[發(fā)明專利]基于地質(zhì)圖的地層界線逐點巖層產(chǎn)狀獲取方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110704134.1 | 申請日： | 2021-06-24 |
| 公開（公告）號： | CN113539051B | 公開（公告）日： | 2022-11-25 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 李安波;劉先裕;陳浩 | 申請（專利權(quán)）人： | 南京師范大學 |
| 主分類號： | G09B29/00 | 分類號： | G09B29/00 |
| 代理公司： | 南京蘇高專利商標事務(wù)所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 馮艷芬 |
| 地址： | 210046 *** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 基于 地質(zhì)圖 地層 界線 巖層 產(chǎn)狀 獲取 方法 裝置 | ||
本發(fā)明公開了一種基于地質(zhì)圖的地層界線逐點巖層產(chǎn)狀獲取方法及裝置，具體處理步驟包括：首先，讀取面狀地層圖層、已知產(chǎn)狀點數(shù)據(jù)和DEM數(shù)據(jù)，根據(jù)包含關(guān)系匹配地層與產(chǎn)狀點，并由DEM提取等高線；提取等高線數(shù)據(jù)和地層界線交點，用三點法計算交點的產(chǎn)狀，并將各個交點產(chǎn)狀賦值到最鄰近邊界點上；然后，判斷各個相鄰地層間連續(xù)關(guān)系和接觸關(guān)系，并基于地層間的相互關(guān)系，將已知產(chǎn)狀信息賦值到相關(guān)邊界點上，每個地層基于產(chǎn)狀修正的邊界點，重新線性插值計算邊界點的產(chǎn)狀；最后，每個地層基于所有非插值獲取產(chǎn)狀的邊界點，重新線性插值計算邊界點產(chǎn)狀，并完成地質(zhì)圖地層邊界點產(chǎn)狀數(shù)據(jù)生成。本發(fā)明對計算數(shù)據(jù)的依賴較少，自動化程度和計算精度較高。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于地理信息技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域，尤其涉及一種基于地質(zhì)圖的地層界線逐點巖層產(chǎn)狀獲取方法及裝置。
背景技術(shù)
巖層的產(chǎn)狀是指巖層在空間的產(chǎn)出狀態(tài)。除水平巖層成水平狀態(tài)產(chǎn)出外，一切傾斜巖層的產(chǎn)狀均以其走向、傾向和傾角表示，稱為巖層產(chǎn)狀三要素。產(chǎn)狀作為地質(zhì)測量與成圖中常見的地質(zhì)要素之一，在地層信息表達、地質(zhì)剖面制圖、三維地質(zhì)建模等應(yīng)用中具有重要作用。
巖層產(chǎn)狀的獲取方法主要包括野外實測和間接計算兩種方法。野外的巖層產(chǎn)狀測量方法，通常是使用地質(zhì)羅盤、坡度儀等儀器，直接在出露的巖層層面上量測。但是，野外巖石的風化、層面劈理和線理面區(qū)分困難、巖層出露情況等因素均會影響產(chǎn)狀的直接測量，且野外量測工作量較大。產(chǎn)狀間接計算中常用的方法，主要有“三點法”和“相鄰等高線法”，或者綜合運用兩種方法計算，其原理為通過尋找共面且不共線的多點，確定平面的形態(tài)。然而，該方法往往只能計算個別地層邊界點上產(chǎn)狀信息，且計算出產(chǎn)狀的邊界點可能在地層界線上分布不均。
為此，針對地表出露巖層，本專利擬基于地形地質(zhì)圖，研究實現(xiàn)一種基于地質(zhì)圖的地層界線逐點巖層產(chǎn)狀獲取方法。
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明目的：本發(fā)明針對現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，提供一種基于地質(zhì)圖的地層界線處巖層產(chǎn)狀獲取方法。
技術(shù)方案：本文所述的基于地質(zhì)圖的地層界線逐點巖層產(chǎn)狀獲取方法具體包括：
(1)讀取巖層的地層面圖層、DEM數(shù)據(jù)和已知產(chǎn)狀點數(shù)據(jù)，得到地層集合Stra、地層界線集合SLine、產(chǎn)狀點集合OPoint以及表示地層和產(chǎn)狀點關(guān)系的地層產(chǎn)狀點關(guān)系表SOR；
(2)判斷地層集合Stra中各相鄰地層間相互關(guān)系，并基于地層間的相互關(guān)系，將實測產(chǎn)狀信息賦值到相關(guān)邊界點上；
(3)提取地層界線集合SLine中所有地層界線與等高線的交點，自適應(yīng)地采用三點法或四點法計算地層界線的產(chǎn)狀，并將產(chǎn)狀賦值到對應(yīng)的邊界點上；
(4)每個地層基于產(chǎn)狀已知的邊界點，將其地層界線分為若干分段，得到地層界線分段集合SLine′；
(5)對于SLine′中每個地層界線分段，根據(jù)兩端邊界點線性插值計算分段內(nèi)部邊界點的產(chǎn)狀，存入最終邊界點產(chǎn)狀集合AT′；
(6)根據(jù)邊界點的最終產(chǎn)狀對每個地層界線分段進行識別，若識別到地層界線分段上存在異常產(chǎn)狀邊界點，則利用曲率法近似計算其上邊界點真實傾向，更新最終邊界點產(chǎn)狀集合AT′，并基于異常產(chǎn)狀邊界點劃分當前地層界線分段，再轉(zhuǎn)到步驟(5)，直到所有地層界線分段上都不存在異常產(chǎn)狀邊界點；
(7)根據(jù)最終邊界點產(chǎn)狀集合AT′生成地質(zhì)圖地層邊界點產(chǎn)狀數(shù)據(jù)。
進一步的，步驟(1)包括：
(1-1)讀取矢量格式的地層面圖層，得到地層集合Stra＝{si|i＝1,2,3,…,sn}，其中si為第i個地層，sn為地層的數(shù)量；
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