[發明專利]雙線型像質計可識別率的測量方法、系統、設備和介質

有效

• 申請號: 202110706686.6
• 申請日: 2021-06-24
• 公開（公告）號: CN113358670B
• 公開（公告）日: 2022-11-18
• 發明（設計）人: 黃茜;師聰穎;胡志輝;陳宏燔;喬騰
• 申請（專利權）人: 華南理工大學
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04;G01N23/18;G06T7/00;G06T7/12;G06T3/40
• 代理公司: 廣州市華學知識產權代理有限公司 44245
• 代理人: 李君

本發明公開了一種雙線型像質計可識別率的測量方法、系統、設備和介質，所述方法包括：在待測雙絲圖像的雙線型像質計區域畫一條輔助線，并確定待測雙絲圖像的疊加平均行數；其中，所述疊加平均行數為大于或等于21的奇數；根據所述輔助線，在所述待測雙絲圖像中截取行數為所述疊加平均行數的雙絲圖像，得到截取后雙絲圖像；根據所述截取后雙絲圖像，得到調整后雙絲灰度變化曲線；根據所述調整后雙絲灰度變化曲線，計算每一線對的可識別率，得到所述待測雙絲圖像的分辨率。本發明提供的方法可以自動尋找雙絲排列方向，對畫線角度沒有嚴格要求，降低了工人畫線要求，有效提高了工作效率。

技術領域

本發明涉及圖像自動測量研究領域，特別是涉及一種雙線型像質計可識別率的測量方法、系統、設備和介質。

背景技術

雙線型像質計是13對金屬絲固定在一個塑料板上的專用測量圖像分辨率的配件，將其貼在任何X射線可以穿透成像的物體上，拍一張X射線圖像。X射線圖中有雙線型像質計即可測量該圖像分辨率。

根據國家標準NB/T 47013.11-2015《承壓設備無損檢測第11部分：X射線數字成像檢測》，圖像分辨率采用雙線型像質計進行測定，雙線型像質計圖像中第一組可識別率不大于20％的線對，即為要求的最小分辨率。

目前大部分帶有X射線圖像分辨率測量的軟件均具有雙線型像質計自動識別率測量功能，但一般都要求操作人員在圖像中的雙線型像質計區域畫一條垂直于雙線型像質計的直線，這需要人工反復仔細調整畫線方向，導致X射線圖像分辨率不僅測量效率低，而且，手工所畫直線與絲對垂直度的誤差將直接影響X射線圖像分辨率測量的準確度。

發明內容

為了解決上述現有技術的不足，本發明提供了一種雙線型像質計可識別率的測量方法、系統、設備和介質，該方法可以自動尋找雙線型像質計方向并確定絲線間距，能有效降低工人畫線要求，極大地提高工人的工作效率。

本發明的第一個目的在于提供一種雙線型像質計可識別率的測量方法。

本發明的第二個目的在于提供一種雙線型像質計可識別率的測量系統。

本發明的第三個目的在于提供一種計算機設備。

本發明的第四個目的在于提供一種存儲介質。

本發明的第一個目的可以通過采取如下技術方案達到：

一種雙線型像質計可識別率的測量，所述方法包括：

在待測雙絲圖像的雙線型像質計區域畫一條輔助線，并確定待測雙絲圖像的疊加平均行數；其中，所述疊加平均行數為大于或等于21的奇數；

根據所述輔助線，在所述待測雙絲圖像中截取行數為所述疊加平均行數的雙絲圖像，得到截取后雙絲圖像；

根據所述截取后雙絲圖像，得到調整后雙絲灰度變化曲線；

根據所述調整后雙絲灰度變化曲線，計算每一線對的可識別率，得到所述待測雙絲圖像的分辨率。

進一步的，所述根據所述截取后雙絲圖像，得到調整后雙絲灰度變化曲線，具體包括：

根據所述截取后雙絲圖像，得到雙絲灰度變化曲線；

根據所述雙絲灰度變化曲線，得到調整后的雙絲灰度變化曲線。

進一步的，所述截取后雙絲圖像為imgs(i,j)；

所述根據所述截取后雙絲圖像，得到雙絲灰度變化曲線，具體為：

根據下式，計算雙絲灰度變化曲線q(i)：

其中，w為所述疊加平均行數。