[發明專利]一種基于V-NIR和XRF識別碳酸巖型REE礦床礦化帶的方法

有效

• 申請號: 202110697939.8
• 申請日: 2021-06-23
• 公開（公告）號: CN113433152B
• 公開（公告）日: 2023-03-07
• 發明（設計）人: 郭東旭;史維鑫;高卿楠;李秋玲;張海蘭;葛天助
• 申請（專利權）人: 自然資源實物地質資料中心
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223;G01N21/25;G01N21/84;G01N1/28
• 代理公司: 北京細軟智谷知識產權代理有限責任公司 11471
• 代理人: 趙洋洋

1.一種基于V-NIR和XRF識別碳酸巖型REE礦床礦化帶的方法，其特征在于，所述的方法包括如下步驟：

(1)選定需要測試礦區的典型樣品，采用正交偏光顯微鏡和XRD方法確定所述典型樣品的礦物組成，進而根據所述的礦物組成對所述的典型樣品進行分類；

(2)基于步驟(1)中典型樣品的分類，通過V-NIR光譜分析典型樣品在特征吸收峰處的原始反射率、去包絡線反射率和相對吸收深度，建立樣品光譜匹配庫，得到典型樣品的光譜數據特征，根據所述的光譜數據特征判定未知屬性的測試樣品是否礦化；

(3)通過XRF采集典型樣品的元素含量，歸納典型樣品的元素含量數據特征，根據所述的元素含量數據特征判定未知屬性的測試樣品是否礦化；

(4)若步驟(2)和(3)至少一個條件判定測試樣品礦化，則測試樣品為礦石樣品，否則為巖石樣品。

2.根據權利要求1所述的一種基于V-NIR和XRF識別碳酸巖型REE礦床礦化帶的方法，其特征在于，步驟(1)中典型樣品分為礦石樣品和巖石樣品。

3.根據權利要求2所述的一種基于V-NIR和XRF識別碳酸巖型REE礦床礦化帶的方法，其特征在于，所述的礦石樣品包括方解石脈型礦石、天青石螢石脈型礦石、天青石方解石脈型礦石、角礫巖型礦石和天青石金云母脈型礦石，所述的巖石樣品包括石英閃長巖、霓長巖和英堿正長巖。

4.根據權利要求1所述的一種基于V-NIR和XRF識別碳酸巖型REE礦床礦化帶的方法，其特征在于，步驟(2)中光譜數據特征是將HyLogger型巖心光譜掃描儀采集到的原始圖像和光譜數據導入地質解譯軟件TSG，通過本次采集到的光譜數據，總結獲取特征吸收峰的位置。

5.根據權利要求4所述的一種基于V-NIR和XRF識別碳酸巖型REE礦床礦化帶的方法，其特征在于，REE含量較高的礦石樣品在TSG軟件中的特征吸收峰位置分別為512nm、524nm、580nm、676nm、740nm、800nm、864nm和892nm，利用光譜地質解譯軟件中相關算法，分別獲取典型樣品在上述特征吸收峰處的原始反射率、去包絡線反射率和相對吸收深度，進而歸納總結并建立巖石樣品和礦石樣品在上述特征吸收峰處的原始反射率、去包絡線反射率和相對吸收深度的特征規律，以便對未知屬性的測試樣品是否礦化進行判別。

6.根據權利要求5所述的一種基于V-NIR和XRF識別碳酸巖型REE礦床礦化帶的方法，其特征在于，將典型樣品在特征吸收峰位置測定的原始反射率分成512nm和892nm、524nm和864nm、580nm和800nm、676nm和740nm四組，根據每組測定的原始反射率做散點圖，所述的散點圖上分為礦石區、巖石區和重疊區，若測試樣品測定的原始反射率的投落點在礦石區，則測試樣品為礦石，若測試樣品測定的原始反射率的投落點在巖石區，則測試樣品為巖石，若測試樣品測定的原始反射率的投落點在重疊區，則參考其他方法判斷。

7.根據權利要求5所述的一種基于V-NIR和XRF識別碳酸巖型REE礦床礦化帶的方法，其特征在于，測定測試樣品在512nm和524nm處的去包絡線反射率，若測試樣品在512nm的去包絡線反射率Hul512＜0.997或在524nm處的去包絡線反射率Hul524＜0.997，則測試樣品為礦石樣品，否則為巖石樣品。

8.根據權利要求5所述的一種基于V-NIR和XRF識別碳酸巖型REE礦床礦化帶的方法，其特征在于，測定測試樣品在所述特征吸收峰處的相對吸收深度，當測試樣品的相對深度滿足至少一個下述的條件：Dep5120.002、Dep5240002、Dep5800.002、Dep6760.002、Dep7400.004、Dep8000.006、Dep8640.004、Dep8920.002，則測試樣品為礦石，否則為巖石樣品。

9.根據權利要求1所述的一種基于V-NIR和XRF識別碳酸巖型REE礦床礦化帶的方法，其特征在于，步驟(3)中XRF測定測試樣品元素含量滿足La1115×10^-6、Ce1974×10^-6、Y107×10^-6中的至少一個條件，則測試樣品為礦石樣品，否則為巖石樣品。