[發明專利]基于光纖取樣的強光取樣裝置及其制備方法

在審

• 申請號: 202110706578.9
• 申請日: 2021-06-24
• 公開（公告）號: CN113405779A
• 公開（公告）日: 2021-09-17
• 發明（設計）人: 秦來安;侯再紅;張巳龍;譚逢富
• 申請（專利權）人: 中國科學院合肥物質科學研究院
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 合肥市上嘉專利代理事務所(普通合伙) 34125
• 代理人: 郭華俊

1.基于光纖取樣的強光取樣裝置，其特征在于，包括防護取樣基板(1)、安裝基座(3)、光纖棒(2)，所述防護取樣基板(1)陣列設置有若干個第一過孔(11)，每個第一過孔(11)匹配一個安裝基座(3)，所述安裝基座(3)上開設有第二過孔，所述光纖棒(2)固定設置在第一過孔(11)和第二過孔內。

2.根據權利要求1所述的基于光纖取樣的強光取樣裝置，其特征在于，經過光學拋光后的防護取樣基板(1)迎光面采用化學或真空鍍的方式設置有鍍金膜。

3.根據權利要求2所述的基于光纖取樣的強光取樣裝置，其特征在于，所述鍍金膜上鍍有保護膜。

4.根據權利要求1所述的基于光纖取樣的強光取樣裝置，其特征在于，所述第一過孔(11)包括依次連續同軸設置的

取樣部(111)，用于放置光纖棒(2)的端部獲取光束；

第一導槽部，方便光纖棒(2)插入取樣部(111)和對安裝基座(3)的限位；

第一固定部(114)，與安裝基座(3)中的第二固定部(301)外側壁固定連接。

5.根據權利要求4所述的基于光纖取樣的強光取樣裝置，其特征在于，所述第一導槽部包括依次設置的第一喇叭段(112)、第一階梯段(113)，所述第一喇叭段(112)方便光纖棒(2)插入取樣部(111)中，所述第一階梯段(113)限制安裝基座(3)進入到第一過孔(11)的位置。

6.根據權利要求1所述的基于光纖取樣的強光取樣裝置，其特征在于，所述光纖棒(2)為2層或3層全玻結構，所述光纖棒(2)為全玻石英光纖棒(2)，光纖棒(2)的兩端邊緣為進行光學拋光后的倒角。

7.根據權利要求1所述的基于光纖取樣的強光取樣裝置，其特征在于，所述安裝基座(3)上的過孔包括依次同軸設置的

第二固定部(301)，外側壁上設置有與第一過孔(11)中的第一固定部(114)匹配的連接固定結構；

第二導槽部(302)，方便光纖棒(2)插入光纖尾部安置部中；

光纖尾部安置部，用于放置光纖的尾部。

8.根據權利要求2所述的基于光纖取樣的強光取樣裝置，其特征在于，在安裝基座(3)內放置光纖棒(2)后設置有固定膠，所述固定膠從第二固定部(301)的入口(3011)處注入，所述固定膠的折射率低于包層材料的折射率。

9.根據權利要求7所述的基于光纖取樣的強光取樣裝置，其特征在于，所述第二固定部(301)的內壁還設置有凹凸結構。

10.根據權利要求1-9任意一項所述的基于光纖取樣的強光取樣裝置的制備方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1、根據被測激光系統的參數確定防護取樣基板(1)的直徑、厚度、取樣空間分辨率及取樣孔尺寸，并確定光纖棒(2)的尺寸；

S2、對防護取樣基板(1)進行加工、拋光，然后陣列打第一過孔(11)，對第一過孔(11)進行鍍膜；對光纖棒(2)和安裝基座(3)進行加工；

S3、裝配光纖棒(2)與安裝基座(3)形成光纖取樣組件；

S4、將光纖取樣組件與防護取樣基板(1)進行組裝。