[發(fā)明專利]一種電路優(yōu)化方法、裝置、電子設(shè)備和可讀存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110698714.4
• 申請(qǐng)日: 2021-06-23
• 公開（公告）號(hào): CN113343622B
• 公開（公告）日: 2023-06-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 南海卿;張曉強(qiáng);張冠群
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 海光信息技術(shù)股份有限公司
• 主分類號(hào): G06F30/337
• 分類號(hào): G06F30/337;G06F30/3315;G06F119/04;G06F113/18
• 代理公司: 北京市廣友專利事務(wù)所有限責(zé)任公司 11237
• 代理人: 張仲波

本申請(qǐng)的實(shí)施例公開了一種電路優(yōu)化方法、裝置、電子設(shè)備和可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，涉及芯片設(shè)計(jì)技術(shù)領(lǐng)域，為便于降低芯片的成本而發(fā)明。所述電路優(yōu)化方法，包括：在老齡化時(shí)序違例的電路中，確定待替換器件；基于所述待替換器件的第一參數(shù)，確定第一候選器件集合；其中，所述第一參數(shù)為與延時(shí)相關(guān)的參數(shù)，所述第一候選器件集合中的各候選器件的功能與所述待替換器件的功能相同，且所述各候選器件的第一參數(shù)的參數(shù)值與所述待替換器件的第一參數(shù)的參數(shù)值相同；基于所述各候選器件的老齡化延時(shí)信息和所述待替換器件的非老齡化延時(shí)信息，在所述各候選器件中確定替換器件；使用所述替換器件替換所述待替換器件。本申請(qǐng)適用于芯片設(shè)計(jì)。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及芯片設(shè)計(jì)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種電路優(yōu)化方法、裝置、電子設(shè)備和可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

芯片在長年運(yùn)行中會(huì)受到電路中各種器件老齡化現(xiàn)象的影響，導(dǎo)致器件電流生成能力減弱，進(jìn)而影響芯片的正常工作頻率，導(dǎo)致性能越來越差，為了解決長時(shí)間工作后，芯片性能(速度)下降的問題，現(xiàn)有技術(shù)中，一般采取過度設(shè)計(jì)的方法來保證芯片在老齡化之后仍然能夠工作在想要的頻率上，即將與延時(shí)相關(guān)的參數(shù)進(jìn)行過度設(shè)計(jì)，以此滿足電路老齡化的需求，然而過度的參數(shù)值，會(huì)使器件所占面積和/或功耗增大，這樣，導(dǎo)致芯片成本較高。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種電路優(yōu)化方法、裝置、電子設(shè)備和可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，便于降低芯片成本。

第一方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種電路優(yōu)化方法，包括：在老齡化時(shí)序違例的電路中，確定待替換器件；基于所述待替換器件的第一參數(shù)，確定第一候選器件集合；其中，所述第一參數(shù)為與延時(shí)相關(guān)的參數(shù)，所述第一候選器件集合中的各候選器件的功能與所述待替換器件的功能相同，且所述各候選器件的第一參數(shù)的參數(shù)值與所述待替換器件的第一參數(shù)的參數(shù)值相同；基于所述各候選器件的老齡化延時(shí)信息和所述待替換器件的非老齡化延時(shí)信息，在所述各候選器件中確定替換器件；使用所述替換器件替換所述待替換器件。

根據(jù)本申請(qǐng)實(shí)施例的一種具體實(shí)現(xiàn)方式，所述在老齡化時(shí)序違例的電路中，確定待替換器件，包括：獲取老齡化時(shí)序違例的電路中各器件的老齡化延時(shí)信息；根據(jù)所述各器件的老齡化延時(shí)信息中的延時(shí)值，將延時(shí)值最大的器件確定為待替換器件。

根據(jù)本申請(qǐng)實(shí)施例的一種具體實(shí)現(xiàn)方式，所述第一參數(shù)包括尺寸和/或閾值電壓。

根據(jù)本申請(qǐng)實(shí)施例的一種具體實(shí)現(xiàn)方式，所述基于所述各候選器件的老齡化延時(shí)信息和所述待替換器件的非老齡化延時(shí)信息，在所述各候選器件中確定替換器件，包括：基于所述各候選器件的老齡化延時(shí)值與所述待替換器件的非老齡化延時(shí)值的差值最小化原則，在所述各候選器件中確定替換器件；或者，基于所述各候選器件的老齡化延時(shí)值與所述待替換器件的非老齡化延時(shí)值的差值，與所述各候選器件的第二參數(shù)的參數(shù)值的乘積最小化原則，在所述各候選器件中確定替換器件；其中，所述第二參數(shù)包括面積和/或功耗。

根據(jù)本申請(qǐng)實(shí)施例的一種具體實(shí)現(xiàn)方式，所述各候選器件的老齡化延時(shí)值與所述待替換器件的非老齡化延時(shí)值的差值，根據(jù)如下步驟確定：確定所述各候選器件的非老齡化延時(shí)值與所述待替換器件的非老齡化延時(shí)值的第一差值；確定所述各候選器件的老齡化延時(shí)值與非老齡化延時(shí)值的第二差值；將所述第一差值和所述第二差值相加，得到所述各候選器件的老齡化延時(shí)值與所述待替換器件的非老齡化延時(shí)值的差值。

根據(jù)本申請(qǐng)實(shí)施例的一種具體實(shí)現(xiàn)方式，在使用所述替換器件替換所述待替換器件之后，所述方法還包括：判斷所述替換器件替換所述待替換器件后形成的第一電路是否滿足老齡化時(shí)序要求；如果所述第一電路滿足老齡化時(shí)序要求，則結(jié)束流程；如果所述第一電路不滿足老齡化時(shí)序要求，則繼續(xù)執(zhí)行所述在老齡化時(shí)序違例的電路中，確定待替換器件的步驟。