[發(fā)明專(zhuān)利]圖案化鈣鈦礦納米晶體薄膜及制備方法和陣列式薄膜器件有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110703875.8 | 申請(qǐng)日: | 2021-06-24 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113451537B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-09-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李景虹;張昊;劉旦 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 清華大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L51/56 | 分類(lèi)號(hào): | H01L51/56;H01L51/54;H01L51/50 |
| 代理公司: | 北京清亦華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 曲進(jìn)華 |
| 地址: | 10008*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 圖案 化鈣鈦礦 納米 晶體 薄膜 制備 方法 陣列 器件 | ||
1.一種圖案化鈣鈦礦納米晶體薄膜的制備方法,其特征在于,包括如下步驟:
a、鈣鈦礦納米晶體純化洗滌:將鈣鈦礦納米晶體分散在非極性溶劑中,得到納米晶體膠體溶液,向所述納米晶體膠體溶液中加入極性溶劑,使鈣鈦礦納米晶體從溶液中沉淀并分離,將分離后的鈣鈦礦納米晶體固體重新分散于非極性溶劑中,重復(fù)純化洗滌過(guò)程,其中,所述極性溶劑選自乙酸甲酯,乙酸乙酯、乙腈中的至少一種,所述納米晶體膠體溶液與極性溶劑的體積比為0.5~3;
b、鈣鈦礦納米晶體薄膜的制備:將所述步驟a洗滌后具有原始配體的鈣鈦礦納米晶體、光敏交聯(lián)型分子與非極性溶劑混合,得到膠體溶液,制備納米晶體薄膜;
c、光致直接圖案化:在紫外光照下借助光掩模板或無(wú)模板直寫(xiě)方式對(duì)所述納米晶體薄膜的選擇性區(qū)域進(jìn)行曝光,引發(fā)曝光區(qū)域鈣鈦礦納米晶體配體間光致交聯(lián)反應(yīng);
d、溶劑洗脫:采用非極性溶劑對(duì)所述薄膜進(jìn)行洗脫,得到圖案化的鈣鈦礦納米晶體薄膜。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖案化鈣鈦礦納米晶體薄膜的制備方法,其特征在于,所述鈣鈦礦納米晶體化學(xué)組成具有鈣鈦礦結(jié)構(gòu)ABX3,其中X選自鹵族元素中的至少一種,B選自第四主族金屬元素中的至少一種,A選自堿金屬元素或有機(jī)組分中的至少一種。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的圖案化鈣鈦礦納米晶體薄膜的制備方法,其特征在于,所述鈣鈦礦納米晶體選自CsPbX3、CH3NH3PbX3或FAPbX3中的至少一種,其中X = Cl、Br或I,F(xiàn)A為甲脒基。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖案化鈣鈦礦納米晶體薄膜的制備方法,其特征在于,所述鈣鈦礦納米晶體的原始配體選自具有C8-24烴基的羧酸、胺、膦、膦酸、鹵離子季銨鹽、或兩性離子配體中的至少一種。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的圖案化鈣鈦礦納米晶體薄膜的制備方法,其特征在于,所述鈣鈦礦納米晶體的原始配體選自油酸、油胺、十八胺、三辛基膦、十八烷基膦酸、雙十二烷基二甲基溴化銨、3-(N , N -二甲基肉豆蔻銨基)丙磺酸鹽、天然卵磷脂中的至少一種。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖案化鈣鈦礦納米晶體薄膜的制備方法,其特征在于,所述光敏交聯(lián)型分子中具有多個(gè)疊氮基,結(jié)構(gòu)如式I所示:
(I)
其中,各X分別獨(dú)立地為F或烷基,且至少一個(gè)X為F,R為烷基、芳基或連接有的烷基的酯鍵,n為大于等于2的整數(shù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的圖案化鈣鈦礦納米晶體薄膜的制備方法,其特征在于,所述光敏交聯(lián)型分子為雙(4-疊氮-2, 3, 5, 6-四氟代苯甲酸基)乙二醇酯。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖案化鈣鈦礦納米晶體薄膜的制備方法,其特征在于,所述步驟a中,所述納米晶體膠體溶液中鈣鈦礦納米晶體的質(zhì)量濃度為1~1200 mg/mL。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖案化鈣鈦礦納米晶體薄膜的制備方法,其特征在于,所述步驟b中,所述鈣鈦礦納米晶體與所述光敏交聯(lián)型分子的質(zhì)量比為1 : (0.01~0.5),和/或,所述膠體溶液中納米晶體的濃度為1~1200 mg/mL,和/或,所述膠體溶液通過(guò)旋涂或者刮涂的方法制備得到納米晶體薄膜,其中,所述旋涂中,旋涂速度為500~5000 rpm,所述刮涂中,涂膜速度為1~50 mm/s,涂膜器與基底間距為200~350 μm;和/或,所述步驟c中,所述紫外光照波長(zhǎng)為200~400nm,光照劑量為1~1000 mJ/cm2;和/或,所述步驟a、b或d中,所述非極性溶劑選自甲苯、氯苯、正己烷、正辛烷、四氫呋喃中的至少一種。
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