[發明專利]一種集成電路低溫檢測預冷箱裝置及其使用方法

有效

• 申請號: 202110700556.1
• 申請日: 2021-06-23
• 公開（公告）號: CN113359013B
• 公開（公告）日: 2022-07-15
• 發明（設計）人: 閆大為;姚銳;鐘建強
• 申請（專利權）人: 姚銳
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京棘龍知識產權代理有限公司 11740
• 代理人: 張開

本發明公開了一種集成電路低溫檢測預冷箱裝置及其使用方法，包括預冷箱蓋板，所述預冷箱蓋板的內部中端設置有轉盤；TRAY盤，其設置于所述轉盤的上端四周；滑臺氣缸，其設置于所述預冷箱蓋板的外壁一側；滑動密封機構，其設置于所述滑臺氣缸的外部一側。該集成電路低溫檢測預冷箱裝置及其使用方法，L型滑動門是方便自動化存取待檢測的集成電路，L型滑動門是由安裝在預冷箱腔體一側滑臺氣缸控制，L型滑動門被滑臺氣缸驅動進行前后運動，實現自動取料、補料的同時，降少預冷箱腔體內部與外界的干涉，利用L型滑動門便于自動化取放IC，即當L型滑動門移動離開進出口時，機械手臂進行取放IC，完成取放IC后L型滑動門復位到進出口上方，進行密封。

技術領域

本發明涉及一種集成電路低溫測試技術領域，具體為一種集成電路低溫檢測預冷箱裝置及其使用方法。

背景技術

現今隨著軍品及高端民品IC品質要求的提高，迫切需要全自動高、低溫檢測平臺，嚴格全程模擬真實的高溫或者低溫測試環境，滿足國防軍工及高端民品IC篩選生產的嚴苛要求。目前國內對此一體機缺乏，多以手工操作或者采購昂貴的國外設備來滿足需求，手工操作對檢測環境的真實性相對較差，并且還存在凝露問題。

尤其近些年汽車電子的大量發展，對IC的需求不斷提出新的嚴苛要求，而此類產品多半是用量大且檢測時間較長，因此對IC進行高溫或者低溫檢測的時候不急需要真實性還需要有一定的檢測效率。而IC在高溫、低溫測試前都需要進行預冷，為了提升檢測效率，就需要研制一款可以循環的預熱、預冷箱來配合自動化生產提升檢測效率，來應對檢測不精確的問題。

發明內容

本發明的目的在于提供一種集成電路低溫檢測預冷箱裝置及其使用方法，以解決上述背景技術中提出的尤其近些年汽車電子的大量發展，對IC的需求不斷提出新的嚴苛要求，而此類產品多半是用量大且檢測時間較長，因此對IC進行高溫或者低溫檢測的時候不急需要真實性還需要有一定的檢測效率。而IC在高溫、低溫測試前都需要進行預冷，為了提升檢測效率，就需要研制一款可以循環的預熱、預冷箱來配合自動化生產提升檢測效率，來應對檢測不精確的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：一種集成電路低溫檢測預冷箱裝置及其使用方法，包括：

預冷箱蓋板，所述預冷箱蓋板的內部中端設置有轉盤；

TRAY盤，其設置于所述轉盤的上端四周；

滑臺氣缸，其設置于所述預冷箱蓋板的外壁一側；

滑動密封機構，其設置于所述滑臺氣缸的外部一側和預冷箱蓋板的內部上端連接處；

預冷箱腔體，其設置于所述預冷箱蓋板的下端底部；

DD電機，其設置于所述預冷箱腔體的下端底部；

所述滑動密封機構包括：

L型滑動門，其滑動設置于所述預冷箱蓋板的內部一側；

滑槽，其開設于所述L型滑動門的外壁兩側與所述預冷箱蓋板之間相嵌合；

所述L型滑動門通過滑槽和預冷箱蓋板構成滑動結構，且L型滑動門和預冷箱蓋板間尺寸相互配合。

優選的，所述預冷箱蓋板和預冷箱腔體之間構成活動結構，且預冷箱蓋板和預冷箱腔體尺寸相互配合。

優選的，所述預冷箱蓋板和轉盤構成包裹結構，且轉盤呈水平狀分布。

優選的，所述預冷箱腔體的一端與制冷機相連接，且預冷箱腔體上方設置有開孔。

優選的，所述預冷箱腔體和DD電機構成固定結構，且DD電機和轉盤之間相連接。

優選的，所述TRAY盤沿轉盤的中軸線處呈對稱狀分布，且TRAY 盤設置有十二組。