所述傳輸線延時(shí)的關(guān)系變量,調(diào)整關(guān)系變量值,直至所述過孔延時(shí)線與所述傳輸線延時(shí)線擬合,獲得擬合關(guān)系變量。本發(fā)明在仿真軟件中設(shè)置多介電常數(shù)的過孔與傳輸線的模型,通過向模型施加階躍信號(hào),形成過孔延遲線與傳輸線延遲線,設(shè)置關(guān)系變量令二者擬合,從而判斷得出二者之間的關(guān)系,以獲得過孔延時(shí)的精確數(shù)值,從而為如DDR模塊這種整組信號(hào)的等長設(shè)計(jì)提供精確的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電路板設(shè)計(jì)技術(shù)領(lǐng)域,更具體地說,是涉及一種獲取過孔延時(shí)的仿真方法。
背景技術(shù)
印制電路板(Printed Circuit Board,PCB板)又稱印刷電路板,是電子產(chǎn)品物理支撐以及信號(hào)傳輸?shù)闹匾M成部分,其中,PCB板上設(shè)置的過孔主要是起到連接垂直方向不同層信號(hào)的作用。
在進(jìn)行電路板設(shè)計(jì)時(shí),存在一些并行信號(hào)的設(shè)計(jì),部分情況下需要設(shè)置等長的信號(hào)分布在不同的傳輸線層中,如DDR模塊設(shè)計(jì),這種情況下,這些信號(hào)所經(jīng)過的過孔長度不相同,在設(shè)計(jì)時(shí),需要將過孔延時(shí)計(jì)算到傳輸線延時(shí)中,從而達(dá)到等長等時(shí)的目的,故而我們需要計(jì)算過孔延時(shí)的時(shí)間。
而在傳統(tǒng)設(shè)計(jì)中,行業(yè)默認(rèn)過孔延時(shí)與傳輸線延時(shí)相同,但實(shí)際上,由于過孔延時(shí)與傳輸線延時(shí)的影響因子均不相同,因此需要一種方法獲得精確的過孔延時(shí),以令如DDR模塊的等長設(shè)計(jì)做的更好。
發(fā)明內(nèi)容
為了克服現(xiàn)有的技術(shù)的不足,本發(fā)明提供一種獲取過孔延時(shí)的仿真方法。
本發(fā)明技術(shù)方案如下所述:
一種獲取過孔延時(shí)的仿真方法,過程步驟如下:
步驟S1.建立過孔的3D模型與傳輸線的2D模型;
步驟S2.分別在過孔傳輸信號(hào)與傳輸線傳輸信號(hào)上添加階躍信號(hào),獲得過孔延時(shí)與傳輸線延時(shí);
步驟S3.繪制過孔延時(shí)線與傳輸線延時(shí)線,設(shè)置所述過孔延時(shí)與所述傳輸線延時(shí)的關(guān)系變量,調(diào)整關(guān)系變量值,直至所述過孔延時(shí)線與所述傳輸線延時(shí)線擬合,獲得擬合關(guān)系變量。
上述的一種獲取過孔延時(shí)的仿真方法,在步驟S1中,根據(jù)需求分別建立多個(gè)不同節(jié)點(diǎn)常數(shù)的3D模型與多個(gè)2D模型。
上述的一種獲取過孔延時(shí)的仿真方法,在步驟S2中,所述階躍信號(hào)在經(jīng)過所述過孔或所述傳輸線傳輸至末端后分壓,所述過孔延時(shí)與所述傳輸線延時(shí)均取自所述階躍信號(hào)分壓后的50%位置的參數(shù)值。
上述的一種獲取過孔延時(shí)的仿真方法,在步驟S3中,設(shè)置參數(shù)掃描工具,所述參數(shù)掃描工具包括若干個(gè)介電常數(shù)設(shè)定欄、若干個(gè)關(guān)系變量設(shè)定欄、介電常數(shù)調(diào)節(jié)尺及關(guān)系變量調(diào)節(jié)尺,所述介電常數(shù)設(shè)定欄與所述介電常數(shù)調(diào)節(jié)尺用于調(diào)整仿真環(huán)境的介電常數(shù)值,所述關(guān)系變量設(shè)定欄與所述關(guān)系變量調(diào)節(jié)尺用于調(diào)整所述過孔延時(shí)與所述傳輸線延時(shí)的關(guān)系。
進(jìn)一步的,所述介電常數(shù)設(shè)定欄調(diào)整所述介電常數(shù)的掃描范圍與所述介電常數(shù)調(diào)節(jié)尺的調(diào)節(jié)間隔,在所述參數(shù)掃描工具掃描過程中,所述介電常數(shù)調(diào)節(jié)尺移動(dòng)至任意調(diào)節(jié)節(jié)點(diǎn)時(shí),仿真軟件判斷所述過孔延時(shí)線與所述傳輸線延時(shí)線的擬合狀態(tài)。
再進(jìn)一步的,所述參數(shù)掃描工具自動(dòng)掃描停止條件為:所述過孔延時(shí)與所述傳輸線延時(shí)的時(shí)間差大于等于設(shè)定時(shí)間差值。
進(jìn)一步的,所述關(guān)系變量設(shè)定欄調(diào)整所述關(guān)系變量的掃描范圍與所述關(guān)系變量調(diào)節(jié)尺的調(diào)節(jié)間隔,在所述參數(shù)掃描工具掃描過程中,所述關(guān)系變量調(diào)節(jié)尺移動(dòng)至任意調(diào)節(jié)節(jié)點(diǎn)時(shí),仿真軟件判斷所述過孔延時(shí)線與所述傳輸線延時(shí)線的擬合狀態(tài)。
再進(jìn)一步的,所述參數(shù)掃描工具自動(dòng)掃描停止條件為:所述過孔延時(shí)與所述傳輸線延時(shí)的時(shí)間差小于設(shè)定時(shí)間差值。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳市一博科技股份有限公司,未經(jīng)深圳市一博科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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